基本資料
| 攤位 | I2410 |
| 國別 | TW |
| 網站 | www.ni.com/semiconductor |
公司簡介
國家儀器股份有限公司表示，NI 半導體測試客戶在維持量測與性能要求的同時，測試時間可改善 10X。針對智慧裝置測試，各組織正由傳統 ATE 與箱式儀器轉向平台式方法。NI 的平台式方法涵蓋從特性分析到量產，提供成本最佳化且高性能的 RF 與混合訊號測試解決方案。
展出產品
寬頻 5G 裝置驗證涵蓋 6 GHz 以下傳統蜂巢頻段的頻率範圍 1（FR1），以及 24 GHz 以上毫米波條件的頻率範圍 2（FR2）。受測裝置必須處理載波聚合情境、日益密集的調變方式、更緊密的分時雙工配置與高精度波束成形。NI 與 5G 市場領導廠商合作，建立現代化實驗室方法，以因應 5G 設計測試案例數量與複雜度增加並提升工程效率。這套方法把快速、可靠且開放的量測軟體，與從精密 DC 到寬頻 RF 的緊密同步模組化儀器工作台結合。同步軟體與儀器支援不同實驗室角色的流程，從互動式 bring-up 與除錯，一直到大規模自動化驗證與特性分析。NI 也提供 RF 測試實務，以及 RF 特性分析測試所需量測中使用 RF 儀器的方法。針對寬頻 5G RF 前端的 bring-up、除錯與驗證，NI 結合應用軟體與 PXI 儀器，讓工程師無需程式設計即可透過 GUI 控制 DC、數位與 RF 儀器。相同配置可在執行最新線性化演算法時，評估線性度、輸出功率、效率與調變品質等關鍵 RF 放大器參數。NI 的半導體解決方案可由實驗室延伸到生產現場，並支援類比、混合訊號、5G 與 RF 裝置測試。其半導體製造投入包括軟體、系統與自動測試設備（ATE），用於因應整體流程中不斷變化的測試需求。VST 產品組合包含 Core VST，著重在 RF 性能、成本與尺寸之間取得平衡，展示內容從快速互動量測延伸到系統層級 RF 驗證與特性分析。NI 將無線研究、設計與原型開發；無線裝置驗證與特性分析；混合訊號 IC 驗證與特性分析；半導體量產測試；功率半導體可靠度測試；以及晶圓與參數測試列為主要專長領域。針對 6G 研究，NI 描述 FR3 頻段、整合感知與通訊（ISAC 或 JCAS）、開放式 RAN 架構，以及作為底層技術的 AI。具名的無線研究方案包括 Wireless Communications Prototyping Solution、6G AI/ML Research RF Data Recording Solution、6G Research OAI Software Testbed Solution 與 6G Sub-THz Testbed Solution。無線裝置驗證方案包括 RF Front-End Module Validation Solution、mmWave OTA Validation Solution、FMCW Radar Sensor Validation Solution、Wi-Fi Front-End Module Validation Solution、Ultra-Wideband Wireless Device Solution、Rapid VT Active Load Pull Solution，以及 O-RAN Radio Unit Production Test Solution。混合訊號 IC 相關方案包括 Power Management IC Validation Solution、Low-Dropout Regulator Validation Solution、Signal Chain Component Validation Solution、Power & Performance Validation、Semiconductor Device Control Solution 與 Digital Protocol Validation Solution。針對大量生產，NI 描述可供先進 RF、混合訊號與光電半導體裝置使用的傳統 ATE 替代方案，並列出 Semiconductor Test System（STS）、MEMS Production Test Solution 與 RF Production Test Solutions。