基本情報
| ブース | N1076 |
| 国 | TW |
| 製品カテゴリ | Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection · Die Inspection; Die Shear · Film Thickness; Thickness; Uniformity Measurement; Ellipsometer · Flat; Notch Finding System · Line Width; Critical Dimension (CD) Measurement · Plate Inspection Equipment · Inspection and Metrology · Integration and Automation · Optical Test Systems · Package Test Systems |
| ウェブサイト | www.cmi-tw.com.tw |
会社概要
Cheng Mei Instrument Technology（CMIt）は1995年以来、化合物半導体、半導体、microLED、mmLED、LED向けに表面検査および3次元測定装置の製造自動化を提供してきました。当社はウェハ／ダイの複雑な欠陥や難易度の高い特徴に対応し、最良のコストパフォーマンス（CP値）ときめ細やかなサービスにより、お客様に大きなメリットをもたらします。CMItの表面検査装置には複数のシリーズがあり、優れた光学性能、高い信頼性、高いスループット（WPH）を実現します。当社は光学、計測、オートメーションシステムなど複数のソリューションを組み合わせ、操作をより簡単かつ迅速にします。当社の研究開発チームは従業員全体の50%以上を占めており、現在のあらゆる課題を克服するという大きな志と、お客様とともに成長したいという強い願いを示しています。
対応領域・製品
- compound Semiconductor、Semi、microLED、mmLED、LED 向け表面検査装置
- ウェハおよび die の複雑欠陥検査
- ウェハおよび die 形状向け 3D 測定装置
- 光学表面検査システム
- 検査装置向け計測および自動化システム