기본 정보
| 부스 | K2170 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.probeleader.com.tw |
회사 소개
ProbeLeader Co., Ltd는 2002년에 설립되었으며 본사는 Hsinchu의 Xiangshan Industrial Zone에 있고 반도체 웨이퍼 및 IC 테스트 액세서리의 설계와 조립에 주력합니다. Hsinchu의 Jinshui 공장과 중국 Wuxi 공장에 프로브 카드 생산 라인을 두고 있으며 Kaohsiung에는 고객 서비스 및 유지보수 센터가 있습니다. 최근에는 AOI 장비의 조립, 유지보수, 판매로 사업을 확장했고 공급업체와 협력해 입자 검사 장비, 결함 검사 장비, 화합물 반도체 관련 소모품을 개발하고 있습니다. 또한 광전자, 전기차, 의료 산업으로 점진적으로 다각화하면서 지속적인 혁신, 생산능력 확대, 안정적인 품질, 유연한 협력, 다양한 서비스로 고객 요구를 충족합니다. ProbeLeader Co., Ltd는 고객과 함께 성장하고 장기적인 상호 신뢰와 상호 이익의 파트너십을 구축하는 데 주력합니다. 대만에서는 Hsinchu의 4개 공장 거점과 Kaohsiung 유지보수 센터를 운영하며 명시된 시설에는 Jinshui Factory(본사), NiuPu Factory, PuDong Factory, Kaohsiung Maintenance Center이 포함되고, 2008년부터 프로브 카드, 테스트 로드 보드, 장비 소모품의 무역 및 판매 서비스를 담당하는 중국 자회사를 순차적으로 설립했습니다. 사업 네트워크에는 Auro & Pro Corp. (ZhongHua Factory), Wuxi ProbeLeader Electronics Co., Ltd., ProbeLeader Technology Co., Ltd, ProbeLeader-Tech(Shanghai) Co., Ltd와 함께 Auro & Pro Corp., ProbeLeader Technology Co., Ltd, ProbeLeader-Tech(Shanghai) Co., Ltd가 포함됩니다. ProbeLeader Co., Ltd는 센서, 고성능 저전력 전자제품, 사물인터넷, 자동차 전자제품과 관련된 주요 검사 분야에도 참여하고 있습니다.
전시 제품
ProbeLeader Co., Ltd는 프로브 카드, 테스트 로드 보드와 소켓, 중고 이온 주입기를 포함한 중고 정밀 장비 및 부품, 검사 장비와 휴대형 계측기, 기타 소모품을 포함한 폭넓은 반도체 검사 제품과 서비스를 공급합니다. 업무에는 반도체 웨이퍼 및 IC 테스트, 반도체와 광전자 제품의 외관 검사, 팹 입자 검사, 정밀 장비 유지보수가 포함되며 제품에는 프로브 카드, 테스트 로드 보드, AOI 장비, 입자 검사 장비와 계측기가 포함됩니다. 커스텀 테스트 인터페이스의 설계 및 생산 외에도 장비 대리, 판매 및 이전, 부품 교체와 수리, 관련 after service를 제공합니다. ProbeLeader Co., Ltd는 ESTEK AUTOMATION AOI 광학 검사 장비를 도입해 IC, Lens, 유리 등 투명 및 불투명 대상의 결함 검사에 사용합니다. 웨이퍼 테스트 프로브 카드 기술에는 cantilever, vertical, MEMS probe cards가 포함되며 ReW, Spring, Straight, CIS N-Type, Cobra, MEMS 프로브 유형과 결합됩니다. ProbeLeader Co., Ltd는 고객 제품 특성, DUT 재료, 전기 요구사항에 맞춰 probe pitch, 기계 구조, PCB 설계를 맞춤화하고 엔지니어링 시뮬레이션 분석과 고속 신호 검증 기술을 통해 신호 무결성과 전송 효율을 높이는 동시에 노이즈 간섭을 억제해 안정적인 테스트 성능을 제공합니다. 프로브 카드 응용에는 MCU, PMIC, Analog, Mixed-Signal, Touch Panel, CMOS Image Sensor (CIS), WAT, Mini/Micro LED가 포함됩니다. 회사는 AI, HPC, GPU, CPU, ASIC, 첨단 패키징 요구에 대응하기 위해 fine-pitch, 고온, 고전압／고전력, 고속 전송 테스트 솔루션을 개발하고 있습니다. 명시된 프로브 카드 및 프로브 구성에는 WAT Cantilever Probe Card, CIS Cantilever Probe Card, CIS Vertical Probe Card, MLO Vertical Probe Card, MEMS Vertical Probe Card, Straight pin, Pogo pin, Cobra pin이 있습니다.
역량 및 제품
- 반도체 웨이퍼 테스트 프로브 카드 설계 및 조립
- AOI 장비 조립·유지보수·판매
- 파티클 및 결함 검사 장비 개발
- 캔틸레버 프로브 카드
- 수직형 프로브 카드
- MEMS 프로브 카드
- 파인피치·고온·고전압/고전력 테스트 솔루션
- 고속 전송 테스트 솔루션