Changzhou Tonghui Electronic Co. Ltd.

SEMICON Taiwan 2026 참가업체 · 부스 S7837

부스 S7837국가 CN제품 주제 11개
전시회 정보

기본 정보

부스S7837
국가CN
웹사이트en.tonghui.com.cn/overview.html
참가업체 정보

회사 소개

Changzhou Tonghui Electronic Co. Ltd.는 1994년에 설립되었으며 R&D, 제조 및 마케팅을 통합한 성급 하이테크 기업입니다. 회사는 National Development Zone의 Changzhou Hi-tech Industry Development Zone에 위치하고 부지 면적 38000 m2, 건축 면적 3000 m2이며 직원은 200명 이상이고 그중 75% 이상이 대졸 이상의 학력을 보유합니다. R&D 인력은 전체 직원의 25% 이상이고 연간 R&D 투자는 연간 매출의 10%를 초과합니다. Tonghui는 20년 이상 전자 계측기 연구개발에 전념해 왔고 「Changzhou electronic component measuring instrument engineering research center」를 설립해 부·성·시·구 과학기술 프로젝트를 여러 차례 수행하고 성·시 과학기술 진보상을 여러 차례 받았습니다. 제품에는 전자 부품 파라미터 시험기, 권선 부품 시험기, 케이블 하네스 시험기, 전기 안전 시험기, 저항 시험기, 전력 전자 시험기, 데이터 수집/레코더, 디지털 멀티미터, 기타 계측기, 액세서리 및 소프트웨어 제품이 포함됩니다. 회사는 품질관리 시스템과 제품 제조 및 품질보증 팀을 결합해 통일된 품질 기준을 충족하고 측정 효율과 제품 품질 향상을 위한 측정 솔루션을 제공합니다. Tonghui는 직접 마케팅, 대리점 및 네트워크 판매를 결합한 다단계 마케팅 시스템을 사용하며 중국 20개가 넘는 성과 도시에 애프터서비스 시스템을 구축했습니다. 해외 마케팅 시스템은 북미, 유럽, 동남아시아, 남아시아를 포괄해 전 세계 고객과 국제 동종업계 교류를 지원합니다. Tonghui는 2015년 National Equities Exchange and Quotations에 상장되었으며 주식 코드는 833509입니다.

참가업체 정보

전시 제품

제품 분야에는 부품 파라미터 시험기, 미약 신호 시험기, 전력 전자 시험기, 반도체 시험기, 안전 및 전선 시험기, 집적회로 교육 실험 플랫폼, 자동 시험 시스템 ATE, 계측기 액세서리가 포함됩니다. 반도체 제품군에는 웨이퍼 C-V 특성 분석에 사용할 수 있는 Semiconductor C-V Characteristic Analyzer가 포함됩니다. 제품 포트폴리오에는 Semiconductor C-V Analyzer, Impedance Analyzer, Benchtop 및 Handheld LCR Meter, DC Bias Current Source, Automatic Transformer Test system, Precision Source Measurement Unit, Low Noise Precision Power Supply, DC Resistance Meter, Insualtion Resisitance Meter, Battery Tester, Digit Multimeter, AC/DC Power Supply, Bidirectional DC Power Supply, DC Electronic Load, Power Meter, Multifunction Safety Compliance Analyzer, Impluse Winding Tester, Cable / Harness Meter, Hipot Tester, Ground Bond Tester도 포함됩니다. TH511/TH512/TH513 Semiconductor C-V Characteristic Analyzer는 1kHz-2MHz를 지원하고 Ciss, Coss, Crss, Rg를 측정하며 Vgs 범위는 +/-40V, Vds 범위는 200V/1500V/3000V이고 구성에 따라 1~6 channels를 지원합니다. TH511/TH512/TH513은 10.1-inch 정전식 터치스크린, 1280*800 해상도, Linux, dual-CPU 구조, 최저 0.56ms LCR 시험 속도, spot test, list scan, 선택형 graphic scan, Ciss/Coss/Crss/Rg 동시 표시, CV 및 Ciss-Rg 곡선 스캔, LCR + VGS 저전압원 + VDS 고전압원 + channel switching + PC 통합 설계를 제공합니다. 표준 2-channel 구성은 두 장치 또는 듀얼 칩 장치를 동시에 시험할 수 있고 6 channels까지 확장 가능하며 고속 충전으로 커패시터 충전 시간을 줄여 빠른 시험을 지원하고 자동 지연 설정, VGS 0~±40V 및 VDS 0~200V/1500V/3000V High Bias, 10-bin sorting을 제공합니다. 응용 분야에는 다이오드, 트라이오드, MOSFET, IGBT, 사이리스터, integrated circuits, optoelectronic chips 등 반도체/전력 부품의 기생 커패시턴스 시험과 C-V 특성 분석, 웨이퍼 C-V 특성 분석, 액정 재료 탄성 상수 분석, 커패시터 및 정전용량 센서 C-V 시험·분석이 포함됩니다. 시험 레벨 전압 범위는 5mVrms-2Vrms, Vgs는 0~±40V, Vds는 0~200V/1500V/3000V, 출력 임피던스는 100Ω ±2%@1kHz이며 OPEN/SHORT/LOAD 교정, 1~32회 측정 평균, 5kHz 초과에서 Fast+ 0.56ms부터 Slow 220ms까지의 AD 변환 모드를 제공합니다. Ciss/Coss/Crss 측정 범위는 0.00001pF~9.99999F, Rg는 0.001mΩ~99.9999MΩ이며 Multi-Function Parameter List Scan은 20 spots, Graphic Scan은 최대 1001 spots를 지원하고 Single/Continuous 트리거와 Graphics/files 결과 저장을 제공합니다. 비교기 기능은 10Bin, PASS, FAIL, Tolerance 또는 continuous bin mode, 0-99999 bin count를 지원하며 201개 측정 결과를 일괄 읽기하고 내부 setup files 또는 외부 USB의 test setup files, screenshots, log files를 저장할 수 있습니다. 인터페이스에는 2개의 USB HOST, USB TMC-USB488 및 USB2.0 호환 USB DEVICE, 10/100M Ethernet LAN, HANDLER, RS232C, RS485가 포함되며 60 Minutes 부팅 예열, 100-120VAC/198-242VAC 47-63Hz 입력, 130VA 초과 소비전력, 430*177*405 mm 크기, 12kg 무게를 지원합니다. 표준 지그와 케이블에는 TH26063B 및 TH26063C Test Fixture, TH26063D TH510 fixture-control connection cable, TH26063G TH510 Test Extension Cable이 포함됩니다.

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역량 및 제품

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