기본 정보
| 부스 | K3478 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.IntTechCorp.com |
회사 소개
Integrated Technology Corporation Taiwan Branch는 Integrated Technology Corporation의 일부이며, 해당 회사는 미국 애리조나주 Tempe를 기반으로 1975년부터 반도체 산업에 기술 솔루션을 제공해 왔습니다. 회사는 계측, 시험 및 OEM 장비 요구를 지원하며 IC 프로브 카드 시험, 분석 및 수리, 산업용 계측과 검사, 전력 반도체 소자의 동적 시험을 제공합니다. 설계 팀은 전자, 기계, 소프트웨어 및 광학 분야의 역량을 결합해 전체 시스템 솔루션을 구축하며, 까다로운 요구를 위해 신뢰성과 고성능을 갖춘 장비를 제공한다고 설명합니다. ITC는 프로브 카드 분석기와 전력 반도체 동적 시험 장비를 핵심 사업 분야로 제시하고 있으며, 전 세계에서 사용되는 장비의 시험 능력과 신뢰성을 높이기 위한 개발을 지속합니다. 제조는 수직 통합 개념을 기반으로 하며, ITC는 자동 가공 센터를 갖춘 기계 가공 시설, 전기 및 기계 CAD, 완전한 전자 회로 기판 제조와 시험 기능을 포함한 자원을 사내에 보유합니다. 전 세계 서비스 및 교육 인력이 고객을 지원하여 사내 설계와 제조 자원에 더해 설치 장비에 대한 지속적인 지원을 제공합니다. ITC가 처음 개발한 제품은 Navtronic Flight Computer이며 이후 Smithsonian museum이 항공 분야의 이정표로 받아들였고, 회사는 이를 초기 엔지니어링 역사의 사례로 소개합니다. 회사는 기존 장비가 노후화되도록 두기보다 고객에게 업그레이드 경로를 제공하려는 진화형 설계 철학을 유지하며, 20년 이상 전에 출하된 장비에도 업그레이드 솔루션을 제공할 수 있다고 밝힙니다. ITC는 신규 및 기존 고객과의 지속적인 협력도 중시하여 새로운 기능, 새로운 프로브 카드 분석기 motherboard, 새로운 시험 기능을 함께 개발하고, 현재 사용되는 기술과 인터페이스 및 고객별 요구에 맞춰 프로브 카드 계측과 전력 반도체 시험 솔루션을 구성합니다. 지식재산 포트폴리오에는 Integrated Circuit Probe Card Inspection System의 US Patent No. 5,657,394와 US Patent No. 6,118,894, Dual-Mode Power Converter의 US Patent No. 5,563,781, Method and Apparatus for Providing Controlled Mechanical Braking Torque의 US Patent No. 5,189,360이 포함됩니다. 또한 Programmable Integrated Crosspoint Switch의 US Patent No. 4,949,084, Computer Controlled Exercise Machine의 US Patent No. 4,869,497, Torque Sensor의 US Patent No. 4,785,674, Apparatus for Providing Controlled Mechanical Braking Torque의 US Patent No. 5,442,276이 기재되어 있습니다. 같은 일부 목록의 반도체 관련 특허에는 전력 소자의 고전류 프로브 시험용 프로브 니들 보호 방법 US Patent No. 7,521,947, 고전류 Kelvin 연결 및 검증 방법 US Patent No. 9,304,147, 전력 반도체 파괴 시험의 손상 저감 방법과 장치 US Patent No. 9,759,763이 포함되며 Probilt는 US trademark로 기재되어 있습니다.
전시 제품
Probilt 프로브 카드 분석기 제품군은 다양한 프로브 카드 기술에 대해 빠르고 정확하며 반복 가능한 시험 데이터를 제공하고, 사용자가 정의할 수 있는 비전 파라미터를 통해 복잡하고 새로운 프로브 팁 형상도 캡처하여 정확하게 측정할 수 있습니다. Probilt 모델에는 PB1500, PB3600, PB6500 및 PB6800이 있으며, PB6800의 대형 측정 chuck은 직경 최대 300 mm의 probe array를 chuck 표면 밖으로 돌출시키지 않고 touchdown할 수 있습니다. Probilt의 전기 측정 기능은 PCB에 복잡한 회로와 relay가 있는 프로브 카드를 위해 어느 channel에서나 relay를 구동할 수 있으며, 수직형 프로브 카드 응용에는 300Kg의 lift force가 제시됩니다. PB3600, PB6500, PB6800의 시험 항목에는 leakage, OD leakage, capacitor leakage, alignment, scrub analysis, tip diameter, planarity, contact resistance, wire check, gram force, tip depth가 포함되고, Hot Chuck 옵션으로 높은 온도 조건을 제공하며 relay, capacitor, resistor의 부품 측정도 지원합니다. 전력 반도체 시험에서는 생산 시험과 특성 평가를 위한 tester 제품을 제공하며 Unclamped Inductive Load 시험 시스템을 포함하고, Silicon Carbide, 즉 SiC 이산 전력 소자의 항복 전압 상승 때문에 UIL 시험 솔루션에 더 높은 전압 능력이 필요하다고 설명합니다. ITC는 55 및 75 series tester 모두에서 4000V/200A UIL 기능을 개발했으며 ITC55100C-2HVN과 ITC75100-2HVN은 각각 4000V/200A 기능을 갖는 N-channel only 시스템으로 제시됩니다. ITC55100D-6KVN은 ITC55100 tester series의 최신 세대로 소개되며 고급 microcontroller를 사용해 peak current와 zero current에 대한 응답 시간을 10배 향상시켜 charging time, avalanche time 및 보고되는 peak drain current의 정확도를 높입니다. ITC는 주요 tester 브랜드와 종류에 대한 인터페이스를 포함해 100종이 넘는 motherboard를 제조하며, custom probe card를 포함한 새로운 tester interface용 motherboard도 신속하게 설계하고 제조할 수 있습니다. 이 motherboard는 동일한 힘과 connector control method로 tester mechanical conditions를 모사해 실제 공장 프로브 카드 시험 조건을 재현하고, 동일한 reference surface를 유지하면서 wafer prober의 카드 고정 조건도 모사하도록 설계됩니다. 프로브 카드 분석기, 전력 반도체 동적 시험 시스템, 맞춤형 motherboard 및 관련 측정 기능을 통해 probe-tip geometry measurement부터 고전류 및 고전압 소자 특성 평가까지 반도체 probe와 test 요구를 지원합니다.
역량 및 제품
- IC 프로브 카드 분석 장비
- IC 프로브 카드 수리 솔루션
- 전력 반도체 양산 시험 및 특성 평가 장비
- 4000V/200A 비클램프 유도성 부하 시험 시스템
- 프로브 카드 테스터 인터페이스 마더보드 맞춤 설계 및 제조
- 전자 회로 기판 제조 및 시험
- 프로브 카드 및 전력 반도체 시험 장비 업그레이드
- 프로브 카드 누설 전류 시험
- 프로브 카드 정렬 측정
- 프로브 스크럽 자국 분석
- 프로브 팁 치수 측정
- 프로브 카드 평탄도 측정
- 프로브 카드 접촉 저항 측정
- 프로브 카드 배선 검사
- 프로브 접촉력 측정
- 가열 척을 이용한 프로브 카드 고온 시험
- 프로브 카드 릴레이, 커패시터 및 저항 측정