基本情報
| ブース | K2960 |
| 国 | JP |
| ウェブサイト | www.twmjc.com.tw |
会社概要
MICRONICS JAPAN CO., LTD.（以下 MJC）は、半導体プロセスにおけるウェーハ検査に使用されるプローブカード、半導体テストハンドラー、ウェーハプローバー、および FPD 検査装置の開発・製造・販売を主な事業としています。MJC の主力製品は半導体プローブカードで、ウェーハの良否を判定する際に使用される検査器具です。プリント基板に植えられる針の数は最大で十数万本に達し、これらの超精密プローブがウェーハ上の電極に接触することで、テスターが送る信号を伝達します。MJC は自社製プローブカードの主要生産設備を積極的に整備しており、社内で生産全体を管理できるため、要求に応じた製品開発や納期対応能力の面で、他社と比較して大きな優位性を持っています。高い精度と品質が求められるプローブカードの中でも、特に MEMS 方式の「U-Probe」はメモリデバイスのウェーハ One Touch Down テストに使用でき、メモリテスト用プローブカードにおいて MJC は世界 No.1 のシェアを誇ります。MJC はメモリテスト用プローブカードで非常に高い販売実績を持ち、2019 年の SEMICON Taiwan でもロジックデバイステスト用の高機能プローブカードを数多く展示します。これらのプローブカードの中には垂直型の「Vatry」もあり、これは高度に集積化・高速化された Logic、SoC などのデバイスのテストに適した MJC の新製品です。MJC は従来の垂直型プローブカードを新たな構造に改良し、この構造は 10,000 本以上の多ピン製品にも対応できます。さらに、MEMS スプリングピン構造の「MEMS-SP」は、マイクロプロセッサや SOC デバイスなどのフリップチップパッケージテストに非常に適しており、このプローブカードは接触性と保守性の面で大変優れています。会場では、その他にも小型 Pad や LCD-Driver など多様なロジックデバイステスト用のプローブカードをご紹介します。MJC のブースでは、プローブカードのほかにも、高周波テストに適した接触安定性の高い半導体テストソケット（Test Sockets）や、精巧な小型テスター、解析からパワーデバイステストまで多様なニーズに応じて開発されたウェーハプローバーなど、最新のテストソリューションをご紹介します。今後 MJC は、台湾での販売および総合的なアフターサービスを担う台湾子会社と協力し、高品質な製品とサービス、そしてお客様のさまざまなニーズに応じて、半導体テストの最適なソリューションを提供してまいります。ぜひ MJC の出展ブースにお越しください。
対応領域・製品
- 10,000 針超の高ピン数 vertical probe cards
- FPD 検査装置
- Logic および SoC 試験向け vertical-type Vatry probe cards
- flip-chip package 試験向け MEMS-SP probe cards
- memory device ウェハの One Touch Down 試験
- memory device ウェハ試験向け MEMS-type U-Probe
- wafer probers
- 半導体 test handlers
- 半導体ウェハ検査向け probe cards
- 高周波試験向け test sockets