기본 정보
| 부스 | R7112 |
| 국가 | DE |
| 웹사이트 | www.rohde-schwarz.com/tw/solutions/electronics-testing/rf-microwave-and-components/on-wafer-testing/on-wafer-testing_257253.html |
회사 소개
Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG는 핵심 인프라 및 산업 부문의 세계 주요 공급업체 중 하나이자 신뢰할 수 있는 파트너이며, 전 세계에서 운영되는 기술 그룹으로서 핵심 인프라와 네트워크의 안정적인 운영과 성능을 지원하기 위한 모니터링, 분석 및 보호 솔루션을 개발, 설계, 제조 및 구현합니다. 핵심 인프라 포트폴리오에는 ATC, 스펙트럼 모니터링 및 CUAS 시스템이 포함되며, ANSPs, 규제기관, 정부기관 및 산업 운영자가 이러한 솔루션을 활용해 자산의 운영과 성능을 지원합니다. Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG는 또한 90년 이상의 경험을 보유한 세계 최대 규모의 전자 시험 및 측정 장비 제조업체 중 하나입니다. 시험 및 측정 사업은 일상적인 실험실 작업부터 차세대 개발까지 포괄하며, 애플리케이션별로 확장 가능한 장비, 장기 서비스와 지원, 전자 시험, 무선 통신 및 자동차 분야용 계측기와 솔루션을 제공합니다. 시험 포트폴리오는 디지털 설계, 전력 전자, 고속 디지털 인터페이스, RF 및 마이크로파 부품, 의료기기, EMC 시험을 포함하며, 회사는 EMC 시험 장비를 50년 이상 공급해 왔다고 밝힙니다. Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG는 자동차 연결성 및 인포테인먼트 시스템, 자동차 레이더, 차량 내 네트워크도 다루며, 항공우주 및 방위 분야에서는 레이더와 전자전 시험 및 위성 시스템을 대상으로 합니다. 무선 포트폴리오는 IoT / M2M, 모바일 기기, 인프라 및 6G 연구를 포함한 무선 표준을 포괄하고, 모바일 네트워크 시험은 특히 네트워크 사업자와 규제기관의 요구를 대상으로 합니다. 회사는 전 세계 연구 및 교육 커뮤니티와 관계를 유지하고 각지의 연구소와 기관에 시험 솔루션을 제공하며, 밀리미터파 이미징 기술은 보안 및 산업용 스크리닝 솔루션에도 활용됩니다.
전시 제품
반도체 및 부품 시험 분야에서 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG는 빠르고 정확한 on-wafer 및 die testing용 계측기를 제공하고 개발부터 생산까지 on-wafer testing의 모든 단계를 지원하는 솔루션을 제공합니다. 프로브 스테이션을 이용한 RF probing은 제품 설계, 검증 및 생산 단계에 적용되며, 회사는 각 단계에서 시험 계측기와 probing 시스템을 통합하는 것이 중요하다고 설명합니다. 개발 및 설계 검증에는 수동 또는 반자동 프로브 스테이션에서 웨이퍼나 다이를 유연하게 검증하는 작업, S 파라미터 및 기타 RF 측정을 위한 특수 벡터 교정, 밀리미터파 및 THz 응용에서 손실을 줄이기 위한 frequency converters 또는 RF frontends의 prober 상 통합, 능동 소자를 위한 RF와 DC 결합 시험이 포함될 수 있습니다. 생산 단계에는 빠른 검증을 위한 프로브 스테이션과 시험 계측기의 동기화, 크로스토크를 줄이기 위한 multisite probing과 frequency offsets, 소자 손상을 줄이기 위한 touch-down 횟수 감소가 포함됩니다. R&S®ZNA performance vector network analyzer는 웨이퍼와 다이 레벨에서 능동 및 수동 부품을 검증하는 데 필요한 기능을 제공하며, 벡터 네트워크 분석을 on-wafer 및 die testing 구성의 핵심으로 둡니다. R&S®ZC millimeter converters는 테라헤르츠 연구를 위해 주파수 범위를 최대 1.1 THz까지 확장하고, 밀리미터파 및 THz 응용에서 손실을 줄이기 위해 프로브 가까이에 통합할 수 있습니다. R&S®ZNBT multiport vector network analyzer는 속도에 최적화되어 최대 24 ports의 병렬 시험을 지원하며 회사는 이를 양산용으로 제시합니다. R&S®FE170 external frontend는 프로브 