기본 정보
| 부스 | K3290 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | aem.com.sg |
회사 소개
AEM은 테스트 혁신 분야의 글로벌 리더입니다. 혁신적인 테스트 솔루션을 통해 웨이퍼/칩 핸들링, 공정 자동화 및 혼합 신호 테스트에 걸쳐 가장 포괄적인 반도체 및 전자 테스트 솔루션을 제공합니다. 또한 광전자공학 개발과 데이터 분석 및 머신러닝 분야의 소프트웨어 개발을 바탕으로 Test Cell Solutions Business와 Instrumentation Business를 통해 테스트를 재정의하고자 합니다. Test Cell Solutions: • 시스템 레벨 테스트 핸들러 • 최종 테스트 핸들러 • 다목적 프로버 • 고전력 능동 열 제어 • 테스트 인터페이스 보드, 체인지 키트 및 소켓 Instrumentation Solutions: • 혼합 신호 ATE • 테스트 및 측정 계측기 최첨단 테스트 혁신을 넘어 고객과 강력한 파트너십을 구축하고 끊임없이 진화하는 첨단 제조 환경의 요구에 대응하는 것을 자랑스럽게 생각합니다. AEM의 본사는 싱가포르에 있으며 아시아, 유럽 및 미국 전역에서 사업을 전개하고 있습니다. AEM은 싱가포르, 말레이시아, 인도네시아, 중국, 베트남, 한국 및 핀란드에 제조 공장을 두고 있으며, 엔지니어링 지원, 영업 사무소, 관계사 및 유통업체로 구성된 글로벌 네트워크를 통해 고객에게 견고하고 회복력 있는 테스트 혁신 및 지원 생태계를 제공합니다.
전시 제품
AMPS-High Parallel Test Cell Series는 첨단 반도체 소자를 위해 설계된 고전력·고처리량 자동화 고병렬 테스트 시스템입니다. AEM의 특허 PiXLTM 지능형 열 관리 기술을 기반으로 AMPS series는 가장 까다로운 테스트 환경에서도 정밀하고 확장 가능한 열 제어를 제공합니다. CWP는 극저온 양자 소자, 전자 장치 및 검출기의 웨이퍼 레벨 테스트를 위한 독자적인 시스템입니다. 최대 12” 웨이퍼용 프로빙 솔루션으로 sub-2K 온도에서 테스트할 수 있습니다. 이 시스템은 일반적으로 사용되는 극저온 챔버보다 처리량이 최대 100배 빠른 신속한 샘플 특성 평가 수단을 제공하며, 전체 300mm 웨이퍼에 대한 대량 프로빙도 가능합니다. ATOM-IC Handler는 엔지니어링 테스트 현장과 개발 작업에 사용하도록 설계된 벤치톱 핸들러입니다. 혁신적인 설계로 유연성을 극대화하면서 비용과 유지보수를 최소화합니다. NESTEK SOCKET은 NESTEK PIN과 함께 TEST 인터페이스로 사용되며 전기적 결함, 특성 및 기능을 검사하는 장치입니다. 다양한 PoPs 및 multi-para 테스트 소켓과 같은 로직 테스트의 종합 솔루션뿐 아니라 HPC, Logic, PMIC, RF, MEMORY, 카메라 모듈 및 디스플레이 모듈의 검사/테스트에도 폭넓게 사용되는 제품입니다. NESTEK PIN은 배럴 외경 ø0.15~7.0, 길이 1.5~93.0mm로 생산할 수 있습니다. BGA, LGA, QFN, QFP를 포함한 다양한 반도체 패키지의 O/S (Open, Short) 테스트, 기능 테스트 및 SLT 테스트뿐 아니라 다양한 카메라 모듈과 디스플레이 모듈의 여러 유형 검사에 사용됩니다.
역량 및 제품
- 웨이퍼/칩 핸들링 테스트 솔루션
- 시스템 레벨 및 최종 테스트 핸들러
- 다목적 프로버
- 고출력 능동 열 제어
- 혼합 신호 ATE
- 테스트 인터페이스 보드·변환 키트·테스트 소켓
- 고전력·고처리량 자동 고병렬 테스트
- 12인치 웨이퍼 2K 이하 극저온 양자 테스트
- 반도체 패키지 오픈／쇼트·기능·SLT 테스트
- HPC/PMIC/RF/메모리 및 모듈 검사