基本資料
| 攤位 | T9143 |
| 國別 | TW |
| 產品分類 | Burn-In Accessory Systems · Burn-In Systems · Discrete Component Test Systems · Environmental Stress Systems - Temperature; Humidity; Pressure; HAST · Functional Test Systems · Linear Test Systems · Package Test Systems · Parametric Test Systems · Printed Circuit Board; Wire Board (PCB or PWB) Test and Repair |
| 網站 | xtestek.com |
公司簡介
Xtreme Testek Inc.：高功率半導體量測領域的創新先驅。Xtreme Testek Inc. 是第三代半導體量測領域的技術領導者。我們專精於 SiC（碳化矽）與 GaN（氮化鎵）等半導體的電性特性分析。憑藉自有的最先進平台，無縫整合高電流、高電壓、高頻率與高溫等嚴苛測試條件，我們能精準執行 SiC 與 GaN 的靜態與動態特性分析。為滿足客戶多元的開發需求，我們提供彈性的商業模式，包括專業的「委外測試服務」與高效能「測試平台」的銷售。我們致力於成為您在研究、開發與生產上最強而有力的夥伴。我們的核心專長不僅止於量測。憑藉在高功率與高頻無線領域累積的深厚知識，我們已成功將專業能力延伸至尖端應用市場。我們為低軌道（LEO）衛星與無人通訊（無人機、機器人）提供高效能功率放大器（PA）模組與智慧天線。同時，我們亦為智慧電表、智慧瓦斯表與綠能監測系統提供穩定可靠的系統解決方案。Xtreme Testek Inc. 不僅是量測專家，更是您邁向高效能時代的夥伴。
能力與產品項目
- GaN 半導體電子特性量測
- LEO 衛星與無人機用 Power Amplifier（PA）modules
- SiC 半導體電子特性量測
- SiC 與 GaN 動態特性量測
- SiC 與 GaN 測試平台
- SiC 與 GaN 靜態特性量測
- 半導體委外測試服務
- 高電流高電壓高頻高溫測試平台