기본 정보
| 부스 | K3183 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.cmat-tek.com.tw |
회사 소개
Certain Micro Application Technology Inc.는 CMAT라는 이름으로도 소개되며 대만의 반도체 검사 장비 제조업체이자 반도체 테스트 인터페이스 부품 전문 기업입니다. 2006년 6월 설립되어 반도체 검사 장비와 테스트 소재, 공구, 장비 부품, 웨이퍼 테스트용 Probe Card 부품을 개발합니다. 고객 범위는 IC 설계, 제조, 패키징, 테스트, 광전자 테스트 기업을 포함해 검사 장비와 인터페이스 부품 역량을 반도체 생산 및 시험의 여러 단계와 연결합니다. 정밀 구조 부품 제조 역량을 기반으로 반도체 산업에 필요한 특정 테스트 소재, 계측기, 장비 부품을 개발합니다. 고객 만족과 성공을 업무 평가 기준으로 삼고 고객 요구에 맞춘 완전한 맞춤 제조를 제공해 서로 다른 테스트 인터페이스와 반도체 고객의 정밀 부품 요구에 대응합니다. 검사 장비 제조와 테스트 인터페이스 부품 전문성을 결합해 검사 시스템 자체의 요구뿐 아니라 반도체 소자의 전기 시험에 필요한 정밀 부품 요구도 함께 지원합니다.
전시 제품
CMAT는 반도체 검사 장비를 제조하고 반도체 테스트 소재, 공구, 장비 부품을 개발하며 웨이퍼 테스트용 Probe Card 부품을 제조합니다. 정밀 구조 부품 제조 역량으로 반도체 응용용 테스트 소재, 계측기, 장비 부품을 개발하고 고객 요구에 맞춰 맞춤 제조합니다. 첨단 공정 테스트에는 Probe Card 핵심 부품에 사용되는 세라믹 가이드 플레이트의 미세 홀 가공 서비스를 제공합니다. 장기간 축적한 공정 기술 연구개발과 생산 경험을 활용해 고객이 요구하는 규격에 맞게 미세 홀 가공을 조정합니다. 사용 가능한 소재는 세라믹, 실리콘 나이트라이드, 가공 가능한 유리 미세결정 세라믹 및 관련 소재입니다. 원형 홀, 사각 홀, 단차 홀, 테이퍼 홀을 제작해 고객이 사용하는 여러 프로브 형식에 세라믹 가이드 플레이트를 맞출 수 있습니다. 세라믹 가이드 플레이트는 첨단 공정 테스트용 Probe Card의 핵심 부분이므로 미세 홀 가공 역량은 정밀 구조 제조를 웨이퍼 테스트 인터페이스 요구와 직접 연결합니다. 검사 장비 제조, 테스트 소재 및 공구 개발, 장비 부품 공급, Probe Card 부품 제조, 맞춤 미세 홀 가공을 결합해 장비와 핵심 테스트 인터페이스 부품을 아우릅니다. 여러 홀 형상과 다양한 세라믹 계열 소재를 지원하므로 미세 홀 가공 서비스는 첨단 공정 Probe Card에서 고객이 선택하는 서로 다른 프로브 구성에 맞춰 홀 형상, 소재 조건, 가공 내용을 세부적으로 조정할 수 있습니다.
역량 및 제품
- 반도체 검사 장비 제조
- 반도체 테스트 재료 및 공구 개발
- 반도체 장비 부품 개발
- 웨이퍼 테스트용 Probe Card 부품 제조
- Probe Card용 세라믹 가이드 플레이트 미세 홀 가공
- 원형·사각·단차·테이퍼 미세 홀 가공