기본 정보
| 부스 | N1282 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.Bruker.com/Nano |
회사 소개
Bruker Nano Surfaces는 연구 및 생산을 위한 핵심 표면 분석 장비를 제공합니다. AFM, 3D 광학 프로파일러부터 나노기계 시험기와 트라이보미터에 이르는 폭넓은 응용 중심 장비는 후공정, 전공정 반도체, MEMS 제조 및 IC 패키징 분야에서 우수한 반복성과 정확도로 R&D, 공정 개발 및 제조 요구를 지원합니다. 어떤 표면 측정 및 표면 분석 요구에도 Bruker는 고성능 솔루션을 제공합니다. Bruker AFM 및 3D Optical Solutions에 대해 자세히 알아보려면 www.Bruker.com/Nano를 방문하십시오.
전시 제품
Bruker는 반도체, 재료과학, 생명과학 및 산업용 응용 전반의 표면 및 재료 특성 분석을 위한 첨단 도구를 제공합니다. 당사 포트폴리오에는 원자간력 현미경(AFMs), nanoIR 분광기, 스타일러스 및 광학 프로파일러, 타원측정 및 반사율 측정 시스템, 인시투 및 독립형 나노기계 시험기, 기계적 및 마찰학적 시험기, 그리고 포괄적인 반도체 연구 및 제조 도구 제품군이 포함됩니다. 당사 장비는 초기 단계 연구부터 고처리량 생산에 이르기까지 광범위한 R&D, QA/QC, 공정 모니터링, 재료 개발 및 기타 재료 분석 요구를 지원합니다. 정밀도와 사용 편의성을 위해 설계되어 가장 까다로운 환경에서도 매우 정확하고 신뢰할 수 있는 데이터를 제공합니다. Bruker는 수십 년간의 자체 개발을 통해 업계 표준을 수립하며 표면 분석 혁신을 이끌어온 오랜 역사를 보유하고 있습니다. 당사 카탈로그는 다른 어떤 공급업체보다 더 많은 독자 기술을 포함하고 있으며, 실제 현장의 과제를 바탕으로 도구를 개발하여 표준 제품을 넘어서는 기능과 빠르게 변화하는 산업을 선도할 수 있는 민첩성을 제공합니다. Bruker 시스템은 유연성을 염두에 두고 구축되어 다양한 표면, 시료 유형 및 워크플로를 지원합니다. 모듈식 설계, 업그레이드 경로, 폭넓은 액세서리 및 다양한 운전 모드를 통해 사용자는 변화하는 요구에 맞춰 장비를 구성할 수 있습니다. 이러한 적응성은 팀이 생산성과 확장성을 유지하고 빠르게 변화하는 산업의 최전선에 머무는 데 도움이 됩니다. PeakForce Tapping® 기술로만 구동되는 Bruker의 재료 연구용 원자간력 현미경은 연구자들이 새로운 나노기계, 나노전기 및 나노전기화학 연구를 발전시키도록 지원하며, 동료 심사를 거쳐 출판되는 논문이 하루 세 편 수준에 이릅니다. DIMENSION FASTSCAN AFM - 측정 품질을 잃지 않고 빠르게 스캔하도록 설계된 가장 빠른 상용 AFM입니다. DIMENSION ICON AFM - 독보적인 응용 유연성과 분해능으로 신뢰받는 Bruker의 플래그십 AFM입니다. DIMENSION NEXUS AFM - 더 낮은 소유 비용으로 제공되는 고급 성능으로, 타협 없는 유연성을 제공합니다. DIMENSION XR - 나노기계, 나노전기 및 전기화학 응용을 위한 턴키 대형 시료 AFM입니다.
역량 및 제품
- 원자힘 현미경 AFM
- 3D 광학 프로파일러
- nanoIR 분광기
- 스타일러스 프로파일러
- 타원편광 및 반사율 측정 시스템
- 나노기계 시험기
- 마찰·마모 시험기
- 원위치 나노역학 시험
- PeakForce Tapping® AFM 기술