基本情報
| ブース | Q5658 |
| 国 | KR |
| 製品カテゴリ | Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection · Overlay Measurement · Process Controls |
| ウェブサイト | www.aurostech.com |
会社概要
2009 年に設立された AUROS Technology, Inc. は、半導体のあらゆるプロセス向けの計測装置の製造を専門としています。2011 年、当社は国内で初めてオーバーレイ計測装置の量産に成功し、グローバル半導体市場の主要顧客に当社の技術を供給してきました。AUROS Technology, Inc. は専門評価機関の技術評価ですでに優秀な等級を取得し、素材・部品・装置に関する隠れたチャンピオン（small hidden champion）に選定されることで計測装置分野で認められてきました。当社は先進技術を基盤に、オーバーレイ計測を強化し将来お客様に最良のソリューションを提供するため、その他の新しい計測・検査装置の開発に努めてきました。AUROS Technology の中核的価値において極めて重要な側面である創造性と挑戦の精神に基づき、当社は現在グローバル競合他社が支配している市場を奪取し、世界のどこでも評価される製品の開発を通じて国内およびグローバルの半導体市場に大きく貢献することをお約束します。
対応領域・製品
- overlay metrology 装置
- プロセス制御装置
- 半導体プロセス測定装置
- 欠陥、粒子、バンプ、汚染検査装置
- 測定および検査装置