基本資料
| 攤位 | J2553 |
| 國別 | TW |
| 產品分類 | Base Loader Systems · Defect; Particle; Bump; Contamination Detection, Review or Inspection · Film Thickness; Thickness; Uniformity Measurement; Ellipsometer · Line Width; Critical Dimension (CD) Measurement · Microscopes: Optical Microscopes · Overlay Measurement · Particle Monitors; Analyzers - Airborne or Liquid · Stress; Refractive Index; Reflectivity & Conductivity Measurement · Wafer; Substrate Metrology; Topology; Nanotopography; Flatness Measurement; Crystalline Orientation · Cameras - Still; CCD; Video & Monitors · Yield Mgmt; Process Control Software · Measurement; Inspection Service |
| 網站 | www.cxsemi.com.tw |
公司簡介
CXsemi 成立於 2010 年，致力於為客戶提供專業、高效且高品質的技術服務。本公司專精於二手半導體設備、顯微鏡，以及智慧機台／3D IC／晶圓級封裝（WLP）／LED／膜厚計量設備等的銷售與服務。我們的企業核心價值為誠信、效率、熱情與耐心。我們是以客戶服務為導向的公司，致力於為客戶帶來最佳價值。團隊持續將核心技術延伸至新興應用，以滿足更多客戶的需求。這是我們為客戶創造長期價值的方式。
能力與產品項目
- 3D IC、WLP 與 LED 膜厚量測工具
- Smart machine 設備銷售與服務
- 二手半導體設備銷售與服務
- 顯微鏡銷售與服務