基本情報
| ブース | S7837 |
| 国 | CN |
| ウェブサイト | en.tonghui.com.cn/overview.html |
会社概要
Changzhou Tonghui Electronic Co. Ltd.は1994年に設立され、R&D、製造、マーケティングを統合する省級ハイテク企業です。同社はNational Development ZoneのChangzhou Hi-tech Industry Development Zoneに位置し、敷地面積38000 m2、建築面積3000 m2、従業員200名超で、その75%以上が大学教育以上を受けています。R&D人員は従業員の25%以上を占め、年間R&D投資は年間売上高の10%を超えます。Tonghuiは20年以上にわたり電子計測機器の研究開発に取り組み、「Changzhou electronic component measuring instrument engineering research center」を設立し、国・省・市・区の科学技術プロジェクトを多数担当し、省・市の科学技術進歩賞を複数回受賞しています。製品には電子部品パラメータ試験器、巻線部品試験器、ケーブルハーネス試験器、電気安全試験器、抵抗試験器、パワーエレクトロニクス試験器、データ取得・レコーダ、デジタルマルチメータ、その他の計測器、アクセサリ、ソフトウェア製品が含まれます。品質管理システムと製品製造・品質保証チームを組み合わせ、統一された品質基準を満たすとともに、測定効率と製品品質の向上を目指す測定ソリューションを提供しています。Tonghuiは直販、代理店、ネット販売を組み合わせた多層的マーケティングシステムを採用し、中国20以上の省・市にアフターサービス体制を構築しています。海外マーケティング体制は北米、欧州、東南アジア、南アジアをカバーし、世界の顧客と国際的な同業者との交流を支えています。Tonghuiは2015年にNational Equities Exchange and Quotationsへ上場し、株式コードは833509です。
展示製品
製品分野には、部品パラメータ試験器、微弱信号試験器、パワーエレクトロニクス試験器、半導体試験器、安全・線材試験器、集積回路教育実験プラットフォーム、自動試験システムATE、計測器アクセサリが含まれます。半導体向け製品には、ウエハのC-V特性分析に使用できるSemiconductor C-V Characteristic Analyzerがあります。製品ポートフォリオにはSemiconductor C-V Analyzer、Impedance Analyzer、Benchtop/Handheld LCR Meter、DC Bias Current Source、Automatic Transformer Test system、Precision Source Measurement Unit、Low Noise Precision Power Supply、DC Resistance Meter、Insualtion Resisitance Meter、Battery Tester、Digit Multimeter、AC/DC Power Supply、Bidirectional DC Power Supply、DC Electronic Load、Power Meter、Multifunction Safety Compliance Analyzer、Impluse Winding Tester、Cable / Harness Meter、Hipot Tester、Ground Bond Testerも含まれます。TH511/TH512/TH513 Semiconductor C-V Characteristic Analyzerは1kHz-2MHzに対応し、Ciss、Coss、Crss、Rgを測定し、Vgsは+/-40V、Vdsは200V/1500V/3000V、構成により1～6 channelsに対応します。TH511/TH512/TH513は10.1-inch静電容量式タッチスクリーン、1280*800解像度、Linux、dual-CPU構成、最短0.56msのLCR試験速度、spot test、list scan、オプションのgraphic scan、Ciss/Coss/Crss/Rg同時表示、CVおよびCiss-Rg曲線スキャン、LCR + VGS低電圧源 + VDS高電圧源 + channel switching + PCの統合設計を備えます。標準2-channel構成は2デバイスまたはデュアルチップデバイスを同時試験でき、6 channelsまで拡張可能で、急速充電によりコンデンサ充電時間を短縮して高速試験を支援し、自動遅延設定、VGS 0～±40VとVDS 0～200V/1500V/3000VのHigh Bias、10-bin sortingも備えます。用途には、ダイオード、トライオード、MOSFET、IGBT、サイリスタ、integrated circuits、optoelectronic chipsなどの半導体・パワー部品の寄生容量試験とC-V特性分析、ウエハC-V特性分析、液晶材料の弾性定数分析、コンデンサおよび容量センサのC-V試験・分析が含まれます。試験レベル電圧範囲は5mVrms-2Vrms、Vgsは0～±40V、Vdsは0～200V/1500V/3000V、出力インピーダンスは100Ω ±2%@1kHz、OPEN/SHORT/LOAD校正、1～32回の平均化、AD変換は5kHz超でFast+ 0.56msからSlow 220msまでを備えます。Ciss/Coss/Crssの測定範囲は0.00001pF～9.99999F、Rgは0.001mΩ～99.9999MΩで、Multi-Function Parameter List Scanは20 spots、Graphic Scanは最大1001 spotsに対応し、Single/ContinuousトリガとGraphics/files保存を利用できます。コンパレータは10Bin、PASS、FAIL、Toleranceまたはcontinuousのbin mode、0-99999のbin countに対応し、201件の測定結果を一括読出しでき、内部にsetup files、外部USBにtest setup files、screenshots、log filesを保存できます。インターフェースは2つのUSB HOST、USB TMC-USB488とUSB2.0準拠のUSB DEVICE、10/100M Ethernet LAN、HANDLER、RS232C、RS485を備え、60 Minutesの起動ウォームアップ、100-120VAC/198-242VAC・47-63Hz入力、130VA超の消費電力、430*177*405 mm、12kgが含まれます。標準治具・ケーブルにはTH26063B、TH26063C Test Fixture、TH26063D TH510 fixture-control connection cable、TH26063G TH510 Test Extension Cableがあります。
対応領域・製品
- 電子計測機器の研究開発
- 半導体C-V特性アナライザ
- インピーダンスアナライザ
- ベンチトップLCRメータ
- ハンドヘルドLCRメータ
- DCバイアス電流源
- 静電容量計
- 自動トランス試験システム
- インダクタンスDCバイアス試験システム
- 精密ソースメジャーユニット
- 低ノイズ精密電源
- コンデンサ漏れ電流・絶縁抵抗計
- DC抵抗計
- 絶縁抵抗計
- バッテリーテスタ
- デジタルマルチメータ
- デジタルACミリボルトメータ
- AC電源
- DC電源
- 双方向DC電源
- DC電子負荷
- パワーメータ
- 多機能安全規格アナライザ
- インパルス巻線試験器
- ケーブル／ハーネスメータ
- 耐電圧試験器
- 接地導通試験器
- データ収集／レコーダ
- 電子計測機器アクセサリ
- 電子計測機器ソフトウェア
- 半導体・パワー部品の寄生容量・C-V特性分析
- ウエハC-V特性分析
- 液晶材料の弾性定数分析
- コンデンサC-V特性試験・分析
- 容量センサ試験・分析