基本資料
| 攤位 | R7112 |
| 國別 | DE |
| 網站 | www.rohde-schwarz.com/tw/solutions/electronics-testing/rf-microwave-and-components/on-wafer-testing/on-wafer-testing_257253.html |
公司簡介
Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG 是全球關鍵基礎設施與產業領域的主要供應商之一及可靠合作夥伴，其全球營運的技術集團開發、設計、製造並實施監控、分析與保護解決方案，以支援關鍵基礎設施與網路的可靠運作與效能。 其關鍵基礎設施產品組合包括 ATC、頻譜監測與 CUAS 系統，服務對象包括 ANSPs、監管機構、政府組織與工業營運商，這些客戶運用相關解決方案支援其資產的運作與效能。 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG 也是全球大型電子測試與量測設備製造商之一，在此領域擁有超過 90 年經驗。 其測試與量測業務涵蓋日常實驗室任務與次世代開發，提供應用導向且可擴充的設備、長期服務與支援，以及用於電子測試、無線通訊與汽車領域的儀器和解決方案。 測試產品組合涵蓋數位設計、電力電子、高速數位介面、RF 與微波元件、醫療裝置及 EMC 測試，公司並表示已供應 EMC 測試設備超過 50 年。 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG 亦涵蓋汽車連線與資訊娛樂系統、汽車雷達及車載網路，而航太與國防應用則包括雷達與電子戰測試以及衛星系統。 其無線產品組合涵蓋 IoT / M2M、行動裝置、基礎設施與包括 6G 研究在內的無線標準，行動網路測試則特別面向網路營運商與監管機構。 公司與全球研究及教育社群維持合作關係，向世界各地的實驗室與機構提供測試解決方案，其毫米波成像技術也應用於安全與工業用途的篩檢解決方案。
展出產品
在半導體與元件測試方面，Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG 提供快速且準確的 on-wafer 與 die testing 儀器，並提供從開發到生產各階段的 on-wafer testing 解決方案。 探針台上的 RF probing 用於產品設計、驗證與生產階段，公司強調各階段都需要把測試儀器與 probing 系統整合。 開發與設計驗證工作可包括在手動或半自動探針台上彈性驗證晶圓或裸晶、針對 S 參數與其他 RF 量測進行特殊向量校正、在 prober 上整合 frequency converters 或 RF frontends 以支援毫米波與 THz 應用，以及對主動元件進行 RF 與 DC 的組合測試。 生產階段的流程包括讓探針台與測試儀器同步互動以進行快速驗證、透過 multisite probing 與 frequency offsets 降低串擾，以及減少 touch-down 次數以降低元件受損風險。 R&S®ZNA performance vector network analyzer 具備在晶圓與裸晶層級驗證主動與被動元件所需的功能，使向量網路分析成為 on-wafer 與 die testing 產品的重要部分。 R&S®ZC millimeter converters 可把頻率範圍延伸至 1.1 THz 以進行太赫茲研究，並可靠近探針整合，以降低毫米波與 THz 應用中的損耗。 R&S®ZNBT multiport vector network analyzer 以速度為最佳化方向，支援最多 24 ports 的平行測試，公司將其定位於量產用途。 R&S®FE170 external frontend 可在探針旁為調變式 on-wafer testing 提供寬頻上變頻，並適合緊湊整合到探針台中。 在 probe-system integration 方面，Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG 將其 vector network analyzers 與 MPI Corporation 和 FormFactor 的 probe systems 整合，MPI QAlibria® 與 FormFactor WinCal 校正軟體則支援多種 R&S vector network analyzers。 在 load-pull 與 impedance matching 工作方面，公司列出 Maury Microwave 與 Focus Microwaves 的 tuners，R&S ZNA 與其他分析儀可整合並由合作夥伴的系統軟體支援 on-wafer 與 load-pull 系統。 其 on-wafer testing 方法包括用於被動元件、具有四個或更多 true parallel ports 的成本最佳化 vector network analyzers，以及用於主動元件、頻率範圍可達 1.1 THz 的高性能 vector network analyzer。 System-level calibration 可直接由 Rohde & Schwarz vector network analyzers 處理，也可由合作夥伴軟體處理，而分析儀也整合於 on-wafer 與 load-pull testing 所使用的系統軟體中。 應用案例包括在 MPI probe stations 上進行最高 110 GHz 的 differential RF on-wafer measurements、最高延伸至 THz 範圍的 three-port on-wafer mixer measurements、RF 元件的 on-wafer qualification，以及與 6G 相關的 sub-THz on-wafer characterization。 相關元件測試還包括 RF power-amplifier testing 與 load-pull testing，其中會透過阻抗匹配以及在不同阻抗條件下的測試來改善主動元件設計。 除了 on-wafer 應用之外，更廣泛的測試與量測產品還包括 FSWX Signal and spectrum analyzer、R&S®MXO 3 Oscilloscope、R&S®ZNB3000 Vector network analyzer、CMX500 5G one-box signaling tester、R&S®SFI100A Wideband IF vector signal generator 與 R&S®EPL EMI test receiver。 更廣泛的應用也涵蓋高速數位應用的 test fixture deembedding、利用 MXO oscilloscopes 最佳化電動傳動系統、6G 的 integrated sensing and communication、電子戰與衛星測試，以及 6G networks 的 AI 和 ML 議題。 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG 支援電子實驗室中的 PCB 設計測試，也支援推進至 6G 的研究，其測試與量測產品從基礎儀器延伸至進階量測解決方案。 在電子測試領域，公司把測試解決方案連結到數位設計、電力電子、高速數位介面、RF 與微波元件、醫療裝置和 EMC，而無線測試則涵蓋裝置、基礎設施與網路測試。
能力與產品項目
- 晶圓與裸晶 RF 測試儀器
- 晶圓測試開發至量產解決方案
- 晶圓／裸晶向量網路分析
- 最高 1.1 THz 毫米波／太赫茲測試
- 最多 24 埠平行 RF 測試
- Load-pull 與阻抗匹配測試
- RF 探針台與測試儀器整合
- S 參數 RF 向量校正
- 主動元件 RF＋DC 組合測試
- Multisite 探測平行測試與串擾抑制
- 調變式 On-wafer 寬頻上變頻
- On-wafer 系統級校正
- 最高 110 GHz 差動 RF On-wafer 量測
- THz 範圍三埠 On-wafer Mixer 量測
- Sub-THz On-wafer 特性量測
- RF 功率放大器測試