基本資料
| 攤位 | N1076 |
| 國別 | TW |
| 產品分類 | Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection · Die Inspection; Die Shear · Film Thickness; Thickness; Uniformity Measurement; Ellipsometer · Flat; Notch Finding System · Line Width; Critical Dimension (CD) Measurement · Plate Inspection Equipment · Inspection and Metrology · Integration and Automation · Optical Test Systems · Package Test Systems |
| 網站 | www.cmi-tw.com.tw |
公司簡介
自1995年起，Cheng Mei Instrument Technology（CMIt）即為化合物半導體、一般半導體、microLED、mmLED 與 LED 提供表面檢測與3D量測設備的製造自動化方案。我們解決晶圓／晶粒的複雜缺陷與具挑戰性的特徵，以最佳的性價比（CP值）與貼心的服務為客戶創造可觀效益。CMIt 的表面檢測設備包含多種系列，提供優異的光學性能、高可靠度與優異的每小時產出（WPH）。我們結合光學、計量與自動化系統等多項解決方案，使操作更簡便、更快速。我們的研發團隊佔全體員工逾50%，展現我們克服當前所有挑戰的雄心，以及與客戶共同成長的願景。
能力與產品項目
- compound semiconductor、Semi、microLED、mmLED 與 LED 表面檢查設備
- 光學表面檢查系統
- 晶圓與 die 特徵 3D 量測設備
- 晶圓與 die 複雜缺陷檢查
- 檢查設備用量測與自動化系統