基本情報
| ブース | I2410 |
| 国 | TW |
| ウェブサイト | www.ni.com/semiconductor |
会社概要
National Instruments Corporationによると、NIの半導体テスト顧客は、測定要件と性能要件を維持しながらテスト時間を10X改善しています。スマートデバイスのテストでは、組織は従来のATEやボックス型計測器からプラットフォームベースのアプローチへ移行しています。NIのプラットフォームベースのアプローチはcharacterizationからproductionまでを対象とし、RFおよびミックスドシグナルテスト向けにコスト最適化された高性能ソリューションを提供します。
展示製品
広帯域5Gデバイス検証は、6 GHz未満の従来セルラー周波数帯であるfrequency range 1（FR1）と、24 GHzを超えるミリ波条件のfrequency range 2（FR2）を対象とします。被試験デバイスは、carrier aggregation、高密度化する変調方式、より厳しいtime-division duplex構成、高精度beamformingに対応する必要があります。NIは5G市場のリーダー企業と協力し、5G設計テストケースの数と複雑さが増す中でエンジニアリング効率を高めるための最新ラボアプローチを開発しました。このアプローチは、高速で信頼性が高くオープンな測定ソフトウェアと、precision DCからwideband RFまでをカバーする緊密に同期したモジュール計測器のワークベンチを組み合わせます。同期されたソフトウェアと計測器は、対話型bring-upとdebugから大規模なautomated validation、characterizationまで、ラボ内の各役割のワークフローを支援します。NIはRFテストのベストプラクティスと、RF characterizationテストで必要な測定にRF計測器を使用する方法も提供しています。広帯域5G RF front-endのbring-up、debug、validationでは、アプリケーションソフトウェアとPXI instrumentationを組み合わせ、プログラミングなしでGUIからDC、digital、RF instrumentsを制御できます。同じ構成で、最新のlinearization algorithmsを実行しながら、linearity、output power、efficiency、modulation qualityなどの重要なRF amplifierパラメータを評価できます。NIの半導体ソリューションはラボから生産フロアまで拡張でき、analog、mixed-signal、5G、RFデバイスのテストを支援します。半導体製造への投資には、工程全体で変化するテスト要件に対応するソフトウェア、システム、自動テスト装置（ATE）が含まれます。Core VSTを含むVSTポートフォリオは、RF性能、コスト、サイズの最適化を目的とし、迅速な対話型測定からシステムレベルのRF validationとcharacterizationまでのデモを含みます。NIは、無線研究・設計・プロトタイピング、無線デバイスvalidationとcharacterization、mixed-signal IC validationとcharacterization、半導体production test、power semiconductor reliability test、wafer and parametric testを主要専門領域として挙げています。6G研究では、FR3 band、integrated sensing and communicationsのISACまたはJCAS、open RAN architectures、基盤技術としてのAIを扱っています。無線研究向けの名称付きソリューションにはWireless Communications Prototyping Solution、6G AI/ML Research RF Data Recording Solution、6G Research OAI Software Testbed Solution、6G Sub-THz Testbed Solutionがあります。無線デバイス検証ではRF Front-End Module Validation Solution、mmWave OTA Validation Solution、FMCW Radar Sensor Validation Solution、Wi-Fi Front-End Module Validation Solution、Ultra-Wideband Wireless Device Solution、Rapid VT Active Load Pull Solution、O-RAN Radio Unit Production Test Solutionを扱います。mixed-signal IC向けにはPower Management IC Validation Solution、Low-Dropout Regulator Validation Solution、Signal Chain Component Validation Solution、Power & Performance Validation、Semiconductor Device Control Solution、Digital Protocol Validation Solutionがあります。量産向けには、先進RF、mixed-signal、optoelectronic semiconductor devices用の従来型ATEに代わる選択肢を説明し、Semiconductor Test System（STS）、MEMS Production Test Solution、RF Production Test Solutionsを挙げています。power semiconductor reliabilityにはDynamic H(3)TRB & DRB、Dynamic Gate Stress（DGS）、Static H(3)TRB & HTGB、IOL & Power Cycling、Power Semiconductor Testing as a Serviceが含まれます。wafer and parametric分野では、トランジスタ形状の微細化に伴って高度な機能と高並列性が必要になることを説明し、Wafer Level Reliability Test SolutionとWafer Yield Management Solutionを挙げています。NIのvalidationワークフローは、visual debugging、real-time validation、collaborative tools、NI InstrumentStudio™ softwareを使ったワークフロー最適化も扱います。