基本情報
| ブース | L0327 |
| 国 | TW |
| 製品カテゴリ | Acoustic Spectroscopy; Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA); Ultrasonic; Acoustical Mi · Microscopes: Confocal Scanning Microscope; 3-D Video Microscopes · Equipment, Nanotechnology Tools · Computer ; Control ; Communication ; Data Acquisition Systems · Ultrasonic Generators; Transducer and Monitoring Systems · Education, Training |
| ウェブサイト | www.sonix.com |
会社概要
1986年以来、Sonixは画像精度とプロセス生産性における数多くのブレークスルーを切り拓き、ウェハおよびチップメーカーが文字どおり世界を変える手助けをしてきました。私たちは非常に困難な問題に対して常に正しい答えを見出してきました。今日、Sonixの超音波スキャニング顕微鏡は、開発ラボから生産現場に至るまで、接合ウェハやパッケージ半導体の非破壊検査を行うために世界中の主要メーカーで使用されています。これらの高性能システムは、半導体の設計者および製造者が信頼性の検証、新規設計の認定、生産のモニタリング、プロセス制御の改善に必要とする高解像度画像と先進的な診断ツールを提供します。技術革新とリーダーシップが私たちの核心です。私たちは多額の研究開発投資を行い、進化する市場の要求に応えるための新たなソリューションを開発しています。私たちはお客様と協働し、今日のニーズと明日の革新に取り組んでいます。2017年1月以降、私たちの親会社となったTektronixとともに、エンジニアリングチームと協力して検査の世界における数多くの画期的な技術を共同で生み出してきました。私たちは計量および非破壊検査において、研究開発、故障解析（FA）、さらには生産のお客様に至るまで、世界を変えてきました。より鮮明で優れた画像、より大きく高速なスループット、より迅速な応答性——これらはSonixが市場リーダーの地位を維持するための数多くの優位性のほんの一部です。
対応領域・製品
- R&D、FA、生産向けmetrologyおよびnon-destructive inspection
- bonded wafersの非破壊検査
- packaged semiconductorsの非破壊検査
- 信頼性検証およびプロセス制御向け高度診断ツール
- 半導体検査向け高分解能音響イメージング
- 超音波走査顕微鏡