基本資料
| 攤位 | K3478 |
| 國別 | TW |
| 網站 | www.IntTechCorp.com |
公司簡介
美商積體整合科技股份有限公司隸屬 Integrated Technology Corporation，該公司以美國亞利桑那州 Tempe 為基地，自 1975 年起為半導體產業提供技術解決方案。公司服務計量、測試與 OEM 設備需求，範圍包括 IC 探針卡測試、分析與維修、產業計量與檢測，以及功率半導體元件的動態測試。其設計團隊整合電子、機械、軟體與光學專長以建立整體系統解決方案，公司並將其設備定位為可因應嚴苛需求、具可靠性與高效能的產品。ITC 表示，探針卡分析儀與功率半導體動態測試設備是核心業務領域，其設備在全球使用，研發工作則持續朝提升測試能力與可靠性推進。製造採垂直整合模式，ITC 將資源保留在內部，包括具自動加工中心的完整機械加工廠、電氣與機械 CAD，以及完整的電子電路板製造與測試能力。公司以全球服務與訓練人員支援客戶，使內部設計與製造資源之外，亦可對既有設備提供持續服務。ITC 的第一項開發產品是 Navtronic Flight Computer，之後被 Smithsonian museum 接受為航空領域的一項里程碑，公司並將此產品視為其早期工程沿革的一部分。公司採用演進式設計理念，目的是讓既有客戶擁有升級路徑，而不是使舊設備淘汰；公司表示，對於超過 20 年前出貨的設備仍能提供升級方案。ITC 也重視與新舊客戶持續合作，共同開發新功能、新的探針卡分析儀 motherboard 與新測試能力，並依不同技術、介面與客戶需求配置探針卡計量及功率半導體測試方案。其智慧財產權組合包括 Integrated Circuit Probe Card Inspection System 的 US Patent No. 5,657,394 與 US Patent No. 6,118,894、Dual-Mode Power Converter 的 US Patent No. 5,563,781，以及 Method and Apparatus for Providing Controlled Mechanical Braking Torque 的 US Patent No. 5,189,360。該組合另列 Programmable Integrated Crosspoint Switch 的 US Patent No. 4,949,084、Computer Controlled Exercise Machine 的 US Patent No. 4,869,497、Torque Sensor 的 US Patent No. 4,785,674，以及 Apparatus for Providing Controlled Mechanical Braking Torque 的 US Patent No. 5,442,276。同一份部分清單中的半導體相關專利包括高電流功率元件探測之探針保護方法 US Patent No. 7,521,947、高電流 Kelvin 連接與驗證方法 US Patent No. 9,304,147，以及功率半導體破壞性測試之損傷降低方法與裝置 US Patent No. 9,759,763，Probilt 則列為 US trademark。
展出產品
Probilt 探針卡分析儀產品線可為各類探針卡技術提供快速、準確且可重複的測試資料，使用者可自訂視覺參數，使複雜及新開發的探針尖端幾何形狀也能被擷取並準確量測。具名 Probilt 型號包括 PB1500、PB3600、PB6500 與 PB6800，其中 PB6800 採用大型量測 chuck，可讓直徑最高 300 mm 的 probe array 落針而不超出 chuck 表面。Probilt 的電氣量測能力包括可驅動任一 channel 上的 relay，以因應 PCB 上具有複雜電路與 relay 的探針卡，另列有 300Kg lifting force，對應垂直式探針卡應用。PB3600、PB6500 與 PB6800 所列測試項目包括 leakage、OD leakage、capacitor leakage、alignment、scrub analysis、tip diameter、planarity、contact resistance、wire check、gram force 與 tip depth，Hot Chuck 選配可提供較高溫度，並可對 relay、capacitor 與 resistor 進行元件量測。在功率半導體測試方面，ITC 提供生產測試與特性量測用 tester 產品，包括 Unclamped Inductive Load 測試系統，並指出 Silicon Carbide，也就是 SiC 離散功率元件的崩潰電壓提升，使 UIL 測試方案需要更高電壓能力。ITC 已在 55 與 75 series tester 上開發 4000V/200A UIL 能力，其中 ITC55100C-2HVN 與 ITC75100-2HVN 為 N-channel only 系統，均具 4000V/200A 能力。ITC55100D-6KVN 被列為 ITC55100 tester series 的最新一代，採用先進 microcontroller，使對 peak current 與 zero current 的反應時間提升十倍，進而提高 charging time、avalanche time 與回報 peak drain current 的準確度。ITC 也製造超過 100 種不同 motherboard，介面涵蓋主要 tester 品牌與類型，並可針對新的 tester interface，包括 custom probe card，快速設計與製造 motherboard。這些 motherboard 用來重現工廠探針卡測試條件，透過相同施力與 connector control method 模擬 tester mechanical conditions，同時也模擬 wafer prober 的卡片固定條件並維持相同 reference surface。整體而言，探針卡分析儀、功率半導體動態測試系統、客製 motherboard 與相關量測能力，可支援從 probe-tip geometry measurement 到高電流、高電壓元件特性量測的半導體 probe 與 test 需求。
能力與產品項目
- IC 探針卡分析設備
- IC 探針卡修復方案
- 功率半導體量產與特性測試設備
- 4000V／200A 非箝位感性負載測試系統
- 探針卡測試介面母板客製設計製造
- 電子電路板製造與測試
- 探針卡與功率半導體測試設備升級
- 探針卡漏電測試
- 探針卡對位量測
- 探針針痕分析
- 探針針尖尺寸量測
- 探針卡共平面度量測
- 探針卡接觸電阻量測
- 探針卡配線檢查
- 探針接觸力量測
- 加熱載台探針卡高溫測試
- 探針卡繼電器、電容與電阻量測