基本情報
| ブース | N1282 |
| 国 | TW |
| 製品カテゴリ | Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection · Film Thickness; Thickness; Uniformity Measurement; Ellipsometer · Microscopes: Atomic Force Microscopes (AFM) · Microscopes: Confocal Scanning Microscope; 3-D Video Microscopes · Microscopes: Optical Microscopes · Stress; Refractive Index; Reflectivity & Conductivity Measurement · Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation · Wire Bonding Inspection; Test · Equipment, Nanotechnology Tools · Inspection and Metrology · Optical Test Systems · Wireless, non-contact Test Systems · Materials, Nanotechnology |
| ウェブサイト | www.Bruker.com/Nano |
会社概要
Bruker Nano Surfaces は、研究および生産向けの重要な表面分析機器を提供しています。AFM、3D 光学プロファイラーからナノメカニカルテスター、トライボメーターまで、用途に特化した幅広い機器が、良好な再現性と精度をもって、後工程・前工程の半導体、MEMS 製造、および IC パッケージングの研究開発、プロセス開発、製造ニーズをサポートします。表面測定・表面分析のニーズが何であれ、Bruker は高性能なソリューションをご提供します。www.Bruker.com/Nano にて、Bruker AFM および 3D 光学ソリューションについて詳しくご覧ください。
対応領域・製品
- AFM 表面分析装置
- IC パッケージング向け表面分析
- MEMS 製造向け表面分析
- Nano-Mechanical Testers
- Tribometers
- 半導体前工程および後工程製造向け表面分析
- 表面測定向け 3D Optical Profilers