基本情報
| ブース | K3184 |
| 国 | TW |
| ウェブサイト | www.amidatec.com/EN |
会社概要
AMIDA Technology,Inc.は2002年に設立され、半導体テスト機器とシステム技術の開発を中核に、Power ICテストシステム、Mixed Signal ICテストシステム、高出力テストシステムを半導体メーカー向けに開発しています。高出力テストはMOSFET、IPM、IGBT、SiC、GaNを対象とし、光学半導体ではCIS、camera modules、lensesの高スループット検査向けCMOS image-sensor moduleテストソリューションを提供します。VCSEL・LiDAR wafer measurement systemsとTOF test resolutionも開発し、光学センシングデバイスへ測定範囲を広げています。技術チームは装置・システム設計の豊富な経験を持ち、顧客サービスを重視し、analog IC testingからmixed-signal measurementまで開発を進めています。同等クラスの装置に対して広いテスト範囲、高安定性、高速テスト、強い測定能力、コスト上の優位性を掲げています。AMIDA-3001XPは第2世代製品として、精度と安定性を維持しながらテストコストを下げ、速度を高める設計で、High Pin Countモジュールと高電圧・高電流モジュールを採用しました。最新世代AMIDA-5000 Testerは並列テスト速度と上位チップ性能を高め、テストシステム開発の新たな節目となりました。国内で2,000台以上の設置実績、単一顧客で200台以上の実績を示し、完全な顧客サービスと密接な対話を強調しています。顧客にはアジアの主要半導体・デジタルカメラメーカーが含まれ、半導体・光学産業の電子テスト・計測で長期戦略パートナーを目指します。オフィスは台北のChung-Ho Far East Century Parkにあり、20年以上にわたる顧客重視の継続的R&Dが技術力とコスト効率の高い製品を支えています。個別のテスト・計測要求に合わせたハードウェアとソフトウェア統合ソリューション、納期遵守、厳格な品質、将来ニーズの共同定義も掲げています。
展示製品
AMIDA ATI-36XP High Power Discrete TesterはMOSFET、IGBT、SiC、GaN、IPMを含むPower IC向け多機能テストシステムです。AMIDA-5000は高度なanalog・mixed-signal solutionで、analog、mixed-signal、logic、PA testingを組み合わせ、エンジニアリング検証と量産に対応します。AMIDA-5000は最大512のsmart multifunction pin structuresと128 stationsを備え、parallel testingをサポートし、主要なwafer probersやhandlersへ接続できます。Power-management、mobile-device、analog、mixed-signal、digital IC、PA用途でhigh-precision、high-resolution、high-reliability、低コスト計測と使いやすいインターフェースを提供します。AMIDA-3001XPは各モジュールのanalog channelsを2倍以上にし、並列テスト能力を高め、チャネル取得コストとIC単体テストコストを低減します。内蔵real-time protocol detectionはテスト開発の複雑さを減らし、高速演算でテスト時間を短縮します。AMIDA-3KSはtest head向けanalog board channels用に6 board-track slotsを備え、consumer power-management ICsやhand-portable product components向けのコスト最適化テスタです。AMIDA ATI 600はMOSFET、BJT、diodeなどの半導体部品専用テスタで、フォーム入力と編集可能なプログラム制御によりCP、FT、量産、研究で正確かつ高速にパラメータを測定します。AMIDA-400Xは100 ns LiDAR chipsのCP station向け全自動optical-sensor testing systemで、VCSEL・LiDAR measurementにも対応します。AMIDA 2020XPはCMOS image sensor専用テスタで、image lens modulesやcamera lensesの高スループット量産検査向けにDC open、short、leakage、AC pattern、image testを統合し、180-pin high-speed cableを使用します。センサー定義に応じて測定要求をカスタマイズでき、約20年の量産経験に基づきテスト時間、出力、精度要求へ対応します。AMIDA VCSEL TesterはLIV、near-field、far-fieldの3測定系で構成され、高速で安定した電流パルスでVCSEL laser diodeを駆動して光・電気特性を測定します。パルス仕様はLDPMU 100 uS @ 20 A、High Speed Pulser-2PD 10 uS @ 1 A、TOF Module 100 nS @ 10 Aです。AMIDA ATI-488はPCIインターフェースGPIB cardでIEEE 488.1/488.2に準拠し、Windows 95、98、Me、NT4.0、2000、XPとPlug & Playをサポートし、複数のWindows開発環境とNI-like commandsを提供します。TMU PCB Moduleはdual-channel input、ARM trigger、40-bit counterを備えたPCI-based Time Interval Counterで、frequency、period、time interval、pulse widthを測定します。AWG-50はdigitizer内蔵の単チャネルPCI-based arbitrary waveform generatorで、50 MS/s、1チャネル4 M byte、16 M byte optionalのメモリを備えます。サービスチームはload-board layout design、programming support、analog training、test and measurement consulting、test-chart design、software updates、FAQ supportを提供します。
対応領域・製品
- Power ICテストシステム
- ミックスドシグナルICテストシステム
- MOSFET/IPM/IGBT/SiC/GaN高出力テスト
- CMOSイメージセンサーモジュール試験
- VCSEL/LiDARウェハ計測
- 100 ns LiDARチップCP試験