옆에서 변조 on-wafer testing을 위한 광대역 업컨버전을 제공하고 프로브 스테이션 내부에 컴팩트하게 통합할 수 있도록 설계되었습니다. probe-system integration에서는 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG의 vector network analyzers를 MPI Corporation 및 FormFactor의 probe systems와 결합하며, MPI QAlibria®와 FormFactor WinCal 교정 소프트웨어가 다양한 R&S vector network analyzers를 지원합니다. load-pull 및 impedance matching 작업에는 Maury Microwave와 Focus Microwaves의 tuners가 사용되며, R&S ZNA와 기타 분석기는 on-wafer 및 load-pull 시스템을 위해 파트너 시스템 소프트웨어에 통합되고 지원됩니다. on-wafer testing 구성에는 수동 부품용으로 4개 이상의 true parallel ports를 갖춘 비용 최적화 vector network analyzers와 능동 부품용으로 최대 1.1 THz 주파수 범위를 제공하는 고성능 vector network analyzer가 포함됩니다. System-level calibration은 Rohde & Schwarz vector network analyzers가 직접 처리하거나 파트너 소프트웨어가 처리할 수 있으며, 분석기는 on-wafer 및 load-pull testing에 사용되는 시스템 소프트웨어와 통합됩니다. 응용 사례에는 MPI probe stations에서 최대 110 GHz의 differential RF on-wafer measurements, THz 범위까지의 three-port on-wafer mixer measurements, RF 부품의 on-wafer qualification, 6G 관련 sub-THz on-wafer characterization이 포함됩니다. 관련 부품 시험에는 RF power-amplifier testing과 load-pull testing이 있으며, 임피던스 매칭과 서로 다른 임피던스 조건의 시험을 통해 능동 부품 설계를 개선합니다. on-wafer 분야 외의 폭넓은 시험 및 측정 포트폴리오에는 FSWX Signal and spectrum analyzer, R&S®MXO 3 Oscilloscope, R&S®ZNB3000 Vector network analyzer, CMX500 5G one-box signaling tester, R&S®SFI100A Wideband IF vector signal generator, R&S®EPL EMI test receiver가 포함됩니다. 더 넓은 응용 범위에는 고속 디지털 응용의 test fixture deembedding, MXO oscilloscopes를 이용한 전기 구동계 최적화, 6G의 integrated sensing and communication, 전자전 및 위성 시험, 6G networks를 위한 AI와 ML 주제가 포함됩니다. Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG는 전자 실험실의 PCB 설계 시험부터 6G 연구까지 지원하며, 시험 및 측정 제품군은 기본 계측기부터 고급 측정 솔루션까지 이어집니다. 전자 시험 분야에서는 디지털 설계, 전력 전자, 고속 디지털 인터페이스, RF 및 마이크로파 부품, 의료기기, EMC와 시험 솔루션을 연결하고, 무선 시험 범위는 기기, 인프라 및 네트워크 시험을 포함합니다.
역량 및 제품
- 웨이퍼 및 다이 RF 테스트 계측기
- 개발부터 양산까지 온웨이퍼 테스트 솔루션
- 웨이퍼/다이 벡터 네트워크 분석
- 최대 1.1 THz 밀리미터파/테라헤르츠 테스트
- 최대 24포트 병렬 RF 테스트
- Load-pull 및 임피던스 매칭 테스트
- RF 프로브 스테이션 및 계측기 통합
- S-파라미터 RF 벡터 교정
- 능동 소자 RF+DC 결합 테스트
- Multisite 병렬 프로빙 및 크로스토크 저감
- 변조 On-wafer 테스트용 광대역 업컨버전
- On-wafer 시스템 레벨 교정
- 최대 110 GHz 차동 RF On-wafer 측정
- THz 대역 3포트 On-wafer 믹서 측정
- Sub-THz On-wafer 특성 측정
- RF 전력 증폭기 테스트