기본 정보
| 부스 | K2776 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.winwayglobal.com |
회사 소개
WinWay Technology Co., Ltd.는 2001년 4월 대만 가오슝에서 설립되었으며 IC 테스트 인터페이스 공급업체로 운영됩니다. 반도체, 광학, 정보기술, 광전자 분야를 서비스하며 고객을 비즈니스 파트너로 보는 서비스 지향 기업이라고 설명합니다. 테스트 인터페이스 역량은 맞춤 설계, 기술 및 제조 관리, 전략적 사업 협력, 공급망 통합을 결합합니다. 회사는 첨단 기술이 고객의 제품 품질, 수율, 비용 효율, 제조 효율을 향상시키는 데 기여한다고 밝힙니다. ISO 9001과 ISO 14001 인증을 보유하고 있으며 생태 이슈와 오염 저감에 지속적으로 주의를 기울여 지속가능한 발전을 추진합니다. 본사는 대만 가오슝에 있고 대만 신주와 중국 쑤저우에 추가로 두 개의 공장을 운영합니다. 고객의 제조 요구와 신속한 지원을 위해 대만, 중국, 미국에 영업 및 서비스 사무소를 두고 전 세계 사무소와 유통·대리점 네트워크를 계속 확장하고 있습니다. 품질 정책은 우수한 품질의 제품과 세계적 수준의 서비스를 통해 전문적 이미지를 구축하는 것이며 운영 원칙은 혁신, 품질, 서비스를 강조합니다.
전시 제품
WinWay는 wafer-level testing, package-level testing, thermal management를 포괄하는 반도체 테스트 인터페이스 솔루션을 제공합니다. ATC는 능동 온도 제어 장치로 시험 중 열전 칩을 사용하여 빠른 온도 응답과 정밀하고 효율적인 온도 제어를 제공합니다. ATC는 양산 시험과 엔지니어링 시험에 사용할 수 있고 넓은 온도 범위, sorting machines, I/O interface communications를 지원합니다. ATC의 제어 회로는 최적화되어 있으며 회사는 시장의 유사 제품보다 긴 수명과 낮은 유지보수 비용을 제공한다고 설명합니다. HEATCon Titan은 고효율 능동 온도 제어 솔루션으로 고출력 가열 능력과 선형 유량 제어를 통해 온도 제어 안정성을 제공합니다. HEATCon에는 leakage, protection, 수류 중단 알림 같은 보호 메커니즘이 있으며 원격 운전과 독립 제어를 지원하여 엔지니어링 검증과 양산 요구에 대응합니다. E-Flux는 refrigeration cycle system 기반의 능동 온도 컨트롤러로 고출력 IC 시험에서 정밀 온도 제어에 사용되며 주로 엔지니어링 시험용입니다. E-Flux는 최대 1,500W 장치와 넓은 온도 범위를 지원하고 GUI는 RS-232와 Ethernet을 지원하여 PC 원격 제어로 현장 온도 조절 시간을 줄입니다. Chiller는 반도체 및 정밀기계 산업용 청정수 냉각 장치이며 최대 제어 전력은 공랭식 2,000W, 수랭식 7,000W입니다. 온도는 ±0.1°C까지 정밀 제어하고 터치형 HMI를 통해 온도, 유량, 경고 메시지, 파라미터 평가를 제공합니다. 순환액의 이물질을 제거하는 필터, 온도·압력·누설·저유량 센서를 내장하고 원격 제어 및 운전을 지원하여 실험실과 양산 환경에 사용할 수 있습니다. Change Over Kit은 일반적인 IC testing sorters에 사용할 수 있고 7 x 7mm에서 77.5 x 77.5mm까지 IC 크기를 지원하며 표면 정전기 방지 코팅의 표면 저항률은 106~9 ohms입니다. Plunger는 1헤드, 2헤드, 4헤드 반자동 시험 설계로 맞춤화할 수 있고 공압 실린더를 이용해 큰 하중을 제공하여 대형 패키지 IC의 엔지니어링 시험에 적합합니다. Universal Manual Lid는 실험실 및 엔지니어링 배치 시생산에 사용되며 다양한 IC 크기와 패키지 형식에서 안정된 접촉과 초기 검증 요구를 지원합니다. ATC, HEATCon Titan, E-Flux, Chiller, Change Over Kit, Plunger, Manual Lid은 IC 테스트 인터페이스 공급을 기계적 인터페이스 하드웨어에서 능동 열관리와 시험 지원 기능까지 확장합니다.
역량 및 제품
- IC 테스트 인터페이스 공급
- 맞춤형 IC 테스트 인터페이스 설계
- 웨이퍼 레벨 테스트 인터페이스
- 패키지 레벨 테스트 인터페이스
- 반도체 테스트 열관리
- 열전 칩 능동 온도 제어 유닛
- 고출력 가열 능동 온도 제어
- 1,500W 고출력 IC 능동 온도 제어
- ±0.1°C 반도체 청수 칠러
- 7×7–77.5×77.5mm IC 테스트 전환 키트
- 1/2/4헤드 반자동 테스트 플런저
- IC 엔지니어링 시생산용 범용 수동 리드