基本資料
| 攤位 | Q5230 |
| 國別 | TW |
| 網站 | www.mesoscope.com.tw |
公司簡介
TrInity Analysis Tech Co., Ltd. 是位於台灣、聚焦半導體分析與檢測的公司，活動範圍涵蓋 nanotechnology equipment and tools、test and failure-analysis systems、probing equipment，以及 measurement and inspection service。公司位於台灣新竹，成立於 2025 年。其半導體相關範圍將奈米技術工具、測試與失效分析系統、探測設備，以及量測與檢驗服務整合在一起，將實體探測與分析、檢測導向的工作相連結。Mesoscope Technology 被列為法人董事，公司定位與 Mesoscope 相關分析技術，以及用於先進半導體元件的 nano-probe 與 failure-analysis 服務連結。在此分析技術脈絡下，TrInity 強調先進半導體元件的低損傷 nano-probe 分析，使技術路線與 nano-probe 及 failure-analysis 領域相連。公司是新成立的台灣半導體分析與檢測實體，活動結合奈米技術工具、探測設備、測試與失效分析系統，以及量測與檢驗服務。設備類別與量測檢驗服務被放在同一個半導體分析脈絡中，使 probing、failure analysis、nanotechnology tools 與 inspection 工作形成同一技術範圍。透過結合 nanotechnology equipment 與 measurement and inspection service，TrInity 同時涵蓋半導體分析中的設備導向與服務導向工作；test and failure-analysis systems 與 probing equipment 則將實體探測放入先進元件較完整的分析流程中。
展出產品
nano probing 採用低於 200 eV 的超低能量電子束，這項明確的操作條件用於降低奈米探測過程中的樣品損傷。經連續 30 分鐘電子束照射後，量測數據偏差仍可控制在 5% 以下，提供所述探測方法在持續照射條件下的量測穩定性數值。低於 200 eV 的電子束條件與連續 30 分鐘後低於 5% 的偏差共同構成這項能力的性能描述：以極低電子束能量進行 nano probing，以降低樣品損傷，同時在持續照射過程中維持受控的量測變化。此 nano probing 功能與公司的 probing equipment、nanotechnology equipment and tools、test and failure-analysis systems 及 measurement and inspection service 等類別相互對應，用於先進半導體元件的分析。
能力與產品項目
- 低於 200 eV 電子束奈米探測（30 分鐘偏差 ≤5%）