基本資料
| 攤位 | Q5658 |
| 國別 | KR |
| 產品分類 | Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection · Overlay Measurement · Process Controls |
| 網站 | www.aurostech.com |
公司簡介
AUROS Technology, Inc. 創立於 2009 年，專精於生產適用於半導體所有製程的量測設備。2011 年，我們在國內首次成功量產疊對量測（overlay metrology）設備，並持續向全球半導體市場的主要客戶供應我們的技術。AUROS Technology, Inc. 已在某專業評鑑機構的技術評估中取得優等等級，並因獲選為材料、零組件與設備領域的隱形冠軍而在量測設備領域備受肯定。基於我們的先進技術，我們一直致力於開發其他新的量測與檢測設備，以強化疊對量測並在未來為客戶提供最佳解決方案。秉持創意與挑戰精神——這是 AUROS Technology 核心價值中至關重要的一環——我們承諾接手目前由全球競爭者主導的市場，並透過開發在世界任何地方都受讚賞的產品，為國內與全球半導體市場做出重大貢獻。
能力與產品項目
- overlay metrology 量測設備
- 半導體製程量測設備
- 缺陷、微粒、凸塊與污染檢查設備
- 製程控制設備
- 量測與檢查設備