基本資料
| 攤位 | K3160 |
| 國別 | TW |
| 產品分類 | Burn-In Accessory Systems · Burn-In Systems · Circuit Repair; Design Modification; Redundant Memory Repair; Mask Repair Systems · Discrete Component Test Systems · Environmental Stress Systems - Temperature; Humidity; Pressure; HAST · ESD; EMS and Latch-up Systems · Failure Analysis Systems · Functional Test Systems · Handlers; Positioner Systems · Linear Test Systems · Logic Test Systems · Memory Test Systems · Optical Test Systems · Package Test Systems · System on a Chip (SOC); Mixed Signal Test Systems · Test Contactor Cleaning; Conditioning Systems · Test Head Manipulators and Docking Stations · Wireless, non-contact Test Systems |
| 網站 | www.honprec.com/en |
公司簡介
鴻勁精密 專業IC測試分類機與自動化技術 自成立以來，鴻勁精密公司一直與全球半導體製造商和設備供應商建立緊密合作，成為業界領導者之一。 致力於提供FT、SLT、Flash/Memory等解決方案，並不斷追求技術創新，以應對不斷發展的半導體製程需求。
展出產品
請聯繫我們以獲取更多產品資訊。 FT (final test) 是 IC 製造中的關鍵步驟，可確保最終產品的品質與可靠性。我們的 FT 設備高效且精確，並支援雙溫與三溫測試，以提升生產效率與產品品質。 SLT (system-level test) 模擬真實應用環境中的操作條件。它能確保 IC 在各種工作條件下的可靠性與效能，並保證最終產品具備無故障的功能性。 溫度控制解決方案專為高發熱晶片設計，旨在滿足對更精確溫度控制的需求。這些解決方案可包含溫度控制系統、溫度監控裝置與溫度調節，以確保在各種嚴苛的溫度設定下，仍能維持穩定的溫度環境。 機台體積小巧，適合工程開發與實驗用途；具備精確且可靠的測試與處理功能。此類設備有助於工程師在研發階段識別並修正問題，提升實驗效率，並確保產品的品質與穩定性。 Flash/memory test handler 是用於測試與處理快閃儲存裝置及記憶體的設備。該機台可測試各類記憶體，以確保其效能與可靠性。 DRAM Test Sorting Handler 專為測試與分類 Dynamic Random Access Memory (DRAM) 而設計。此設備對 DRAM 進行全面檢查，以確保其符合高效運作與穩定性的嚴格標準。 Burn-in oven 是一種在延長的操作期間內測試電子元件的設備。元件會暴露於高溫環境下，藉此測試在實際應用中可能出現的問題，以確保其耐用性與穩定性。 COF (chip-on-film) test handler 是用於測試 COF 封裝電子元件的設備。該機台可測試 COF 封裝電子元件的功能與效能，以確保其品質與可靠性。
能力與產品項目
- DRAM test sorting handler
- FT final-test handling 解決方案
- Flash/Memory test handlers
- IC test handlers 與自動化技術
- SLT system-level test handling 解決方案
- burn-in oven 與 COF test handler
- 溫度監測與調節系統
- 雙溫與三溫 FT 測試
- 高發熱晶片溫控