基本資料
| 攤位 | I2410 |
| 國別 | TW |
| 產品分類 | Vision; ID; Bar Code Systems · CV (capacitance-to-voltage) Probe systems · Thermal Sensing, Measurement, Analysis · Functional Test Systems · Linear Test Systems · Logic Test Systems · Optical Test Systems · Parametric Test Systems · Printed Circuit Board; Wire Board (PCB or PWB) Test and Repair · System on a Chip (SOC); Mixed Signal Test Systems · Wireless, non-contact Test Systems · Yield Mgmt; Process Control Software · Test Services or Consulting |
| 網站 | www.ni.com/semiconductor |
公司簡介
NI 的半導體測試客戶回報，在維持量測與性能要求的同時，測試時間獲得 10 倍的改善。為了測試智慧型裝置，各組織正從傳統的 ATE 與箱型儀器（box instruments）轉向以平台為基礎的方法。NI 以平台為基礎的方法，從特性分析（characterization）到量產，為 RF 與混合訊號（mixed-signal）測試提供成本最佳化、高性能的測試解決方案。歡迎蒞臨 NI 攤位，進一步了解其獨特之處。
展出產品
從故障排除技術問題與產品推薦，到報價與訂單，我們隨時為您提供協助。聯絡我們 Perspectives 展示了 NI 如何看待測試與技術領域的未來趨勢。查看所有文章 LabVIEW 在測試領域中依然扮演關鍵角色，透過 NI 對核心技術、社群與整合的投入，承諾提供速度、效率與新功能。閱讀我們的精選文章 您可以申請維修、RMA、預約校正或取得技術支援。可能需要有效的服務合約。開啟服務請求 熱門軟體下載 查看所有軟體產品下載 您可以申請維修、RMA、預約校正或取得技術支援。可能需要有效的服務合約。開啟服務請求 錯過了 NI Connect 2026 嗎？回顧主題演講，探索產業領導者如何以當今技術重新定義測試的未來。 致力於寬頻 5G 裝置設計的工程師，必須在 6 GHz 以下的傳統蜂巢式頻率範圍 [頻率範圍 1 (FR1)]，以及 24 GHz 以上具挑戰性的毫米波條件 [頻率範圍 2 (FR2)] 下，驗證更多頻段的效能。新型 5G 裝置必須處理載波聚合情境、支援日益密集的調變方案、以更嚴格的分時雙工配置運作，並具備高精確度的波束成形能力。 隨著 5G 設計測試案例的數量與複雜度增加，工程團隊必須簡化流程以達成積極的上市期限。透過與 5G 市場領導者合作，NI 開發了一套能提升工程效率的現代化實驗室方法。藉由結合快速、可靠且開放的量測軟體，以及一套高度同步的模組化工作台儀器（從精密 DC 到寬頻 RF），我們為實驗室各職能解鎖了強大的工程工作流程，從互動式啟動與除錯，到廣泛的自動化驗證與特性分析。 了解 RF 測試的最佳實務並獲得準確的結果，對於高效的測試程序至關重要。學習如何使用 RF 儀器進行 RF 特性分析測試所需的量測。 利用 NI 強大的應用軟體與 PXI 儀器組合，加速寬頻 5G RF 前端啟動、除錯與驗證。透過易於使用的 GUI 控制 DC、數位與 RF 儀器，無需程式設計。在執行最新線性化演算法的同時，評估關鍵的 RF 放大器參數，包括線性度、輸出功率、效率與調變品質。
能力與產品項目
- 24 GHz 以上 5G FR2 毫米波裝置測試
- 5G 載波聚合與高密度調變測試案例
- 6 GHz 以下 5G FR1 裝置測試
- LabVIEW 測試軟體
- NI STS RF 與混合訊號量產測試
- RF 放大器線性度、輸出功率、效率與調變品質評估
- 寬頻 5G RF 用 PXI 儀器
- 從特性分析到量產的 RF 與混合訊號測試