기본 정보
| 부스 | J3234 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.winfoundry.com |
회사 소개
WIN Semiconductors Corp.는 1999년 10월 설립되었으며 세계 최초의 순수 6인치 GaAs 파운드리가 되었습니다. 증가하는 수요에 대응하기 위해 비용 효율적이고 고속이며 고품질인 GaAs MMIC, 즉 모놀리식 마이크로파 IC와 RFIC, 즉 무선주파수 IC를 제조하는 3개의 첨단 GaAs 웨이퍼 팹을 구축했습니다. WIN은 팹리스 설계 회사와 종합 반도체 기업에 전용 파운드리 서비스를 제공하며 GaAs 기술을 사용해 전 세계 IC 기업에 HBT 및 pHEMT MMIC 제조 서비스를 제공합니다. MMIC 기술을 기반으로 광통신 및 3D 센싱 응용 분야의 광전자 소자 제조 서비스도 제공합니다.
전시 제품
2007년 이후 WIN Semiconductors Corp.는 세계 최대의 6인치(150 mm) GaAs 순수 파운드리라고 설명하며, 3개의 첨단 팹에서 MMIC 응용 분야용 HBT, pHEMT, BiHEMT 및 GaN 파운드리 서비스를 제공합니다. 2006년 이후 4교대 24/7 연속 파운드리 서비스를 운영했고 2018년 연간 생산능력은 340,000 웨이퍼를 넘었으며, 전 세계 GaAs 파운드리 수요의 50% 이상을 충족했다고도 밝힙니다. 반도체 제조 외에도 IC 레이아웃 지원과 자동 DC/RF 온웨이퍼 테스트를 제공하며 빠른 처리시간, 비용 효율적인 턴키 솔루션 및 전면적인 품질 관리를 파운드리 서비스에 포함합니다. 사내 웨이퍼 테스트 서비스는 HBT와 HEMT 제품을 모두 지원하고 고객용 표준 WAT 데이터베이스와 SPC 분석용 PCM 데이터베이스를 제공하며, CIM 시스템이 자동 생성하는 실시간 수율 보고서로 가공 웨이퍼가 출하 기준을 충족하는지 판단합니다. 고객 요구에 따라 프로브 카드 제작과 온웨이퍼 DC/RF 스크리닝도 제공하며, DC 단일 사이트 및 다중 사이트 병렬 프로빙은 최대 hex-site X16, 고전류 측정은 1A까지 지원합니다. RF 테스트 기능에는 삽입 손실 및 고조파 테스트, 4포트 벡터 S-파라미터의 단일 종단 또는 차동 테스트, Gain, P1dB, Psat을 위한 고정 또는 스윕 RF 전력 테스트, +10 dBm을 초과하는 RF 고입력 전력 테스트, CW 및 Pulse 테스트가 포함됩니다. 설계 지원에서는 EDA 공급업체와 협력해 정확한 소자 모델과 다양한 PDK를 개발하고 완전한 설계 플랫폼, 정확한 회로 시뮬레이션, 효율적인 레이아웃 sign-off 및 마스크 tape-out을 제공합니다. Fast WIN PDK SERVICE는 업계 표준 RF EDA 툴을 지원하며 소자 및 서브회로 모델, 유연한 P-cell 레이아웃, EM, DRC, LVS 기능과 회로 설계를 쉽게 하는 인터페이스를 포함합니다. WIN의 사내 모델은 자사 공정과 긴밀하게 일치하도록 개발되어 성능 예측에 사용되며 수율 분석을 위한 corner 및 통계 시뮬레이션을 지원합니다. WebDRC 시스템은 24시간 온라인 DRC 검증과 즉각적인 규칙 업데이트를 제공해 시간대 지연 없이 레이아웃 sign-off, 마스크 tape-out 및 생산 주기 진입을 빠르게 합니다. 설계 지원 프로그램에는 WIN 기술, 파운드리 서비스 흐름, Design Kit 소개 및 설계 시연 흐름을 다루는 고객 교육도 포함됩니다. 이러한 서비스는 6인치 GaAs 웨이퍼 제조, HBT, pHEMT, BiHEMT 및 GaN MMIC 파운드리 공정, 광전자 소자 제조, IC 레이아웃 지원, PDK 기반 설계 지원 및 자동 온웨이퍼 DC/RF 테스트를 하나의 파운드리 워크플로 안에서 연결합니다.
역량 및 제품
- 6인치 GaAs 파운드리 서비스
- GaAs MMIC/RFIC 제조 파운드리
- HBT MMIC 제조 파운드리
- pHEMT MMIC 제조 파운드리
- GaN MMIC 파운드리 서비스
- 광통신·3D 센싱용 광전자 소자 제조 파운드리
- 온웨이퍼 DC/RF 자동 시험
- IC 레이아웃 지원
- RF IC PDK 설계 지원