基本資料
| 攤位 | N0966 |
| 國別 | KR |
| 產品分類 | Microscopes: Atomic Force Microscopes (AFM) · Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation · Equipment, Nanotechnology Tools · Materials, Nanotechnology · Failure Analysis and other Analytical Services |
| 網站 | www.parksystems.com |
公司簡介
Park Systems成立於1997年，是壹家專門從事納米設備測量的公司，Park公司在AFM技術發展中發揮著舉足輕重的作用，Park Systems始終是納米顯微鏡和計量學領域的創新者，致力於新技術開發，制造和銷售具有全自動化軟件且使用方便的高精度原子力顯微鏡（AFM）。我們總部位於韓國，並在美國，日本和新加坡都設有辦事處，我們的團隊不斷努力去滿足全球科學家和工程師的需求。隨著全球顯微鏡市場的快速增長，我們將繼續創新和開發新系統和功新能，為我們的產品成為最有效的高精度納米顯微鏡而努力。 Park Systems的產品用戶遍布全球，目前作為增長最快的AFM公司，我們已經擁有世界壹流的技術，並將通過開發核心技術和最優質產品來引領納米技術的發展。Park的AFM系列為用戶提供無與倫比的準確性和易用性。通過專門設計用於材料科學，電子學，生命科學，納米技術以及其他研究和工業領域的原子力顯微鏡，我們的產品能夠快速輕松地提供超高分辨率和極其精確的測量，從而得到廣大用戶的信賴。
能力與產品項目
- AFM 奈米尺度顯微技術
- AFM 量測
- 易用的奈米尺度顯微技術
- 材料科學研究用 AFM
- 研究與產業用 AFM
- 超高解析度 AFM 量測
- 電子學研究用 AFM