顧客事例には、NI PXI RF instruments、NI software、global collaborationによってQualcommがRF validation timeを30%短縮した例と、ウェハー当たりのチップ数が数千万に増えるMiniLEDでFitTechがNI PXI SMUを使ってthroughput課題に対応した例があります。ほかにImecがelectrical wafer-level testsで工程問題を早期検出し、歩留まり低下を管理し、R&D process flowを最適化してコストとtime to marketを削減した例、NXPがsemiconductor validationでautomationとstandardizationを利用した例があります。NIは5G device testingを、smartphone、tablet、IoT deviceなどの5G対応機器について、異なるネットワーク条件下でperformance、functionality、safetyを検証するプロセスとしています。対象にはRF validation、mmWave Over-the-Air（OTA）validation、performanceとreliability、safety and compliance、consumer expectationsとregulatory standardsへの適合確認が含まれます。NIはfeature bring-up、functional testing、negative testing、regression testing、KPI testing、data throughput test、overall device performance assessmentを5G testの形態として挙げています。5G device-test solutionsはRF validation and characterization、wideband RF design validation、mmWave OTA validationを含み、measurement-oriented softwareがmultichannel DC、digital、analog、wideband RF test instrumentsを制御してinteractiveとautomatedのdesign-validation sequenceを支援します。NIは5G LTE、5G TF、5G NRを区別し、5G NRはsub-6 GHzとmillimeter-wave frequenciesの双方を使用し、3GPP Release 15 standardsを使用するとしています。device-development lifecycleでは、early chipset development、device integration and optimization、conformance、regulatory、carrier acceptanceの各段階にテストを位置付けます。テスト種類には、gNodeB接続時にreal-time performance informationを得る5G UE、path loss、radiation pattern・antenna efficiency・antenna gainを測るantenna test、embedded antennaを持つ機器のOTA、power validation、wireless standards validation、protocol testingが含まれます。さらに、連続入力データへoverlapping FFTを用いるreal-time spectrum analysis、fixed wireless access、LTEおよびlegacy test systemsへの5G NR capabilities追加、5G NSAとSAの双方でFR1・FR2を扱うprotocol conformance testがあります。network emulatorsは制御されたラボ内で実ネットワークのLAN/WAN条件を再現し、feature bring-up、functional、negative、regression、KPI、data throughput、overall device performanceの各テストに使用されます。channel emulatorはdelay、Doppler effects、attenuation、multipath fading、dynamic propagation、blocking scenariosを扱い、広いsignal bandwidthと多数のfading channelsを持ち、5G NR、LTE Advanced、WLAN standardsを支援します。network scannerは自動device discovery、UDPとTCP servicesの検出、OSとfiltering systemの識別、network inventory、vulnerabilityとmisconfigurationの特定、notificationとreportingを扱います。browser-based test environmentは、その場で調整できるinteractive manual testingと、sequencer-driven automated scenariosの双方を提供し、RF parameter measurements、protocol tests、performance analysis、extensive validationを支援します。device validationの簡素化に向け、NIはsoftware-connected test systemsとprecision DCからwideband RFまでの同期計測器を組み合わせ、infrastructure providersとoperators向けにstand-alone 5G New Radio Test User Equipmentを提供し、radiation patternとbeam characteristicsを評価するOTA validationの中核にmmWave PXI Vector Signal Transducerを使用しています。
対応領域・製品
- RF・ミックスドシグナル半導体テスト
- 広帯域5Gデバイス検証
- 5G RFフロントエンド立上げ・デバッグ・検証
- RFフロントエンドモジュール検証
- ミリ波OTA検証
- O-RAN Radio Unit量産テスト
- 電源管理IC検証
- 半導体量産テスト
- MEMS量産テスト
- ウェハレベル信頼性テスト
- パワー半導体信頼性テスト
- ウェハ歩留まり管理
- RF量産テスト
- ウェハ・パラメトリックテスト