基本情報
| ブース | K3183 |
| 国 | TW |
| ウェブサイト | www.cmat-tek.com.tw |
会社概要
Certain Micro Application Technology Inc.はCMATとしても展開し、台湾の半導体検査装置メーカーであると同時に、半導体テストインターフェース部品を専門としています。2006年6月に設立され、半導体検査装置、テスト材料、工具、装置部品、ウェハテスト用Probe Card部品を開発します。顧客はIC設計、製造、パッケージング、テスト、オプトエレクトロニクステスト分野に及び、検査装置とインターフェース部品の能力を半導体生産・試験の複数段階へつなげています。精密構造部品の製造能力を基盤とし、半導体産業で必要な特定のテスト材料、計測機器、装置部品を開発します。顧客満足と顧客の成功を業務評価の基準とし、顧客要求に合わせた全面的なカスタム製造を行い、異なるテストインターフェースと半導体顧客の精密部品要求に対応します。検査装置製造とテストインターフェース部品の専門性を組み合わせることで、検査システムそのものだけでなく、半導体デバイスの電気試験で必要となる精密部品にも対応できます。
展示製品
CMATは半導体検査装置を製造し、半導体テスト材料、工具、装置部品を開発するとともに、ウェハテスト用Probe Card部品を製造します。精密構造部品の製造能力を用いて半導体用途のテスト材料、計測機器、装置部品を開発し、顧客ニーズに合わせたカスタム製造を行います。先端プロセステスト向けには、Probe Cardの重要部位に使われるセラミックガイドプレートの微細穴加工サービスを提供します。長年にわたるプロセス技術の研究開発と生産経験を生かし、顧客が必要とする仕様に合わせて微細穴加工を提供します。材料にはセラミックス、窒化ケイ素、機械加工可能なガラス微結晶セラミックス、および関連材料を使用できます。丸穴、角穴、段付き穴、テーパー穴などを加工し、顧客が使用する異なるプローブ形状にガイドプレートを対応させます。セラミックガイドプレートは先端プロセステスト用Probe Cardの重要部品であり、微細穴加工能力によって精密構造製造とウェハテストインターフェース要求を直接結び付けます。検査装置製造、テスト材料・工具開発、装置部品供給、Probe Card部品製造、カスタム微細穴加工を組み合わせ、装置と重要テストインターフェース部品の両方をカバーします。複数の穴形状と複数のセラミック系材料に対応するため、微細穴加工サービスは先端プロセス用Probe Cardで顧客が選択するさまざまなプローブ構成に合わせて穴形状、材料条件、加工内容を細かく調整できます。
対応領域・製品
- 半導体検査装置製造
- 半導体テスト材料・工具開発
- 半導体装置部品開発
- ウェハテスト用Probe Card部品製造
- Probe Card用セラミックガイドプレート微細穴加工
- 丸穴・角穴・段付き穴・テーパー穴の微細加工