基本情報
| ブース | P6012 |
| 国 | SG |
| ウェブサイト | www.sinetest.com |
会社概要
SineTEST は、アナログ／ミックスドシグナル（analog/Mixed-signal）およびディスクリートデバイス（discrete device）の測定ソリューションの研究開発に注力しており、最先端技術により、SineTEST は業界最高の COT 測定ソリューションを提供します。 SiC/IGBT などに対応する真のウェハレベル DC＋スイッチング測定ソリューション（汎用プローバ付き）。 パワーディスクリート測定向けのモジュール設計により、新世代の複雑なパワーモジュール（IPM など）の測定ソリューションを柔軟に構成できます。 13 スロット構成。STT-700X はアナログ／ミックスドシグナルおよびディスクリートデバイスに対応できます。 アナログ測定では、STT-700X は最大 128 のデジタルピンと 208 のアナログ VI チャネルを構成できます。 ディスクリートデバイス測定では、STT-700X は DC/UIL/DVSD/RG/CG/スイッチングなどの異なるモジュールを構成し、マルチサイト（multisite）の CP および FT 測定に対応します。モジュール設計により、最小の設置面積で柔軟な測定構成が可能です…… 26 スロット構成。STT-700X はアナログ／ミックスドシグナルおよびディスクリートデバイスに対応できます。 ミックスドシグナルデバイス測定では、STT-700X は最大 256 のデジタルピンと 416 のアナログ VI チャネルを構成できます。 ディスクリートデバイス測定では、STT-700X は DC/UIL/DVSD/RG/CG/スイッチングなどの異なるモジュールを構成し、マルチサイトの CP および FT 測定に対応します…… 6 スロット構成。STT-300S はディスクリートデバイスのラボ用途やエンジニアリングデバッグに適しています。 STT-700X は DC/UIL/DVSD/RG/CG/スイッチングなどの異なるモジュールを構成し、シングルサイトの多機能測定に対応します。 DDC1430（1400V/30A）を搭載すれば、ダイオード／トランジスタ／MOSFET などの小信号ディスクリートデバイスに対して最速の測定時間と最高の UPH を提供できます…… 当社の特許技術およびソリューション…… IGBT/SiC などに対応する世界第 1 位の真のウェハレベル DC＋スイッチング測定ソリューション。スイッチングパラメータの検証をウェハ段階へ前倒しすることで、SineTEST はウェハファブや設計会社が開発サイクルのより早い段階でスイッチング性能の問題を特定できるようにします……
対応領域・製品
- 128 digital pinsと208 analog VI channelsに対応するSTT-700X 13-slotアナログテスタ
- 256 digital pinsと416 analog VI channelsに対応するSTT-700X 26-slotミックスドシグナルテスタ
- IGBT/SiCデバイス向けウェハ段階switching parameter verification
- STT-300Sディスクリートデバイス実験室用およびエンジニアリングデバッグテスタ
- SiC/IGBTデバイス向けウェハレベルDC+Switching試験
- diode、transistor、MOSFETデバイス向けDDC1430 1400V/30A試験モジュール
- multisite CPおよびFT試験向けDC/UIL/DVSD/RG/CG/Switchingモジュール
- アナログ/ミックスドシグナルおよびディスクリートデバイス試験ソリューション