기본 정보
| 부스 | J2634 |
| 국가 | KR |
| 웹사이트 | www.di.co.kr |
회사 소개
DI Corporation은 도전, 창조, 혁신을 기반으로 tester solution을 제공하는 반도체 테스트 장비 제조업체로 자사를 설명합니다. 회사는 반도체 테스트 장비 역량을 축적해 왔으며 여러 종류의 반도체 관련 장비를 제조하고 공급한다고 밝힙니다. 제품군에는 Multi Flexibility Tester, Test Burn-In Tester, Monitoring Burn-In Tester, LED Burn-In & Test System, Logic Burn-In Tester, MLCC Burn-In Tester, Memory & Logic Burn-In Board가 포함됩니다. 구체적인 tester 모델은 Multi Flexibility Tester의 DM1900ENGR와 DM1900N/N2, Test Burn-In Tester의 AF8862C7H3와 DM8827C7H3, Monitoring Burn-In Tester의 DM1400와 DM1600C, LED Burn-In & Test System의 DP4100입니다. Logic Burn-In Tester에는 DL1100A, DL800F, DL601H V16, DL602A, DL602AC, DL612AM, DL601H2M이 있고, MLCC Burn-In Tester에는 DQ410N이 있습니다. Burn-in board 제품은 Memory용과 Logic용을 포함합니다. DI Corporation은 무당벌레를 기업 상징으로 선택했으며, 귀중한 작물을 해치는 곤충을 잡아먹어 인류에 유용하고 예로부터 행운을 상징해 왔다는 점을 선택 이유로 설명합니다. 회사는 축적된 반도체 테스트 장비 역량을 바탕으로 글로벌 시장에서의 역할을 확대하고 반도체 관련 장비 제조와 공급을 계속한다고 밝힙니다. 사업 방향에서는 도전을 받아들이고 혁신을 추진하면서 반도체 테스트 장비 역량을 구축하는 방식을 강조합니다.
전시 제품
AF8652는 고정밀·고성능 memory IC Test & Burn-in Solution으로, 작은 크기에 추가 capacity와 I/O pins를 제공합니다. DI Corporation은 AF8652가 고온과 저온 환경 모두에서 생산성 향상을 위해 설계되었다고 설명합니다. DM3500은 wafer-level burn-in system으로 Wafer Business와 K.G.D.(Known Good Die) 제조에 사용됩니다. 회사는 DM3500이 DDP, MCP, SIP의 수율을 높일 수 있으며 비용 효율성을 강조한다고 설명합니다. 주력 제품인 burn-in tester와 burn-in board는 wafer state의 웨이퍼 또는 패키징된 칩에 전기적 신호와 고온·저온 stress-test process를 가하는 반도체 검사 장비입니다. 이러한 burn-in process를 통해 반도체 기능의 내구성과 신뢰성을 검증합니다. DI Corporation은 반도체 제조 수율 향상, package burn-in 시간 단축, 제품 신뢰성의 조기 확보를 효과로 제시합니다. 또한 Main Tester 일부 기능 수행, lead time 단축, 장비 대체 효과를 통한 생산비용 절감도 가능하다고 설명합니다. DI Corporation의 전체 제품 범위는 memory 및 wafer-level burn-in 시스템과 함께 monitoring, logic, LED, MLCC burn-in tester, memory 및 logic burn-in board를 포함합니다.
역량 및 제품
- 메모리 IC 테스트 및 번인 시스템
- 웨이퍼 레벨 번인 시스템
- 모니터링 번인 테스터
- LED 번인 및 테스트 시스템
- 로직 IC 번인 테스터
- MLCC 번인 테스터
- 메모리 및 로직 IC 번인 보드
- 다기능 반도체 테스터