基本情報
| ブース | J2634 |
| 国 | KR |
| ウェブサイト | www.di.co.kr |
会社概要
DI Corporation は、挑戦、創造、革新を基盤に tester ソリューションを提供する半導体テスト装置メーカーとして自社を位置付けています。半導体テスト装置に関する能力を蓄積し、各種半導体関連装置を製造・供給しているとしています。製品群には Multi Flexibility Tester、Test Burn-In Tester、Monitoring Burn-In Tester、LED Burn-In & Test System、Logic Burn-In Tester、MLCC Burn-In Tester、Memory & Logic Burn-In Board があります。具体的な tester 型式として、Multi Flexibility Tester の DM1900ENGR と DM1900N/N2、Test Burn-In Tester の AF8862C7H3 と DM8827C7H3、Monitoring Burn-In Tester の DM1400 と DM1600C、LED Burn-In & Test System の DP4100 を掲載しています。Logic Burn-In Tester には DL1100A、DL800F、DL601H V16、DL602A、DL602AC、DL612AM、DL601H2M があり、MLCC Burn-In Tester には DQ410N があります。Burn-in board は Memory 用と Logic 用の両方を展開しています。DI Corporation はテントウムシを企業シンボルに選び、作物を害する昆虫を捕食して人に役立つことと、古くから幸運の象徴とされてきたことを選定理由として説明しています。蓄積した半導体テスト装置の能力を基盤にグローバルな展開を目指し、半導体関連装置の製造・供給を継続するとしています。事業の進め方では、挑戦を受け入れ革新を推進しながら半導体テスト装置の能力を築く姿勢を強調しています。
展示製品
AF8652 は高精度・高性能の memory IC Test & Burn-in Solution で、小型設計に追加 capacity と I/O pins を備えます。DI Corporation は AF8652 が高温および低温動作時の生産性向上を目的としていると説明しています。DM3500 は wafer-level burn-in system で、Wafer Business と K.G.D.（Known Good Die）の製造に使用されます。DM3500 は DDP、MCP、SIP の歩留まりを向上でき、コスト効率も重視するとしています。主力の burn-in tester と burn-in board は、wafer state のウェーハまたはパッケージ済みチップに電気信号と高温・低温の stress-test process を加える半導体検査装置です。これらの burn-in process により半導体機能の耐久性と信頼性を検証します。DI Corporation は、半導体製造歩留まりの向上、package burn-in 時間の短縮、製品信頼性の早期確保を効果として挙げています。さらに Main Tester の一部機能を実行し、lead time を短縮し、装置代替効果によって生産コストを削減できるとしています。DI Corporation の製品範囲では memory と wafer-level burn-in に加え、monitoring、logic、LED、MLCC burn-in tester、および memory と logic burn-in board を展開しています。
対応領域・製品
- メモリICテスト・バーンインシステム
- ウェーハレベルバーンインシステム
- モニタリング型バーンインテスタ
- LEDバーンイン・テストシステム
- ロジックICバーンインテスタ
- MLCCバーンインテスタ
- メモリ・ロジックICバーンインボード
- 多機能半導体テスタ