基本資料
| 攤位 | K3184 |
| 國別 | TW |
| 網站 | www.amidatec.com/EN |
公司簡介
美達科技股份有限公司於 2002 年成立，以半導體測試儀器與系統技術開發為核心，為半導體製造商開發 Power IC 測試系統、Mixed Signal IC 測試系統與高功率測試系統。高功率測試範圍包括 MOSFET、IPM、IGBT、SiC 與 GaN；光學半導體方面則提供 CMOS image-sensor module 測試方案，用於 CIS、camera modules 與 lenses 的高通量檢測。公司也開發 VCSEL 與 LiDAR wafer measurement systems 及 TOF test resolution，使測試與量測能力延伸到光學感測元件。美達科技股份有限公司描述其技術團隊具備豐富設備與系統設計經驗，重視客戶服務，研發範圍從 analog IC testing 延伸到 mixed-signal measurement。公司表示同級設備的系統功能強調較廣測試範圍、高穩定性、快速測試速度、強量測能力與成本優勢。AMIDA-3001XP 作為第二代產品推出，目標是在維持精度與穩定性的同時降低測試成本、提升測試速度，採用 High Pin Count 模組設計，並加入高電壓與高電流模組。最新一代 AMIDA-5000 Tester 以更快平行測試能力與高階晶片效能推出，成為公司測試系統發展的另一個里程碑。美達科技股份有限公司表示國內已安裝超過 2,000 套系統，單一客戶超過 200 台，並強調完整客戶服務與良好互動。公司客戶群包括亞洲主要半導體與數位相機製造商，並將自身定位為半導體與光學產業電子測試與量測領域的長期策略合作夥伴。公司辦公室位於台北中和遠東世紀廣場，並將技術能力與具成本效益的產品歸因於超過二十年的持續客戶導向研發。美達科技股份有限公司也表示會依特定測試與量測需求提供整體解決方案，整合硬體與軟體、遵守承諾交期與嚴格品質要求，並與客戶共同定義未來需求。
展出產品
AMIDA ATI-36XP High Power Discrete Tester 是用於 Power IC 的多功能測試系統，涵蓋 MOSFET、IGBT、SiC、GaN 與 IPM。AMIDA-5000 是進階 analog 與 mixed-signal solution，產品系列結合 analog、mixed-signal、logic 與 PA testing，可用於工程驗證與量產。AMIDA-5000 架構最多包含 512 個 smart multifunction pin structures 與 128 stations，支援 parallel testing，並可連接多種知名 wafer probers 與 handlers。系統面向 power-management、mobile-device、analog、mixed-signal、digital IC 與 PA 應用，強調 high-precision、high-resolution、high-reliability、低成本測試與量測以及便利使用介面。AMIDA-3001XP 的每個測試系統模組提供超過兩倍的 analog channels，可提升 parallel-test capacity，並降低每通道採購成本與 IC 單顆測試成本。內建 real-time protocol detection 可降低測試開發複雜度，並利用高速運算縮短測試時間。AMIDA-3KS 提供 6 個 board-track slots 供 test head 的 analog board channels 使用，定位為 consumer power-management ICs 與 hand-portable product components 的成本最佳化測試方案。AMIDA ATI 600 是 MOSFET、BJT、diode 等半導體元件專用測試系統，透過表格式與可編輯程式控制，快速且準確量測產品參數，可用於 CP、FT 量產測試及元件特性研究。AMIDA-400X 是全自動 optical-sensor testing system，設計用於 100 ns LiDAR chips 的 CP station 測試，公司更廣泛的光學測試能力也涵蓋 VCSEL 與 LiDAR measurement。AMIDA 2020XP 是 CMOS image sensor 專用測試機，提供 image lens modules 與 camera lenses 的高通量量產檢測，整合 DC open、short、leakage test、AC pattern test 與 image test，並透過 180-pin high-speed cable 連接測試端。2020XP 允許使用者依不同 sensor 定義自訂量測需求，公司並以近 20 年量產經驗描述其可滿足測試時間、高產出與精度要求。AMIDA VCSEL Tester 分為 LIV、near-field 與 far-field measurement systems，核心是以快速且穩定的電流脈衝驅動 VCSEL laser diode 發光，再量測光學與電性特性。脈衝能力包括 LDPMU：100 uS pulse width @ 20 A、High Speed Pulser-2PD：10 uS pulse width @ 1 A、TOF Module：100 nS pulse width @ 10 A。AMIDA ATI-488 是 PCI 介面的 GPIB card，符合 IEEE 488.1 與 IEEE 488.2，支援 Windows 95、98、Me、NT4.0、2000、XP 及 Plug & Play，並提供多種 Windows 開發環境與 NI-like commands。TMU PCB Module 是 PCI-based Time Interval Counter，具有 dual-channel input、ARM trigger 與內建 40-bit counter，可量測 frequency、period、time interval、pulse width 等。AWG-50 是單通道 PCI-based arbitrary waveform generator，內建 digitizer，waveform update rate 為 50 MS/s，每通道波形記憶體最高 4 M byte，另有 16 M byte 選配。服務團隊提供 load-board layout design、programming support、專業 analog training、test and measurement consulting、test-chart design、software updates 與 FAQ support。
能力與產品項目
- Power IC測試系統
- 混合訊號IC測試系統
- MOSFET/IPM/IGBT/SiC/GaN高功率測試
- CMOS影像感測器模組測試
- VCSEL/LiDAR晶圓量測
- 100 ns LiDAR晶片CP測試