基本情報
| ブース | I2410 |
| 国 | TW |
| 製品カテゴリ | Vision; ID; Bar Code Systems · CV (capacitance-to-voltage) Probe systems · Thermal Sensing, Measurement, Analysis · Functional Test Systems · Linear Test Systems · Logic Test Systems · Optical Test Systems · Parametric Test Systems · Printed Circuit Board; Wire Board (PCB or PWB) Test and Repair · System on a Chip (SOC); Mixed Signal Test Systems · Wireless, non-contact Test Systems · Yield Mgmt; Process Control Software · Test Services or Consulting |
| ウェブサイト | www.ni.com/semiconductor |
会社概要
NIの半導体テストの顧客は、測定および性能要件を維持しながらテスト時間が10倍改善したと報告しています。スマートデバイスをテストするため、各組織は従来のATEやボックス計測器から、プラットフォームベースのアプローチへと移行しています。NIのプラットフォームベースのアプローチは、特性評価から量産まで、RFおよびミックスドシグナルテスト向けにコスト最適化された高性能なテストソリューションを提供します。その独自性についてさらに詳しく知るには、ぜひNIのブースにお越しください。
展示製品
技術的な問題のトラブルシューティングや製品の推奨から、見積もりや注文まで、私たちがサポートいたします。お問い合わせ Perspectivesでは、テストとテクノロジーの世界におけるNIの次なる展望をご紹介しています。すべての記事を見る LabVIEWはテストにおいて重要な役割を担い続けており、コアテクノロジー、コミュニティ、そして統合へのNIの投資により、スピード、効率性、そして新機能をお約束します。特集記事を読む 修理、RMAの依頼、校正のスケジュール調整、または技術サポートを受けることができます。有効なサービス契約が必要となる場合があります。サービスリクエストを開く 人気のソフトウェアダウンロード すべてのソフトウェア製品ダウンロードを見る 修理、RMAの依頼、校正のスケジュール調整、または技術サポートを受けることができます。有効なサービス契約が必要となる場合があります。サービスリクエストを開く NI Connect 2026を見逃しましたか？基調講演を振り返り、業界のリーダーたちがどのようにして今日のテストの未来を再定義しているかをご覧ください。 広帯域5Gデバイスの設計に取り組むエンジニアは、6 GHz未満の従来のセルラー周波数帯域（周波数範囲1 [FR1]）および24 GHzを超える困難なミリ波条件（周波数範囲2 [FR2]）において、より多くの周波数帯域で性能を検証する必要があります。新しい5Gデバイスは、キャリアアグリゲーションシナリオへの対応、ますます高密度化する変調方式のサポート、より厳格な時分割複信構成での動作、そして高精度なビームフォーミング能力を備えている必要があります。 5G設計のテストケースが増加し複雑化する中、エンジニアリングチームは厳しい市場投入期限を守るために効率化を図らなければなりません。NIは5G市場のリーダーと協力し、エンジニアリングの効率を向上させる最新のラボアプローチを開発しました。高速で信頼性が高くオープンな測定ソフトウェアと、高精度DCから広帯域RFまで、緊密に同期されたモジュール式ワークベンチを組み合わせることで、インタラクティブな立ち上げやデバッグから、広範な自動検証や特性評価に至るまで、ラボの役割全体にわたる強力なエンジニアリングワークフローを実現しました。 RFテストのベストプラクティスを理解し、正確な結果を得ることは、効率的なテスト手順にとって不可欠です。RF特性評価テストに必要な測定のために、RF計測器を使用する方法を学びましょう。 NIの強力なアプリケーションソフトウェアとPXI計測器の組み合わせにより、広帯域5G RFフロントエンドの立ち上げ、デバッグ、検証を迅速化します。プログラミング不要で、使いやすいGUIを使用してDC、デジタル、RF計測器を制御できます。最新の線形化アルゴリズムを実行しながら、直線性、出力電力、効率、変調品質など、重要なRFアンプパラメータを評価します。
対応領域・製品
- 24 GHz 超の 5G FR2 ミリ波デバイステスト
- 5G キャリアアグリゲーション・高密度変調テストケース
- 6 GHz 未満の 5G FR1 デバイステスト
- LabVIEW テストソフトウェア
- NI STS RF・ミックスドシグナル量産テスト
- RF アンプの線形性・出力電力・効率・変調品質評価
- 広帯域 5G RF 向け PXI 計測器
- 特性評価から量産までの RF・ミックスドシグナルテスト