基本資料
| 攤位 | K2960 |
| 國別 | JP |
| 網站 | www.twmjc.com.tw |
公司簡介
MICRONICS JAPAN CO.,LTD. (以下稱為MJC)主要經營項目為半導體製程中晶圓檢測時所使用的探針卡、半導體測試機、晶圓針測機及FPD檢測設備的開發、製造及販售。 MJC的主要產品為半導體探針卡，此產品是在判斷晶圓良否時所使用的檢查器具。探針卡植在印刷電路板上的數量最高可達十數萬根針，藉著這些超精密的探針接觸晶圓上的電極即可傳遞測試機所發送的訊號。 MJC積極地規劃公司內部自製探針卡的主要生產設備，由於在公司內可做整體的生產管理，在依照需求不同所進行的製品開發及交期的對應能力方面，此乃MJC與其他公司比較下有著極大的優勢。 在要求高精度與品質的探針卡中，特別是MEMS微機電式的「U-Probe」可用於記憶體裝置的晶圓One Touch Down測試，這在記憶體測試的探針卡當中MJC擁有全球No.1的市占率。 MJC在記憶體測試的探針卡擁有極高的販售實績，在2019年的台灣半導體展當中也將展示許多邏輯裝置測試的高機能探針卡。 這些探針卡當中也有垂直型針種的「Vatry」，這是MJC的新產品適用於測試高度整合化/高速化之Logic、SoC等裝置。MJC是將以往的垂直型探針卡改良成新的構造，此構造也可對應10,000 根針以上的多針數產品。此外，MEMS彈簧針構造的「MEMS-SP」極適於微處理器、SOC裝置等覆晶封裝測試，此款針卡在接觸性及維修性方面有其十分優越之處。在現場我們也會介紹其他如小Pad、LCD-Driver等多種的邏輯裝置測試的探針卡。 在MJC的攤位裡除了探針卡之外，我們也會介紹目前最新的測試解決方案，例如接觸穩定性高適用於高頻率測試的半導體測試基座Test Sockets，另外還有精巧的小型測試機、從解析至power device測試等依照多種需求而開發的晶圓針測機等。 MJC今後將與在台販售及做整體售後服務的台灣子公司美科樂電子一同攜手合作，以高品質的產品及服務並依客戶的各種需求提供客戶半導體測試最佳的解決方案，請務必蒞臨参観MJC展出Booth。
能力與產品項目
- FPD 檢測設備
- Logic 與 SoC 測試用 vertical-type Vatry probe cards
- flip-chip package 測試用 MEMS-SP probe cards
- memory device 晶圓 One Touch Down 測試
- memory device 晶圓測試用 MEMS-type U-Probe
- wafer probers
- 半導體 test handlers
- 半導體晶圓檢測用 probe cards
- 超過 10,000 針的高 pin 數 vertical probe cards
- 高頻測試用 test sockets