기본 정보
| 부스 | K3184 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.amidatec.com/EN |
회사 소개
AMIDA Technology,Inc.는 2002년에 설립되어 반도체 테스트 계측기와 시스템 기술 개발을 중심으로 Power IC testing systems, Mixed Signal IC testing systems, 고출력 테스트 시스템을 반도체 제조사에 제공합니다. 고출력 테스트 범위에는 MOSFET, IPM, IGBT, SiC, GaN이 포함되며 광학 반도체 분야에서는 CIS, camera modules, lenses의 고처리량 검사를 위한 CMOS image-sensor module 테스트 솔루션을 제공합니다. VCSEL 및 LiDAR wafer measurement systems와 TOF test resolution도 개발해 광학 센싱 소자까지 측정 범위를 확장합니다. 기술팀은 장비와 시스템 설계 경험이 풍부하고 고객 서비스를 중시하며 analog IC testing에서 mixed-signal measurement까지 개발합니다. 회사는 동급 장비 대비 넓은 테스트 범위, 높은 안정성, 빠른 테스트 속도, 강한 측정 능력과 비용 경쟁력을 강조합니다. AMIDA-3001XP는 2세대 제품으로 정확도와 안정성을 유지하면서 테스트 비용을 낮추고 속도를 크게 높이도록 설계되었으며 High Pin Count 모듈과 고전압·고전류 모듈을 추가했습니다. 최신 세대 AMIDA-5000 Tester는 병렬 테스트 속도와 고급 칩 성능을 개선해 테스트 시스템 발전의 새로운 이정표가 되었습니다. 국내 설치 2,000세트 이상, 단일 고객 200대 이상 실적을 제시하며 완전한 고객 서비스와 긴밀한 고객 관계를 강조합니다. 고객에는 아시아 주요 반도체 및 디지털카메라 제조사가 포함되며 반도체 및 광학 산업 전자 테스트·계측 분야의 장기 전략 파트너를 지향합니다. 사무실은 타이베이 Chung-Ho Far East Century Park에 있으며 20년이 넘는 고객 중심 지속 연구개발이 기술력과 비용 효율적인 제품의 기반이라고 설명합니다. 특정 테스트 및 계측 요구에 맞춘 하드웨어·소프트웨어 통합 솔루션, 납기 준수, 엄격한 품질, 고객과의 미래 요구 공동 정의도 제시합니다.
전시 제품
AMIDA ATI-36XP High Power Discrete Tester는 MOSFET, IGBT, SiC, GaN, IPM을 포함한 Power IC용 다기능 테스트 시스템입니다. AMIDA-5000은 고급 analog 및 mixed-signal solution으로 analog, mixed-signal, logic, PA testing을 결합해 엔지니어링 검증과 양산을 지원합니다. AMIDA-5000 구조는 최대 512개의 smart multifunction pin structures와 128 stations를 포함하고 parallel testing을 지원하며 주요 wafer probers와 handlers에 연결할 수 있습니다. Power-management, mobile-device, analog, mixed-signal, digital IC, PA 응용에서 high-precision, high-resolution, high-reliability, 저비용 테스트와 사용이 편리한 인터페이스를 제공합니다. AMIDA-3001XP는 테스트 시스템 모듈당 analog channels를 두 배 이상 제공해 병렬 테스트 능력을 높이고 채널 취득 비용과 IC 단위 테스트 비용을 낮춥니다. 내장 real-time protocol detection은 테스트 개발 복잡도를 줄이고 고속 연산을 사용해 테스트 시간을 단축합니다. AMIDA-3KS는 test head의 analog board channels용 6 board-track slots를 제공하며 consumer power-management ICs와 hand-portable product components를 위한 비용 최적화 테스트 솔루션입니다. AMIDA ATI 600은 MOSFET, BJT, diode 등 반도체 부품 전용 테스트 시스템으로 양식 입력과 편집 가능한 프로그램 제어를 통해 CP, FT, 양산 및 연구에서 제품 파라미터를 정확하고 빠르게 측정합니다. AMIDA-400X는 100 ns LiDAR chips를 CP station에서 검사하는 완전 자동 optical-sensor testing system이며 더 넓은 광학 테스트 범위에는 VCSEL과 LiDAR measurement가 포함됩니다. AMIDA 2020XP는 CMOS image sensor 전용 테스터로 image lens modules와 camera lenses의 고처리량 양산 검사를 위해 DC open, short, leakage test, AC pattern test, image test를 통합하고 180-pin high-speed cable을 사용합니다. 사용자는 센서 정의에 따라 측정 요구를 맞춤 설정할 수 있으며 약 20년의 양산 경험을 바탕으로 테스트 시간, 출력, 정확도 요구를 충족한다고 설명합니다. AMIDA VCSEL Tester는 LIV, near-field, far-field measurement systems로 나뉘며 빠르고 안정된 전류 펄스로 VCSEL laser diode를 구동해 광학 및 전기 특성을 측정합니다. 펄스 성능은 LDPMU 100 uS @ 20 A, High Speed Pulser-2PD 10 uS @ 1 A, TOF Module 100 nS @ 10 A입니다. AMIDA ATI-488은 PCI 인터페이스 GPIB card로 IEEE 488.1과 IEEE 488.2를 준수하고 Windows 95, 98, Me, NT4.0, 2000, XP와 Plug & Play를 지원하며 여러 Windows 개발 환경과 NI-like commands를 제공합니다. TMU PCB Module은 dual-channel input, ARM trigger, 내부 40-bit counter를 갖춘 PCI-based Time Interval Counter로 frequency, period, time interval, pulse width 등을 측정합니다. AWG-50은 digitizer가 내장된 단일 채널 PCI-based arbitrary waveform generator로 50 MS/s waveform update rate와 채널당 4 M byte, 선택 사양 16 M byte waveform memory를 제공합니다. 서비스 팀은 load-board layout design, programming support, 전문 analog training, test and measurement consulting, test-chart design, software updates, FAQ support를 제공합니다.
역량 및 제품
- Power IC 테스트 시스템
- 혼합신호 IC 테스트 시스템
- MOSFET/IPM/IGBT/SiC/GaN 고전력 테스트
- CMOS 이미지 센서 모듈 테스트
- VCSEL/LiDAR 웨이퍼 측정
- 100 ns LiDAR 칩 CP 테스트