基本資料
| 攤位 | N1282 |
| 國別 | TW |
| 產品分類 | Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection · Film Thickness; Thickness; Uniformity Measurement; Ellipsometer · Microscopes: Atomic Force Microscopes (AFM) · Microscopes: Confocal Scanning Microscope; 3-D Video Microscopes · Microscopes: Optical Microscopes · Stress; Refractive Index; Reflectivity & Conductivity Measurement · Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation · Wire Bonding Inspection; Test · Equipment, Nanotechnology Tools · Inspection and Metrology · Optical Test Systems · Wireless, non-contact Test Systems · Materials, Nanotechnology |
| 網站 | www.Bruker.com/Nano |
公司簡介
Bruker Nano Surfaces 為研究與生產提供關鍵的表面分析儀器。我們種類廣泛、聚焦應用的儀器（從 AFM、3D 光學輪廓儀到奈米力學測試儀與摩擦計）以良好的重現性與準確性，支援後段、前段半導體、MEMS 製造及 IC 封裝的研發、製程開發與製造需求。無論您的表面量測與表面分析需求為何，Bruker 都能為您提供高效能的解決方案。歡迎造訪 www.Bruker.com/Nano，進一步了解 Bruker AFM 與 3D 光學解決方案。
能力與產品項目
- AFM 表面分析儀器
- IC 封裝用表面分析
- MEMS 製造用表面分析
- Nano-Mechanical Testers
- Tribometers
- 半導體前段與後段製造用表面分析
- 表面量測用 3D Optical Profilers