基本情報
| ブース | T9143 |
| 国 | TW |
| 製品カテゴリ | Burn-In Accessory Systems · Burn-In Systems · Discrete Component Test Systems · Environmental Stress Systems - Temperature; Humidity; Pressure; HAST · Functional Test Systems · Linear Test Systems · Package Test Systems · Parametric Test Systems · Printed Circuit Board; Wire Board (PCB or PWB) Test and Repair |
| ウェブサイト | xtestek.com |
会社概要
Xtreme Testek Inc.：高出力半導体計測分野における革新的なパイオニア。Xtreme Testek Inc. は、第三世代半導体計測分野における技術リーダーです。当社は、SiC（炭化ケイ素）や GaN（窒化ガリウム）などの半導体の電気的特性評価を専門としています。高電流・高電圧・高周波・高温といった過酷な試験条件をシームレスに統合した独自の最先端プラットフォームを活用し、SiC および GaN の静的・動的特性評価を高精度に実施できます。お客様の多様な開発ニーズに応えるため、専門的な「受託試験サービス」や高効率な「試験プラットフォーム」の販売を含む、柔軟なビジネスモデルを提供しています。私たちは、研究・開発・生産においてお客様の最も力強いパートナーであることをお約束します。当社の中核的な専門性は、単なる計測にとどまりません。高出力・高周波無線領域で蓄積した深い知見を活かし、その専門性を最先端のアプリケーション市場へと拡大してきました。低軌道（LEO）衛星や無人通信（ドローン、ロボット）向けに、高性能パワーアンプ（PA）モジュールやスマートアンテナを提供しています。同時に、スマート電力メーター、スマートガスメーター、グリーンエネルギー監視システム向けに、安定かつ信頼性の高いシステムソリューションも提供しています。Xtreme Testek Inc. は単なる計測の専門家ではなく、お客様が高性能時代へと進むためのパートナーです。
対応領域・製品
- GaN 半導体の電子特性評価
- LEO 衛星およびドローン向け Power Amplifier（PA）modules
- SiC および GaN の動的特性評価
- SiC および GaN の静的特性評価
- SiC および GaN 試験プラットフォーム
- SiC 半導体の電子特性評価
- 半導体アウトソーシング試験サービス
- 高電流、高電圧、高周波、高温の試験プラットフォーム