基本資料
| 攤位 | K2170 |
| 國別 | TW |
| 網站 | www.probeleader.com.tw |
公司簡介
勵威電子股份有限公司成立於 2002 年，總部位於新竹香山工業區，專注於半導體晶圓與 IC 測試配件的設計與組裝。公司在新竹金水廠與中國無錫廠設有探針卡生產線，並在高雄設有客戶服務與維修中心。近年來，勵威電子股份有限公司已拓展至 AOI 設備的組裝、維護與銷售，並與供應商合作開發微粒檢測設備、缺陷檢測設備與化合物半導體相關耗材。公司也逐步跨足光電、電動車與醫療產業，同時持續創新、擴充產能，並以穩定品質、彈性合作與多樣服務滿足客戶需求。勵威電子股份有限公司致力與客戶共同成長，建立長期互信與互利夥伴關係。在台灣，公司於新竹設有四個廠區並設有高雄維修中心，具名設施包括浸水廠(總部)、牛埔廠、埔東廠與高雄維修中心；自 2008 年起陸續成立中國子公司，負責探針卡、測試載板與設備耗材的貿易銷售服務。其事業網絡列有 Auro & Pro Corp. (中華廠)、Wuxi ProbeLeader Electronics Co., Ltd.、ProbeLeader Technology Co., Ltd、ProbeLeader-Tech(Shanghai) Co., Ltd，以及勵瑞科技股份有限公司、勵華電子有限公司與勵積電子有限公司。勵威電子股份有限公司也跨足感測器、高效能且低功耗的電子產品、物聯網與車用電子產品等關鍵檢測領域。
展出產品
勵威電子股份有限公司供應廣泛多元的半導體檢測產品與服務，包括探針卡、測試載板與插座、中古精密設備及零件（含中古離子植入機）、檢測設備及手持式儀器，以及其他耗材。其工作包括半導體晶圓與 IC 測試、半導體及光電產品之外觀檢測、廠房微粒檢測與精密設備維修，產品則包括探針卡、測試載板、AOI 設備，以及微粒檢測設備與儀器。除客製化測試介面的設計與生產外，其服務還包括機台代理、銷售與搬遷、零件更換與維修，以及相關 after service。勵威電子股份有限公司引進 ESTEK AUTOMATION AOI 光學檢測設備，用於 IC、Lens、玻璃等透明與不透明物件的缺陷檢查。其晶圓測試探針卡技術涵蓋 cantilever、vertical 與 MEMS probe cards，並搭配 ReW、Spring、Straight、CIS N-Type、Cobra 與 MEMS 等探針類型。勵威電子股份有限公司可依客戶產品特性、DUT 材料與電性需求，客製 probe pitch、機械結構與 PCB 設計，並透過工程模擬分析與高速訊號驗證技術提升訊號完整性與傳輸效率、抑制雜訊干擾，以維持穩定的測試效能。探針卡應用包括 MCU、PMIC、Analog、Mixed-Signal、Touch Panel、CMOS Image Sensor (CIS)、WAT 與 Mini/Micro LED。公司亦開發 fine-pitch、高溫、高電壓／高功率與高速傳輸測試解決方案，以因應 AI、HPC、GPU、CPU、ASIC 與先進封裝需求。具名探針卡與探針配置包括 WAT Cantilever Probe Card、CIS Cantilever Probe Card、CIS Vertical Probe Card、MLO Vertical Probe Card、MEMS Vertical Probe Card，以及 Straight pin、Pogo pin 與 Cobra pin。
能力與產品項目
- 半導體晶圓測試探針卡設計與組裝
- AOI 設備組裝、維修與銷售
- 粒子與缺陷檢測設備開發
- 懸臂式探針卡
- 垂直式探針卡
- MEMS 探針卡
- 細間距高溫高壓高功率測試方案
- 高速傳輸測試方案