基本情報
| ブース | P6123 |
| 国 | SG |
| ウェブサイト | www.sinetest.com |
会社概要
SineTest Technologies Pte Ltd は、アナログ／ミックスドシグナルおよびディスクリートデバイス向けテストソリューションの研究開発に注力し、COT テストのアプローチもこれらのデバイス分野を中心に構成しています。技術領域には SiC／IGBT デバイス向けの実ウェーハレベル DC + Switching テストが含まれ、スイッチングパラメータの検証をウェーハ段階へ移すことで、ウェーハファブや設計会社が開発サイクルのより早い段階でスイッチング性能上の問題を特定できるようにします。また、IPM などの次世代複雑パワーモジュールに合わせて構成できるモジュール式パワーディスクリートテストを開発し、より複雑なパワーデバイス要件に応じてテスト機能を組み合わせられるようにしています。モジュール式アーキテクチャでは discrete DC、Dvsd、UIL などの機能と各種モジュールを顧客のテスト要求に合わせて構成でき、インテリジェントパワーモジュールで複雑なテストが必要な場合には IC テストモジュールとディスクリートテストモジュールを混在させることもできます。SineTEST は、ウェーハレベル DC + Switching、IntelliVI™ の電圧／電流セルフチェック技術、モジュール式ディスクリートテスト設計を、テスタープラットフォーム群における特許技術およびソリューションとして位置付けています。
展示製品
SineTEST は、SIC／IGBT および関連デバイス向けに Ton/Toff. 測定を含む実ウェーハレベル DC + Switching テストソリューションを提供し、説明の一つでは universal prober の使用も示されています。IntelliVI™ は、リアルタイムのオンボード電圧・電流精度セルフチェック機能を備えた次世代 floating-ground VI モジュール技術で、長期間の動作中に VI モジュールをユーザー定義の精度範囲内に保ち、test escape への懸念を低減することを目的としています。13 スロットの STT-700X はアナログ／ミックスドシグナルとディスクリートデバイスの両方をサポートし、アナログテストでは最大 128 digital pins と 208 analog VI channels を構成できます。ディスクリートデバイスでは、STT-700X に DC、UIL、DVSD、RG、CG、Switching などのモジュールを構成して multisite CP／FT テストを行うことができ、モジュール設計により小さな設置面積で柔軟なテスト構成を可能にします。26 スロットの STT-700 もアナログ／ミックスドシグナルとディスクリートデバイスをサポートし、ミックスドシグナルデバイス向けに最大 256 digital pins と 416 analog VI channels を構成できます。ディスクリートデバイス向けには DC、UIL、DVSD、RG、CG、Switching モジュールを組み合わせて multisite CP／FT テストを行い、同じモジュール式テストの考え方を 26 スロット構成へ拡張しています。6 スロットの STT-300S はディスクリートデバイスのラボ用途とエンジニアリングデバッグ向けで、DC、UIL、DVSD、RG、CG、Switching などのモジュールによる single-site multi-function テストに対応します。1400V/30A の DDC1430 を搭載した場合、diode、transistor、MOSFET などの小信号ディスクリートデバイス向けとして説明され、短いテスト時間と高い UPH を目標としています。製品群はアナログ／ミックスドシグナル IC テスト、ディスクリートデバイステスト、パワーモジュールテストをカバーし、主要テスターとして STT-700X、STT-700、STT-300S が挙げられ、製品ナビゲーションには ThermalFlow - TF8018 も掲載されています。モジュール式ディスクリートテストは、複雑な顧客テスト要求に合わせてユーザーがモジュールを組み合わせる方法としても示されており、インテリジェントパワーモジュールで IC とディスクリートの複雑なテスト機能の組み合わせが必要になるほど重要になる機能として強調されています。SineTEST のアプリケーションナビゲーションは、アナログ／ミックスドシグナル IC テスト、ディスクリートデバイステスト、パワーモジュールテストを明確に分けており、STT プラットフォーム群で説明されるテスター構成とモジュール式測定リソースに対応しています。
対応領域・製品
- アナログ／ミックスドシグナルICテストシステム
- ディスクリートデバイステストシステム
- SiC/IGBTウェーハレベルDC + Switchingテスト
- IPM向けモジュール式パワーディスクリートテスト
- VIモジュールのリアルタイム電圧・電流精度セルフチェック
- マルチサイトCP/FTディスクリートデバイステスト