기본 정보
| 부스 | K2170 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.probeleader.com.tw |
회사 소개
ProbeLeader Co., Ltd.는 2002년에 설립되었으며 본사는 신주 Xiangshan Industrial Zone에 위치합니다. 반도체 웨이퍼 및 IC 테스트 액세서리의 설계와 조립에 주력해 왔습니다. ProbeLeader는 Hsin Chu의 Jinshui 공장과 중국 Wuxi 공장을 포함한 프로브 카드 생산 라인을 보유하고 있습니다. 또한 가오슝에 고객 서비스 및 유지보수 센터를 운영하고 있습니다. 최근에는 AOI 장비의 조립, 유지보수 및 판매로 사업을 확대했으며 공급업체와 협력하여 파티클 검사 장비, 결함 검사 장비 및 화합물 반도체 관련 소모품을 개발했습니다. 동시에 광전자, 전기차 및 의료 산업으로 점진적으로 다각화하며 지속적으로 혁신하고 있습니다. ProbeLeader는 생산 능력을 지속적으로 확대하고, 매우 유연한 협력과 다양한 서비스를 통해 안정적인 품질을 제공하여 고객의 요구를 충족합니다. 또한 고객과 함께 성장하고 장기적인 상호 신뢰와 상호 이익의 파트너십을 구축하는 데 전념하고 있습니다.
전시 제품
ProbeLeader는 프로브 카드, 테스트 로드보드, 중고 이온 주입기, 검사 장비 등 광범위하고 다양한 반도체 검사 제품과 서비스를 제공하는 데 주력합니다. 2002년 ProbeLeader Co., Ltd는 대만 신주에 본사를 설립했으며, 반도체 웨이퍼 및 IC 테스트, 반도체 및 광전자 제품의 외관 검사, 공장 미립자 검사, 정밀 장비 유지보수를 주요 사업으로 하고, 제품은 프로브 카드, 테스트 로드보드, AOI 장비 및 미립자 검사 장비·계측기 등을 포함합니다. 맞춤형 테스트 인터페이스의 설계 및 생산 외에도 ProbeLeader의 서비스에는 장비 대리, 판매 및 이전, 부품 교체·수리와 관련 애프터서비스가 포함되며, 당사는 고객과 함께 성장하고 장기적인 상호 신뢰와 상생의 파트너십을 구축하기를 기대합니다. 반도체 및 광전자 산업 제품의 발전과 응용에 따라 고객의 제품 품질 관리 기준은 점점 더 엄격해지고 있습니다. ProbeLeader는 ESTEK AUTOMATION AOI 광학 검사 장비를 도입하여 IC, 렌즈, 유리 등 투명·불투명 소재의 결함 검사에 적용함으로써 고객에게 더욱 다양한 선택지를 제공합니다.
역량 및 제품
- 반도체 웨이퍼·IC 테스트 액세서리 설계·조립
- 프로브 카드 생산
- AOI 장비 조립 및 유지보수
- 반도체 웨이퍼 및 IC 테스트
- 팹 입자 검사
- 맞춤형 테스트 인터페이스 설계·생산