基本情報
| ブース | N0491 |
| ウェブサイト | awesometeamtw.wixsite.com/homepage |
会社概要
Awesome-Team Co., Ltdは台湾の光学測定技術企業です。同社は2015年に設立され、半導体および先進パッケージング工程向けの測定技術に注力しています。技術の中心は、先進的な光学非接触測定と光透過測定です。非破壊測定では、光学ハードウェア、測定アルゴリズム、ソフトウェアプラットフォームを測定システム全体の構成要素として扱っています。同社は顧客の用途と要件に応じて半導体測定技術を開発・提供するとしています。その顧客対応には、固定構成だけでなくカスタム光学モジュールの提供も含まれます。顧客の測定用途と要件に合わせたカスタムソフトウェアも提供しています。Awesome-Team Co., Ltdは、半導体および先進パッケージング工程の非破壊測定向けに、先進的な光学非接触・透過測定技術を掲げています。カスタマイズは光学モジュールとソフトウェアの両方を対象とし、顧客が示す用途と要件に測定構成を合わせられます。
展示製品
Awesome-Teamの測定システムは、ウェハ薄化厚さ、表面粗さ、薄膜の測定を含みます。AT-S300は同社の製品群に含まれる光学ウェハ測定システムです。AT-S300はウェハ層厚を測定し、より広い測定システムの範囲にはウェハ薄化厚さの測定も挙げられています。同システムは薄膜測定も明示された光学測定機能の一つとして備えています。表面粗さ測定もAT-S300の機能として挙げられており、同社のより広い測定システム範囲にも含まれます。AT-S300には、層厚、薄膜、表面粗さの測定機能と並んで、ウェハ反り測定も挙げられています。AT-S300の測定機能には、ウェハ層厚、薄膜、表面粗さ、ウェハ反りと並んでプロファイルマップも挙げられています。さらにPLP molding layer厚を測定し、光学測定製品群をパッケージング関連構造にも対応させています。これらのAT-S300機能は、光学、アルゴリズム、ソフトウェアを組み合わせ、先進パッケージングと半導体プロセスの非破壊測定を行う同社の技術体系の中に位置づけられます。ウェハ薄化厚さと、別に挙げられたAT-S300のウェハ層厚は、製品群における2つの明示された厚さ測定対象です。表面粗さ、薄膜、ウェハ反り、プロファイルマップにより、同じ光学プラットフォームは厚さ以外にも複数の異なる測定対象を持ちます。PLP molding layer測定は、AT-S300のウェハ向け機能に、明確にパッケージング関連の層厚測定を加えます。厚さ、表面、反り、マッピング、molding layerの各測定が、光学ウェハ測定プラットフォームの明示された用途範囲を構成します。
対応領域・製品
- カスタム光学モジュール・ソフトウェア
- ウェハ薄化厚さ測定システム
- 表面粗さ測定システム
- 薄膜測定システム