基本情報
| ブース | J2553 |
| 国 | TW |
| 製品カテゴリ | Base Loader Systems · Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection · Film Thickness; Thickness; Uniformity Measurement; Ellipsometer · Line Width; Critical Dimension (CD) Measurement · Microscopes: Optical Microscopes · Overlay Measurement · Particle Monitors; Analyzers - Airborne or Liquid · Stress; Refractive Index; Reflectivity & Conductivity Measurement · Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation · Cameras - Still; CCD; Video & Monitors · Yield Mgmt; Process Control Software · Measurement; Inspection Service |
| ウェブサイト | www.cxsemi.com.tw |
会社概要
CXsemi は2010年に設立され、お客様に専門的で効率的かつ高品質な技術サービスを提供することを目指しています。当社は中古半導体装置、顕微鏡、スマート装置／3D IC／ウェハレベルパッケージ（WLP）／LED／膜厚計測装置などの販売・サービスを専門としています。当社の企業コアバリューは、誠実・効率・情熱・忍耐です。お客様サービスを重視する企業として、お客様に最高の価値を提供することに努めています。当社のチームは常に中核技術を新たな応用分野へと広げ、より多くのお客様のご要望にお応えしています。これが、お客様の利益となる長期的価値を創造する当社の方針です。
対応領域・製品
- 3D IC、WLP、LED 向け膜厚計測ツール
- Smart machine 装置の販売およびサービス
- 中古半導体装置の販売およびサービス
- 顕微鏡の販売およびサービス