基本資料
| 攤位 | P6012 |
| 國別 | SG |
| 網站 | www.sinetest.com |
公司簡介
SineTEST 專注於類比／混合訊號（analog/Mixed-signal）與分離元件（discrete device）測試解決方案的研發，憑藉尖端技術，SineTEST 提供業界最佳的 COT 測試解決方案。 針對 SiC/IGBT 等的真實晶圓級 DC＋開關測試解決方案（搭配通用探針台）。 功率分離元件測試的模組化設計，可彈性配置新世代複雜功率模組（如 IPM）的測試解決方案。 13 槽架構，STT-700X 可支援類比／混合訊號與分離元件。 用於類比測試時，STT-700X 最多可配置 128 個數位接腳與 208 個類比 VI 通道。 用於分離元件測試時，STT-700X 可配置 DC/UIL/DVSD/RG/CG/開關等不同模組，供多晶粒（multisite）CP 與 FT 測試之用。模組化設計可在最小佔地面積下實現彈性的測試配置…… 26 槽架構，STT-700X 可支援類比／混合訊號與分離元件。 用於混合訊號元件測試時，STT-700X 最多可配置 256 個數位接腳與 416 個類比 VI 通道。 用於分離元件測試時，STT-700X 可配置 DC/UIL/DVSD/RG/CG/開關等不同模組，供多晶粒 CP 與 FT 測試之用…… 6 槽架構，STT-300S 適用於分離元件實驗室使用與工程除錯。 STT-700X 可配置 DC/UIL/DVSD/RG/CG/開關等不同模組，供單晶粒多功能測試之用。 若搭載 DDC1430（1400V/30A），可為二極體／電晶體／MOSFET 等小訊號分離元件提供最快的測試時間與最高的 UPH…… 我們的專利技術與解決方案…… 全球第一的 IGBT/SiC 等真實晶圓級 DC＋開關測試解決方案，藉由將開關參數驗證提前至晶圓階段，SineTEST 讓晶圓廠與設計公司能在開發週期中更早辨識出開關性能問題……
能力與產品項目
- IGBT/SiC 元件的 wafer-stage switching parameter verification
- STT-300S discrete device 實驗室與工程除錯測試機
- STT-700X 13-slot 類比測試機，支援 128 digital pins 與 208 analog VI channels
- STT-700X 26-slot 混合訊號測試機，支援 256 digital pins 與 416 analog VI channels
- SiC/IGBT 元件的 wafer-level DC+Switching 測試
- 用於 diode、transistor 與 MOSFET 元件的 DDC1430 1400V/30A 測試模組
- 用於 multisite CP 與 FT 測試的 DC/UIL/DVSD/RG/CG/Switching 模組
- 類比/混合訊號與 discrete device 測試解決方案