基本情報
| ブース | K3160 |
| 国 | TW |
| 製品カテゴリ | Burn-In Accessory Systems · Burn-In Systems · Circuit Repair; Design Modification; Redundant Memory Repair; Mask Repair Systems · Discrete Component Test Systems · Environmental Stress Systems - Temperature; Humidity; Pressure; HAST · ESD; EMS and Latch-up Systems · Failure Analysis Systems · Functional Test Systems · Handlers; Positioner Systems · Linear Test Systems · Logic Test Systems · Memory Test Systems · Optical Test Systems · Package Test Systems · System on a Chip (SOC); Mixed Signal Test Systems · Test Contactor Cleaning; Conditioning Systems · Test Head Manipulators and Docking Stations · Wireless, non-contact Test Systems |
| ウェブサイト | www.honprec.com/en |
会社概要
鴻勁精密（Hon Precision Inc.）— プロフェッショナルな IC テストハンドラと自動化技術。設立以来、鴻勁精密は世界中の半導体メーカーおよび装置サプライヤーと緊密なパートナーシップを築き、業界をリードする企業の一つとなりました。当社は FT、SLT、Flash/Memory などのソリューションの提供に専念し、絶えず進化する半導体製造プロセスの需要に応えるため、技術革新を追求し続けています。
展示製品
製品の詳細情報については、弊社までお問い合わせください。 FT（最終テスト）は、最終製品の品質と信頼性を保証するIC製造における重要な工程です。弊社のFT装置は非常に効果的かつ精密であり、生産効率と製品品質を向上させるために、2温度および3温度テストに対応しています。 SLT（システムレベルテスト）は、実世界のアプリケーション環境における動作条件をシミュレートします。これにより、さまざまなIC動作条件下での信頼性と性能、および最終製品における故障のない機能性を保証します。 温度制御ソリューションは、高発熱チップ向けに設計されており、より精密な温度制御の需要を満たすものです。これらのソリューションには、温度制御システム、温度監視装置、温度調整機能が含まれており、さまざまな過酷な温度設定下でも安定した温度環境を維持します。 装置のコンパクトなサイズは、エンジニアリング開発や実験目的に適しており、精密で信頼性の高いテストおよびハンドリング機能を備えています。このような装置は、エンジニアがR&D段階で問題を特定・修正し、実験の効率を高め、製品の品質と安定性を確保するのに役立ちます。 フラッシュ/メモリテストハンドラーは、フラッシュストレージデバイスやメモリをテストおよびハンドリングするために使用される装置の一つです。この装置は、あらゆる種類のメモリをテストし、その性能と信頼性を保証することができます。 DRAM Test Sorting Handlerは、DRAM（Dynamic Random Access Memory）のテストおよび分類専用に設計されています。この装置はDRAMに対して包括的なチェックを行い、効率的な動作と安定性に関する厳しい基準を満たしていることを保証します。 バーンインオーブンは、電子部品を長期間の動作にわたってテストする装置です。部品を高温にさらすことで、実世界のアプリケーションで発生する可能性のある問題をテストし、耐久性と安定性を保証します。 COF（chip-on-film）テストハンドラーは、COFパッケージ化された電子部品をテストする装置です。この装置は、COFパッケージ化された電子部品の機能と性能をテストし、その品質と信頼性を保証することができます。
対応領域・製品
- DRAM test sorting handler
- FT final-test handling ソリューション
- Flash/Memory test handlers
- IC test handlers と自動化技術
- SLT system-level test handling ソリューション
- burn-in oven および COF test handler
- 二温および三温 FT テスト
- 温度監視および調整システム
- 高発熱チップ向け温度制御