基本情報
| ブース | K3290 |
| 国 | TW |
| ウェブサイト | aem.com.sg |
会社概要
AEM Singapore Pte. Ltd.は、ウェハ／チップハンドリング、プロセス自動化、mixed-signal testingを含む半導体・電子テストソリューションを提供し、optoelectronics、data analytics、machine-learning softwareの開発も進めています。Test Cell SolutionsにはSystem Level Test Handlers、Final Test Handlers、Multi-Purpose Probers、High Power Active Thermal Control、Test Interface Boards、Change Kits、Socketsが含まれます。Instrumentation SolutionsにはMixed Signal ATEとTest & Measurement Instrumentsがあります。AEM Singapore Pte. Ltd.は「A Zero Failure World」をビジョンとし、技術、プロセス、顧客サポートに基づく包括的な半導体・電子テストソリューションの提供をミッションとしています。test、smart automation、handlingを設計・製造プロセスに統合し、real-time dataを利用してtest coverage、製品信頼性、スケーラビリティを最適化します。グローバルネットワーク、ローカルサポート、full-stack test能力を通じ、顧客と統合テストフローを開発し、納期短縮と製品品質向上を支援します。顧客ニーズの理解、機会の特定、複雑なテストソリューションの統合、エンジニアリング知識によるテストプロセス最適化を行います。製品にはHandling Solutions、ATE Solutions、Test Interface Solutions、Precision Cable Testがあり、Contract ManufacturingとMachining Serviceも提供します。Precision Cable Testはlaboratory、manufacturing、field-use向けで、ATE Solutionsはtest-system hardware、software、supportを組み合わせます。AEM Singapore Pte. Ltd.は変化する先端製造要件に対応するため、customized、application-specific testingと顧客パートナーシップを重視します。本社はSingaporeにあり、アジア、欧州、United Statesに展開しています。製造工場はSingapore、Malaysia、Indonesia、China、Vietnam、Korea、Finlandにあり、世界的なengineering support、sales offices、associates、distributorsのネットワークが顧客を支援します。
展示製品
AMPS-High Parallel Test Cell Seriesは先端半導体デバイス向けの高出力・高スループット自動高並列テストシステムで、AEMの特許PiXLTM intelligent thermal-management technologyにより精密でスケーラブルな温度制御を行います。AMPS High Parallel Test Cellは特許intelligent thermal controlとpower managementを利用して加速高電圧ストレス試験を実行します。完全自動モジュラーAMPSは数百devicesを同時に並列ストレス試験できます。特許Intelligent Thermal Control（ITC）は>2KW per deviceまで拡張でき、試験中のthermal stabilityを維持する精密制御を提供します。application-specific test instrumentsは顧客要件に最適化でき、個別device制御によりasynchronous operation、on-the-fly pattern changes、高system utilizationを実現します。AI processors、high-performance compute devices、chipletsを持つadvanced heterogeneous packages向けに、test time短縮、test coverage拡大、cost of test低減を目指すスケーラブルなAMPSを提供します。CWPはcryogenic quantum devices、electronics、detectorsのwafer-level testing向けで、最大12" wafersをsub-2K temperaturesでprobeできます。CWPは一般的なcryogenic chambersより最大100 times高速なsample characterizationと、300mm wafers全体のvolume probingを可能にします。ATOM-IC Handlerはengineering test floorsとdevelopment operations向けのbenchtop handlerで、柔軟性、低コスト、低メンテナンスを重視しています。NESTEK SOCKETはNESTEK PINと組み合わせてTEST interfaceとなり、electrical defects、characteristics、functionsを検査します。NESTEKはPoPsやmulti-parallel test socketsなどのlogic testに加え、HPC、Logic、PMIC、RF、MEMORY、camera modules、display modulesの検査・試験に使用されます。NESTEK PINはbarrel outer diameter ø0.15~7.0、length 1.5~93.0mmで製造できます。BGA、LGA、QFN、QFPなどのsemiconductor packagesに対するO/S（Open, Short）test、function test、SLT testと、camera modulesやdisplay modulesの検査に使用されます。System Level TestポートフォリオはBurn-Inを含むautomated SLT／back-end test、Active Thermal Controlを組み合わせたmassively parallel asynchronous pick-and-place、multi-process、multi-insertion、AIと3D inspectionを利用するAOIを含みます。SLTアーキテクチャはmassively parallel Test Cell conceptを採用し、System Test IP & Architecture、Thermal Arrays、Change Kits、Sockets、Automationを組み合わせます。