기본 정보
| 부스 | N0362 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.chunson.com |
회사 소개
JC’s Chunson Limited는 1997년 타이베이에서 설립되었습니다. 당사는 반도체 및 태양광 기계와 측정 기기를 전문으로 합니다. 중국과 대만에서 G&N - 태양광 브릭 연삭기, 웨이퍼 연삭기; E+H - PV 및 SEMI 웨이퍼 두께, 휨 게이지, 비접촉 저항률 게이지; Hologenix - Magic Mirror, 웨이퍼 에지 결함 검출 시스템을 대리합니다. 당사의 목표는 고객에게 최고 품질의 서비스와 지원을 제공하는 것입니다. 웹사이트: www.chunson.com으로 언제든지 문의해 주십시오.
전시 제품
Waferstudio는 오늘날 반도체 산업의 모든 참여자(웨이퍼 및 칩 제조업체, 태양광 산업, 리클레이머)가 직면한 가장 큰 과제에 대해 한눈에 파악할 수 있는 솔루션을 제공합니다. 전체 생산 공정을 맞춤형으로 시각화하고 데이터를 분석할 수 있으며, 여러 애플리케이션의 측정 결과를 편리하게 병합할 수 있습니다. Waferstudio는 이를 통해 전체 개요와 통찰을 제공하고 새로운 관점을 열어 줍니다. 생산 체인, 효율성, 수율 및 품질을 위해 활용할 수 있습니다. 특히 현대 산업에서 가장 까다로운 분야 중 하나에서 Waferstudio는 다음과 같은 핵심적인 경쟁 우위를 제공합니다: 。7가지 보간 방법: 보간 방법은 시각화가 이전 공정 단계를 얼마나 현실적으로 표현하는지를 결정합니다. 이를 통해 공정을 최적화할 수 있습니다. 따라서 Waferstudio는 서로 다른 일곱 가지 보간 방법을 제공합니다(대부분의 소프트웨어 솔루션은 최대 2가지를 제공합니다). E+H가 개발한 pykophylatic 보간법은 웨이퍼 생산 요구사항에 특별히 맞춰져 있습니다. 정규화되고 사용자 지정 가능한 전체 무지개 색상 스케일을 통해 높이를 직관적으로 추정할 수 있습니다. 。Silhouette: 강한 대비를 통해 변형을 한눈에 파악할 수 있으며 기판의 사실적인 이미지를 제공합니다. 。Shading technology: 음영을 통해 사람의 눈은 최소한의 시간에 지형적 차이를 감지하는 데 익숙합니다. 따라서 당사의 음영 기술은 아주 작은 결함까지 보이도록 개발되었습니다. 데이터 처리뿐만 아니라 복잡한 과제의 해결도 가능하게 하는 소프트웨어를 원하십니까? 당사는 공정 최적화를 위해 Waferstudio를 특별히 개발했으며, 따라서 분석 기능을 다양한 개별 작업에 사용할 수 있습니다. 그중 예를 들면 다음과 같습니다: 。Site TIR (Total Indicator Reading): Site TIR 값은 서브마이크론 형상 측정에서 Global TIR 값보다 더 관련성이 높을 수 있습니다. Waferstudio는 필요에 따라 개별 Site TIR 측정값을 매핑합니다. 。2D cut function: 예를 들어 딤플과 결함을 더 정밀하게 판정해야 하는 경우 Waferstudio의 2D 단면 기능이 이 목적에 적합합니다. 。Measure Local Standard Deviation: 이 기능을 사용하면 표준편차를 빠르고 간편하게 산출할 수 있습니다.
역량 및 제품
- 반도체 및 태양광 장비·측정기기