基本情報
| ブース | K2960 |
| 国 | JP |
| ウェブサイト | www.twmjc.com.tw |
会社概要
株式会社日本マイクロニクスは、半導体工程のウェハ検査に使用するプローブカード、半導体テスタ、ウェハプローバ、FPD 検査装置を開発、製造、販売しています。主力製品は半導体プローブカードで、ウェハの良否を判定する検査インターフェースとして、プリント基板には最大で十数万本の超精密プローブを搭載でき、プローブがウェハ電極に接触してテスタの信号を伝送します。同社は主要なプローブカード生産設備を社内で企画・内製し、一貫した生産管理により異なる要求への製品開発と納期対応を支えます。MEMS U-Probe はメモリデバイスのウェハ One Touch Down テストに使用され、株式会社日本マイクロニクスはメモリテスト用プローブカードで世界 No.1 の市場シェアを持つとしています。Vatry は高集積・高速 Logic、SoC デバイス向けの垂直型プローブカードで、従来の垂直型プローブカードから発展させた構造を採用し、10,000 ピンを超える多ピン製品に対応します。MEMS-SP は MEMS spring-pin 構造を採用し、マイクロプロセッサや SOC デバイスの flip-chip package テストに適し、接触性と保守性を特徴とし、small Pad や LCD-Driver 向けのプローブカードもあります。プローブカード以外にも、高周波試験用半導体 Test Sockets、コンパクトなテスタ、解析から power-device testing までの要求に合わせて開発した wafer probers を提供します。台湾では、販売と総合アフターサービスを担う台湾子会社 美科樂電子 と連携し、半導体試験製品と顧客要求を支援します。
展示製品
株式会社日本マイクロニクスは、半導体設計・製造向けに、ウェハ試験用 probe cards、testers、wafer probers から final testing 用 test sockets までの試験ソリューションを提供します。Probe card は半導体ウェハ試験の測定信頼性を左右する重要なインターフェースであり、半導体工程はより高密度、高速、高効率へ進んでいます。ウェハ試験ではウェハ上の半導体デバイスの電気特性を確認し、wafer probers は IC 特性評価、信頼性評価、欠陥解析に使用され、工程特性と電気的検証を含む test element groups (TEG) を高精度で測定・評価します。Semiconductor tester は半導体 IC に電気信号を与え、出力信号を期待値と比較し、設計仕様どおりに動作しているかを確認します。最終検査では完成した IC chips の性能と信頼性を test socket で厳格に検査します。MJC は 2 種類の Test Socket を提供し、顧客の試験環境仕様に合うよう製造します。BeeContacts test sockets は self-cleaning 構造を持ち、lead-free packages に適し、長寿命により清掃頻度の低減と歩留まり向上を支援します。J-Contacts は high-frequency devices の測定向けに高信頼性 test sockets を提供し、probe-card、tester、wafer-prober とともにウェハ試験から最終試験までをカバーします。wafer process では、ウェハに回路パターンを形成し、イオン注入によって微細な電子回路を作った後、ウェハの電気試験へ進みます。Assembly では IC chips をウェハから切り出し、resin mold を使って package に封止してから final inspection に進みます。これらの試験ソリューションとともに示される Semiconductor series の用途カテゴリーには Computer、Mobile phone、Smart car、Smart appliances、Wireless があります。probe cards、wafer probers、testers、test sockets を組み合わせ、wafer-process development と wafer electrical testing から package-level final inspection までの測定・評価をカバーします。
対応領域・製品
- 半導体プローブカード
- ウェハプローバ
- 半導体テスタ
- 半導体テストソケット
- FPD検査装置
- Logic/SoC向け多ピン垂直プローブカード