基本資料
| 攤位 | K3160 |
| 國別 | TW |
| 網站 | www.honprec.com/en |
公司簡介
鴻勁精密股份有限公司專注於專業IC測試分類機與自動化技術，並表示自成立以來持續與全球半導體製造商及設備供應商建立緊密合作，提供FT、SLT與Flash/Memory等解決方案，以因應持續演進的半導體製程需求。 公司也表示已與全球OSAT與IDM客戶建立緊密夥伴關係，並以提供高品質產品與服務為途徑，朝IC半導體自動化設備公司的發展願景前進。 其能力主張強調機台與溫度控制能力、品質與交期、價格效能比，以及客製化能力，以因應不同客戶需求。 整體測試分類機產品組合涵蓋最終測試、系統級測試、記憶體測試、溫度控制、工程開發、老化測試、自動光學檢測與MEMS測試，可對應IC及電子元件的生產與開發流程。
展出產品
FT測試分類機用於IC製造中的Final Test，這是確認最終產品品質與可靠性的關鍵步驟；設備支援雙溫與三溫測試，用於提升生產效率與產品品質。 SLT測試分類機執行System-Level Test，透過模擬實際應用環境中的運行條件，檢查IC在不同工作條件下的可靠性與性能，並評估其在最終產品中的無故障運行。 針對高發熱量晶片與更精確的溫度控制需求，溫度控制解決方案可包含溫度控制系統、溫度監測裝置與溫度調節，用以在各種嚴苛溫度設定下維持穩定環境。 實驗室用開發設備採小巧機台尺寸，適合工程開發與實驗用途，提供精確可靠的測試與分類功能，協助工程師在研發階段識別並修正問題、提高實驗效率，並維持產品品質與穩定性。 Flash測試分類機用於測試與分類Flash儲存裝置及記憶體，可測試不同類型的記憶體，以檢查其性能與可靠性。 DRAM測試分類機專門用於Dynamic Random Access Memory的測試與分類，透過全面檢測確認DRAM符合高效率運行與穩定性的嚴格要求。 Burn-In Oven讓電子元件在高溫環境下進行長時間運行測試，以揭露實際應用中可能出現的問題，並評估其耐久性與穩定性。 COF測試分類機針對Chip-on-Film封裝電子元件進行功能與性能測試，以支援品質與可靠性檢查；對位精度標示為1.5um，用於精確檢測與分類。 AOI檢測分類機運用Automatic Optical Inspection檢測電子元件，並被描述為可快速且精確地辨識表面瑕疵與錯誤，以協助提升生產效率與品質。 MEMS測試分類機專為Micro-Electro-Mechanical Systems元件設計，可測試Motion Sensors、Microphones、Pressure Sensors與Barometers等元件類型，以評估不同應用中的可靠性與準確性。 整體而言，鴻勁精密股份有限公司的測試與分類產品涵蓋IC最終測試與系統級測試、高發熱晶片溫度控制、工程開發設備、Flash與DRAM記憶體測試、老化測試、COF封裝測試、自動光學檢測及MEMS元件測試。
能力與產品項目
- 雙溫與三溫 FT 測試分類機
- SLT 系統級測試分類機
- 高發熱晶片溫控解決方案
- Flash Memory 測試分類機
- DRAM 測試分類機
- 電子元件 Burn-In Oven
- COF 1.5um 對位測試分類機
- AOI 自動光學檢測分類機
- MEMS 元件測試分類機