基本資料
| 攤位 | J2634 |
| 國別 | KR |
| 網站 | www.di.co.kr |
公司簡介
DI Corporation 將自身定位為半導體測試設備製造商，以挑戰、創造與創新為基礎提供 tester 解決方案。 公司表示已累積半導體測試設備能力，並製造與供應多種類型的半導體相關設備。 產品家族包括 Multi Flexibility Tester、Test Burn-In Tester、Monitoring Burn-In Tester、LED Burn-In & Test System、Logic Burn-In Tester、MLCC Burn-In Tester，以及 Memory & Logic Burn-In Board。 具名 tester 型號包括 Multi Flexibility Tester 的 DM1900ENGR 與 DM1900N/N2、Test Burn-In Tester 的 AF8862C7H3 與 DM8827C7H3、Monitoring Burn-In Tester 的 DM1400 與 DM1600C，以及 LED Burn-In & Test System 的 DP4100。 Logic Burn-In Tester 系列列有 DL1100A、DL800F、DL601H V16、DL602A、DL602AC、DL612AM 與 DL601H2M，MLCC Burn-In Tester 則列有 DQ410N。 Burn-in board 產品包括 Memory 用 Burn-in board 與 Logic 用 Burn-in board。 DI Corporation 選擇瓢蟲作為企業象徵，並以瓢蟲會捕食危害農作物的昆蟲且自古常被視為好運象徵，說明此一設計選擇。 公司表示將運用累積的半導體測試設備能力拓展全球市場，並持續製造與供應半導體相關設備。 其發展方式強調接受挑戰與推動創新，同時持續建構半導體測試設備能力。
展出產品
AF8652 是高精度、高效能 memory IC Test & Burn-in Solution，採小型尺寸設計，並增加 capacity 與 I/O pins。 DI Corporation 表示 AF8652 用於提升高溫與低溫操作下的生產力。 DM3500 是 wafer-level burn-in system，用於 Wafer Business 與 K.G.D.（Known Good Die）製造。 公司表示 DM3500 可提升 DDP、MCP 與 SIP 的良率，並強調成本效益。 主力產品 burn-in tester 與 burn-in board 是半導體檢查設備，會對 wafer state 的晶圓或已封裝晶片施加電氣訊號，以及高溫或低溫的 stress-test process。 這些 burn-in process 用於驗證半導體功能的耐久性與可靠性。 DI Corporation 表示此類設備可帶來半導體製造良率提升、縮短 package burn-in 時間，並提早確保產品可靠性。 公司亦表示設備可執行 Main Tester 的部分功能、縮短 lead time，並藉由設備替代效果降低生產成本。 DI Corporation 的整體產品範圍以 monitoring、logic、LED 與 MLCC burn-in tester，以及 memory 與 logic burn-in board 補充 memory 與 wafer-level burn-in 系統。
能力與產品項目
- 記憶體 IC 測試與老化測試系統
- 晶圓級老化測試系統
- 監控式老化測試機
- LED 老化與測試系統
- 邏輯 IC 老化測試機
- MLCC 老化測試機
- 記憶體與邏輯 IC 老化測試板
- 多功能半導體測試機