基本資料
| 攤位 | K2490 |
| 國別 | TW |
| 網站 | www.tekcrown.com |
公司簡介
泰可廣科技股份有限公司成立於 2007 年，專精於半導體 IC 測試介面。公司獲 Kobelco 對 C3 coating 的授權、獲 MIXNUS 對 Spring Probe 的授權，並獲 Princo 授權，且表示致力於為客戶提供專業產品與服務。公司總部位於台灣桃園，泰可廣科技股份有限公司即於 2007 年在此成立。2014 年，Tek Crown Europe GmbH 於德國 Kümmersbruck 成立，同年也在台灣竹北設立業務辦公室。2015 年，Tek Crown Technology 於美國 Irvine 成立，2016 年則在台灣高雄設立業務辦公室。其主要產品與服務列有 test socket、test probe、C3 Coating、changeover kit、socket layout kit、strip contactor 與其他 testing contactor，以及 Probe Station System。
展出產品
泰可廣科技股份有限公司的先進半導體測試與分選解決方案服務離散元件，包括晶片電容、電阻與鉭質電容，採用成熟的轉塔式平台，結合自主研發的 AI 視覺檢測與電性測試軟體。平台被描述為可支援車規級可靠性與 Industry 4.0 相容性，並結合高效率測試與高精度分選。針對晶片電容，SC21 Chip Capacitor Testing & Sorting Machine 的產能最高可達 60K UPH，並支援尺寸 0.2×0.1mm 的 01005 元件。同一平台列有 0.001mm 定位精度，以及可依特定缺陷檢測需求彈性整合視覺與電性測試模組的模組化設計。應用包含單層晶片電容、MLCC 與晶片電阻，特殊測試環境則包括 TCR、高電壓及高低溫測試。高性能電阻測試設備以 AEC-Q200 車規可靠性為訴求，電阻量測範圍涵蓋 1Ω 至 15GΩ。Dynamic TCR 可在使用者自訂溫度點自動量測高溫 TCR，該電阻測試設備並列有 7K UPH 產能。DC Withstand Voltage 與 Pulse Withstand 測試用於篩除具有突波弱點的元件。鉭質電容測試與分選系統提供最高 150VDC 的高壓測試，涵蓋全系列鉭質電容，並具 100% 極性檢查。該平台亦列有過電流、ESD、火災與撞擊的智慧保護機制，應用包括高密度儲存晶片堆疊與先進記憶體封裝。彈性三合一檢測平台面向少量多樣生產，可支援小至 0.254×0.254mm 的元件，產能最高 2K UPH。Desktop Tri-Temperature Sorter 提供 -55℃ 至 125℃ 主動溫控，並以乾燥氣體吹掃避免低溫測試時結露。BNx-3000 Burn-in System 支援最多 20,000 個通道，可獨立監控並在 RT 至 150℃ 進行精密控制，也包含節能回饋負載系統。AI-Powered Vision 採用自主研發 AI 軟體框架進行高精度缺陷分析。資料管理功能完整儲存影像與測試數據，支援歷史追溯與智慧監控，並提供標準 API 介面協助數位化與智慧製造。測試介面與配件清單還包括 WEE TEST SOCKET、POGO PIN、STAMPED SPRING PROBE、C3 COATING、TF+ SUBSTRATE、TEECONS、PARIPOSER、CHANGE KIT、CONTACT FINGER、RF SYSTEM 與 PROBE STATION SYSTEM。結合 test socket、Spring Probe、C3 coating 授權與 Probe Station System，這些測試分選平台可從元件接觸延伸至電性與視覺檢測的半導體 IC 測試介面。
能力與產品項目
- 半導體 IC 測試介面
- Test socket
- Test probe
- C3 Coating 供應（Kobelco）
- Spring Probe 供應（MIXNUS）
- Changeover kit
- Socket layout kit
- Strip contactor
- Probe Station System