基本情報
| ブース | J2553 |
| 国 | TW |
| ウェブサイト | www.cxsemi.com.tw |
会社概要
CXsemi Company Limited は 2010 年に設立され、顧客へ専門的、高効率、高品質の技術サービスを提供することを目的としています。CXsemi Company Limitedは中古半導体装置、顕微鏡、Smart machine、3D IC、WLP、LED、膜厚メトロロジーツールの販売とサービスを専門領域としています。企業の中核価値として integrity、efficiency、passion、patience を掲げています。顧客サービスを重視する企業として、技術サービスを通じて顧客へ価値を提供する方針です。チームはコア技術を新興用途へ継続的に展開し、より多くの顧客要件に対応して長期価値を生み出します。会社には Optical Inspection と Machine Vision の 2 つの顧客サービス部門があり、光学・ビジョン関連サービスを構成しています。Optical Inspection には顕微鏡、粒子検査、干渉・反射・屈折などの物理光学技術で開発した装置が含まれ、半導体ウェーハ工場の CD Ovelay 用途も示されています。
展示製品
OptiProfiler は CXsemi Company Limited が ITRI と共同開発したモデルで、複数の光学メトロロジー用途を対象とします。用途の一つとして非接触プロファイリングがあります。システムは視野全体を高速で取得する機能も示されています。用途一覧には nanometer 高分解能と 3D カラーのプロファイル表示が含まれます。OptiProfiler はウェーハ薄膜応力解析にも対応します。ウェーハ表面欠陥表示も用途の一つです。CXsemi Company Limitedは in-situ コンセプトに基づき、産業生産ライン向けにインテリジェントでリアルタイムの光学検査サービスを提供し、工程歩留まり向上と生産損失低減を目標としています。光学検査サービスには顕微鏡と粒子検査のほか、干渉、反射、屈折を利用した装置が含まれます。金属顕微鏡が光学検査製品として挙げられています。Smart Vision System はインテリジェントなウェーハ画像認識システムとして掲載されています。FilmChek AS150 は膜厚測定向けで、同社の膜厚メトロロジーツールの販売・サービス領域とつながります。製品一覧には酸洗槽内のウェーハ破損監視もあります。OptiProfiler はウェーハ表面プロファイラーとしても掲載されています。2D_3D Hybrid Metrology ウェーハ光学検査装置も提供品の一つです。全体として、中古半導体装置、顕微鏡、マシンビジョン、膜厚メトロロジー、粒子検査、ウェーハプロファイリング、応力解析、欠陥可視化を半導体生産ニーズにつなげています。
対応領域・製品
- 中古半導体装置の販売・サービス
- 顕微鏡の販売・サービス
- 膜厚メトロロジーツールの販売・サービス
- 生産ライン向けin-situリアルタイム光学検査
- 粒子検査
- スマートウェーハ画像認識
- 酸洗槽内ウェーハ破損監視
- ウェーハ非接触表面プロファイリング
- ウェーハ薄膜応力解析
- 2D/3Dハイブリッドウェーハ光学検査