Configurable Test Unit（CTU）はlab-environment building blockで、共通設備を利用してlabからhigh-volume manufacturingへ迅速に拡張し、環境間correlationの必要性を減らします。engineeringとpre-productionからHVMまで、最大320 sitesとfull turnkey factory automationに対応します。対象市場はComputing、CPU、GPU、AI Chips、Memory、Mobility Application Processors、Automotiveです。heterogeneous packagingの普及によりhigh-performance、high-density modular asynchronous massively parallel test systemsと、modern devicesのextreme power dissipationを管理しながらDevices Under Testへのforceを制御するthermal solutionsが重要になるとしています。data analytics、machine learning、AIもtest toolsへ統合し、testing cost低減とtest coverage拡大を目指します。Wafer Test SolutionsはMEMS devices向けapplication-specific test solutionsとして、R&D、Wafer Sort、Final Testに適したwafer／frame probing stationsを提供します。wafer形態やadvanced packagesのenvironmental／motion sensorsを試験できます。wafer-test技術としてpressure stimulus付きproduction probing system、motion sensors用rotating probing system、300mm cryogenic probe stationを挙げています。wafer／wafer-frame probe stationsはPressure Sensors、Accelerometers、Gyroscopes、E-Compass／Magnetometer、Cryogenic Wafer Probingの試験・校正に最適化されています。製品名にはAIOLOS、MPP、KRONOS、MSU10とCryogenic Wafer Probingがあります。custom application-specific ATE Test SolutionsはTest Systems hardware、software、support servicesを組み合わせたtest suiteを提供します。M5Sはzero-footprint 5 Slot Testerで、5 Universal slots、air coolingを備え、Space、Military、Industrial、Sensors向けのlow digital pin-count devices with analog and mixed-signal requirementsを対象とします。M5S-HDはzero-footprint 5 HD Slot Testerで、最大1024 pins、128 A、5 Universal high-density slotsを備え、Mobility、Consumer、Computing、Automotive向けのmedium digital pin-count devicesとlow-parallel testingに対応します。M10S-HDはzero-footprint 10 HD Slot Testerで、最大2048 pins、256 A、10 Universal high-density slotsを備え、CPU、Chipset、Microcontrollers、Memoryなどのhigh digital pin-count devicesとhigh-parallel testingに対応します。Application Specific Testerは5-10 Universal high-density slotsとapplication-specific instrumentsを使用し、Consumerおよびapplication-specific markets、Image Sensors、MIPI interfacesに対応します。AEM Singapore Pte. Ltd.は40 yearsを超えるATE developmentとproprietary FPGA-based architectureによりCost of Test低減を目指します。ATEはDigital IC’s、SOC and SiP IC’s、Memory IC’s、Sensor IC’sを対象とし、EngineeringからHigh Volume ManufacturingまでWafer SortとFinal Testに拡張できます。ATE evolutionには1980年FAIRCHILDとSchlumberger、2002年nptest、2004年credenceとMu-Test、2010年Incorporated、2011年Device Characterization、2014年High Volume Manufacturing、2020年AEM ATEが記載されています。proprietary FPGA-based instrumentsはapplication customizationとopen-platform capabilityを提供し、同社はISO 9001:2015 certifiedです。ATE Complete Test SolutionにはAEM ATE SoftwareによるTest Programming、AEM Test EquipmentによるDiagnosis、Handler with DUT、Prober / Handler with DUT、Prober - Wafer Test、Handler - Package TestのInterfacingが含まれます。
対応領域・製品
- System Level Test Handler
- Final Test Handler
- 多目的ウェハProber
- 高出力アクティブ温度制御試験
- ミックスドシグナルATE
- 高出力・高並列自動バーンイン試験
- sub-2K極低温量子ウェハプロービング
- 300mmウェハ全面極低温プロービング
- BGA/LGA/QFN/QFPテストソケット
- O/S・機能・SLTテストインターフェース
- 自動SLT・後工程Burn-In
- ウェハ／チップハンドリング・プロセス自動化