기본 정보
| 부스 | S8130 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | centrumtw.com |
회사 소개
회사 소개 – Centrum Technology Corporation는 2006년 설립 이래 장비 기술 고도화를 지속적으로 추진하며 고정밀 검사 기술에 집중해 안정적이고 효율적인 장비 솔루션을 제공합니다. 자동화 지능형 검사와 초정밀 장비 기술을 구축하여 모든 세부 요소가 최적의 상태에 도달하도록 합니다. 장비는 공정 효율을 높일 뿐만 아니라 정밀 위치 결정, 안정적인 운전 및 AI 지능화를 구현하여 제조 공정을 더욱 신뢰성 높고 지능적으로 만듭니다. 본사는 대만 타오위안에 위치하며 해외 여러 거점을 운영하고 있고, 스마트 장비 네트워킹과 실시간 지원을 통해 전 세계 고객에게 효율적이고 안정적인 기술 서비스를 제공합니다.
전시 제품
AI 칩과 첨단 패키징으로 IC 기판의 층수가 증가함에 따라 블라인드 비아 품질이 신호 무결성, 도통 안정성 및 제품 신뢰성에 미치는 영향이 더욱 뚜렷해지고 있습니다. 블라인드 비아 바닥의 잔류물, 비아 형성 이상 또는 공정 편차가 즉시 검출되지 않으면 후속 전기적 이상, 신호 손실 또는 최종 응용 제품의 고장으로 이어질 수 있습니다. 기존 블라인드 비아 검사 장비는 스캔 속도의 제약으로 인해 양산 조건에서 전수 검사를 지원하기 어렵습니다. Centrum Technology의 블라인드 비아 검사 장비는 ABF 기판, CCL 및 PCB 등의 재료를 대상으로 고속 블라인드 비아 바닥 AOI 검사 기능을 제공하며, 스캔 속도는 최대 300 mm/s에 달해 고객의 전수 검사 효율 향상을 지원합니다. 이 솔루션은 고밀도 기판 공정에서 고객이 블라인드 비아 품질을 실시간으로 파악할 수 있도록 하며, 미세 결함이 후공정으로 유입될 위험을 줄이고 AI 고속 연산 제품에 필요한 신호 신뢰성과 양산 품질 관리를 강화합니다. 첨단 비전 알고리즘: 미세한 블라인드 비아 바닥 결함과 잔류물을 정량적으로 식별하도록 특별히 설계되었습니다.
역량 및 제품
- 고정밀 자동화 지능형 검사 장비
- ABF/CCL/PCB 블라인드 비아 하부 AOI 검사
- 최대 300 mm/s 블라인드 비아 스캔 검사
- 미세 블라인드 비아 바닥 결함 및 잔류물 정량 식별