基本情報
| ブース | R8020 |
| 国 | TW |
| 製品カテゴリ | Thermal Sensing, Measurement, Analysis · Thermal Interface Materials; Heat Sinks · Clean Rooms · CAD - Computer Automated Design · EDA - Electronic Design Automation; Circuit Design · Manufacturing Execution Software (MES) · Simulation; Characterization; Verification Software · CAD; CAM; CIM · Circuit Design; Electronic Design Services (EDS); System Level Design (SLD) · Clean Room; Contamination Control · Equipment; Hardware; Product Design, Integration and Manufacturing · Package Simulation; Characterization Services · Software Programming; Software Development · Test Services or Consulting |
| ウェブサイト | www.efd.com.tw |
会社概要
当社は、LED、ロジック IC、ダイオード、MOSFET、IGBT 向けの熱抵抗測定装置およびサービスを提供しています。また、高電力デバイス向けにパワーサイクル試験サービスも提供しています。
展示製品
炭化ケイ素（SiC）JFET Cascode、Simcenter T3Ster、MicReD Power Tester、FloEFD、FloTHERMなどの事例を通じ、パワーデバイスおよび半導体パッケージの熱特性評価を紹介します。SiC JFET Cascodeはワイドバンドギャップ半導体のスイッチング特性とSi MOSFETの柔軟性・耐久性を兼ね備え、従来パワーデバイスの置換や次世代電力変換器設計に適しています。T3SterはLED、IC、Stacked-die、SIPなどの過渡熱特性を数分で測定でき、IGBTモジュールの水冷板性能、GaN HEMTの熱挙動、Power MOSFETのRthjb・Rthja、ショットキーダイオードの熱抵抗測定などに使用されます。MicReD Power Testerはパワーサイクル中の故障進行をリアルタイムで記録・診断します。T3Ster測定データを熱シミュレーションやCFDモデル校正に活用することで、LED放熱設計、電源製品開発、パワーエレクトロニクス信頼性評価を高精度化できます。
対応領域・製品
- Logic IC 向け熱抵抗測定装置
- MOSFET および IGBT デバイス向け熱抵抗測定サービス
- 高出力デバイス向けパワーサイクル試験サービス