功率半導體可靠度涵蓋 Dynamic H(3)TRB & DRB、Dynamic Gate Stress（DGS）、Static H(3)TRB & HTGB、IOL & Power Cycling，以及 Power Semiconductor Testing as a Service。晶圓與參數測試方面，NI 指出隨著電晶體幾何尺寸縮小，需要進階能力與高平行度以加速可靠度測試週期，並提供 Wafer Level Reliability Test Solution 與 Wafer Yield Management Solution。NI 的驗證流程也涵蓋視覺化除錯、即時驗證、協作工具，以及使用 NI InstrumentStudio™ 軟體最佳化工作流程。客戶案例包括 Qualcomm 透過 NI PXI RF 儀器、NI 軟體與全球協作將 RF 驗證時間縮短 30%，以及 FitTech 在每片晶圓晶粒數增加到數千萬顆時使用 NI PXI SMU 解決 MiniLED 吞吐量問題。其他案例包括 Imec 使用晶圓層級電性測試及早偵測製程問題、管理良率下降、最佳化研發流程、降低成本並縮短上市時間，以及 NXP 在半導體驗證中運用自動化與標準化。NI 將 5G 裝置測試定義為在不同網路條件下，驗證智慧型手機、平板電腦與 IoT 裝置等 5G 裝置的性能、功能與安全性。測試範圍包括 RF 驗證、毫米波 Over-the-Air（OTA）驗證、性能與可靠度檢查、安全與法規符合性，以及對消費者期待與法規標準的評估。NI 列出的 5G 測試形式包括功能 bring-up、功能測試、負面測試、迴歸測試、KPI 測試、資料吞吐量測試與整體裝置性能評估。其 5G 裝置測試解決方案涵蓋 RF 驗證與特性分析、寬頻 RF 設計驗證與毫米波 OTA 驗證，並由量測導向軟體控制多通道 DC、數位、類比與寬頻 RF 測試儀器，以支援互動式與自動化設計驗證序列。NI 區分 5G LTE、5G TF 與 5G NR，並指出 5G NR 同時使用 sub-6 GHz 與毫米波頻率，採用 3GPP Release 15 標準。從裝置開發生命週期來看，NI 描述的測試涵蓋早期晶片組開發、裝置整合與最佳化、符合性、法規以及電信商驗收。列出的測試類型包括連接 gNodeB 時可提供即時性能資訊的 5G UE 測試、路徑損耗量測、天線輻射圖形與效率及增益測試、內建天線裝置的 OTA 測試、電源驗證、無線標準驗證與通訊協定測試。其他測試範圍包含在連續輸入資料上使用重疊 FFT 的即時頻譜分析、固定無線接取、在 LTE 與舊有測試系統加入 5G NR 能力，以及針對 5G NSA 與 SA 模式跨 FR1、FR2 的通訊協定符合性測試。NI 描述的網路模擬器可在受控實驗室環境中重現真實 LAN/WAN 條件，用於功能 bring-up、功能、負面、迴歸、KPI、資料吞吐量與整體性能測試。通道模擬器則涵蓋延遲、都卜勒效應、衰減、多路徑衰落、動態傳播與遮蔽情境，並具備寬訊號頻寬與大量衰落通道，可支援 5G NR、LTE Advanced 與 WLAN 標準。NI 也描述可自動發現裝置、探索 UDP 與 TCP 服務、辨識作業系統與過濾機制、建立網路清單、找出漏洞與錯誤設定並提供通知與報告的網路掃描器。瀏覽器式測試環境支援可即時調整的互動式手動測試，也支援由 sequencer 驅動的自動化情境，用於 RF 參數量測、通訊協定測試、性能分析與廣泛驗證。為簡化裝置驗證，NI 將軟體連接測試系統與從精密 DC 到寬頻 RF 的同步儀器結合，另提供獨立版 5G New Radio Test User Equipment 供基礎設施業者與營運商使用，並以 mmWave PXI Vector Signal Transducer 作為 OTA 驗證核心，用於評估輻射圖形與波束特性。
能力與產品項目
- RF與混合訊號半導體測試
- 寬頻5G裝置驗證
- 5G RF前端啟動除錯與驗證
- RF前端模組驗證
- 毫米波OTA驗證
- O-RAN無線單元量產測試
- 電源管理IC驗證
- 半導體量產測試
- MEMS量產測試
- 晶圓級可靠度測試
- 功率半導體可靠度測試
- 晶圓良率管理
- RF量產測試
- 晶圓與參數測試