基本情報
| ブース | I2001 |
| 国 | TW |
| ウェブサイト | www.teo.com.tw |
会社概要
Titan Electro-Optics Co., Ltdは1987年に設立され、科学研究、工業生産、製造に密接に関わる精密光学計測および光電機器の代理販売とシステムインテグレーションを行う総合サービス会社です。同社は台北市の南港ソフトウェアパークに拠点を置き、海外の光電機器、装置、システムメーカー100社以上を取り扱っています。製品群は幅広い光学・光電分野に及び、同社はこれらの取扱製品を各分野で技術をリードする製品と説明しています。
展示製品
witec360 共軛焦ラマン顕微鏡は Oxford Instruments が数十年にわたり蓄積したラマン顕微鏡の工学的専門知識を基盤とし、学術研究、産業研究・QC、コアファシリティ向けの高性能な研究用、モジュール式、カスタマイズ可能なラマンイメージングシステムです。witec360 は単一スペクトルを 1 ミリ秒未満で取得でき、Hexalight 分光器は UV 励起から NIR まで 350 から 1100 nm をカバーし、独自のレンズ式設計で広帯域動作を実現します。Hexalight は最大6枚の回折格子を搭載して自動切替でき、Olaf-Hollricher-Design レンズと誘電体ミラーで信号強度とスペクトル形状を高め、光ファイバー結合により真の共焦点性、コントラスト、深さ選択性、空間分解能を支えます。システムは PL、AFM、SHG、profilometry、SEM を統合でき、Raman-AFM 統合ではラマンの化学情報と形状、付着性、剛性などナノスケール表面特性を相関させます。共焦点ラマンイメージングは非破壊、無標識、分子特異的で、532 nm、100x 0.9 NA 対物レンズ使用時に回折限界へ達し、横方向分解能は通常 300 nm 未満、軸方向分解能は 950 nm 未満です。深さ分解能と共焦点特性により試料を破壊せずに表面下構造を可視化して半導体、ポリマー、コーティングの多層分析に利用でき、低周波ラマンモードは 10 cm⁻¹ まで対応して graphene や MoS₂ など 2D 材料の層数識別に用いられます。TrueSurface™ はラマン顕微鏡に統合された光学プロフィロメーターを用いて粗い試料や曲面試料を表面形状ガイド付き共焦点ラマンイメージングし、RISE 顕微鏡は共通真空チャンバー内で SEM、EDS、ラマンイメージングを組み合わせて表面構造と化学組成を相関分析します。ソフトウェアは自動ワークフロー、自動校正、ユーザー管理を支援し、ParticleScout™ は粒子探索、ラマンスペクトル取得、化学・物理特性による分類を自動化し、TrueMatch™ はラマンスペクトルデータベースを管理して化合物を識別します。材料科学用途にはラマンピークシフトによる高分解能の応力・ひずみマッピング、結晶品質と材料転移のマッピング、熱コーティングと材料故障解析、半導体 metrology、多層分析、欠陥および介在物検出が含まれます。生命科学用途には非破壊 2D・3D 化学イメージング、細胞小器官、脂質、タンパク質、核酸の無標識 3D イメージング、神経変性マーカー検出、薬物送達追跡、悪性・健常細胞構造の識別支援が含まれます。製薬・QC 用途には錠剤、ゲル、乳剤中の API 分布と均一性の高分解能イメージングおよび地形解析、ならびに剤形の溶解性とバイオアベイラビリティに関係するラマンベースの多形識別と分布マッピングが含まれます。より広い分光製品群にはラマン、蛍光、ハイパースペクトルイメージング、フォトルミネッセンスおよびエレクトロルミネッセンスのハイパースペクトルイメージング、真空紫外分光、量子効率試験、THz 分光、UV 材料分析、半導体ウェハ検査、磁気光学角度分解測定、光源、分光器、サンプル室、検出器、小型分光器、関連アクセサリーが含まれます。イメージング・検査製品には産業用カメラ、AOI 検査、USB 2.0・USB 3.0 カメラ、Gigabit Ethernet・HD-SDI カメラ、高速度撮影、赤外線温度計測・熱画像、InGaAs・CMOS イメージング、X-Ray・研究用カメラ、EMCCD、冷却 CCD、sCMOS、イメージインテンシファイア CCD・sCMOS、InGaAs・MCT カメラ、X-Ray 検査部品、CT、偏光カメラ、カメラ特性測定システム、複屈折測定が含まれます。レーザー・加工製品にはレーザー出力・エネルギー測定、ビーム解析・波長測定、IPG ファイバーレーザー、パルス・連続ファイバーレーザー、気体・固体レーザー、ナノ秒・超高速レーザー、OPO・色素レーザー、レーザー安全製品、補償光学、レーザースキャナー・加工ヘッド、彫刻、切断、溶接、被覆除去、洗浄装置、Beam Expanders、アッテネーター、スキャンレンズ、赤外光学部品、レーザー消耗品が含まれます。その他の計測・研究製品には輝度、色度、照度、放射測定、AR / VR / MicroLed 光学測定、積分球・LED 遠視野/近視野システム、自動光学試験、微弱信号計測器、ロックインアンプ・プリアンプ、遅延発生器、フォトンカウンター、多チャンネルデータ収集、真空・残留ガス計測、プロセス監視、周波数・時間計測、信号発生器、FFT・LCR 計測器、電気化学・分析機器、低温システム、磁気測定、生体医療機器が含まれます。光学部品・フォトニクス製品にはフォトダイオード・光受信器、silicon、InGaAs、GaAs、germanium、InAs、PbS、PbSe、InSb、MCT 検出器、回折格子、誘電体・金属光学部品、Diffractive Optical Elements、ビーム整形・集光光学部品、レンズ、フィルター、WGP ワイヤーグリッド偏光子、ナノインプリント金型、Microlens arrays、Photonic Band Gap・Meta structures、Microfluidics、graphene、コーティング材料、ナノ粒子、量子ドット蛍光材料、LD レーザーダイオード、LED、TEM GRIDS、光学結晶が含まれます。位置決め・計測製品には電動・手動精密ステージ、直線、昇降、回転、揺動、アライメント、多軸ステージ、光学テーブル・防振台、光学マウント、ピエゾ・ナノ位置決めステージ、リニア・マイクロステッピングステージ、花崗岩リニアモーションステージ、POSITIONING HEXAPODS、MOTION HEXAPODS、顕微鏡ステージ・コントローラー、平面走査顕微鏡、3D 測定、静電容量式変位測定、Laser Fizeau 干渉計、非接触光学測定、磁場走査顕微鏡、膜厚測定、エリプソメトリー、プリズムカップリング、干渉式膜厚測定が含まれます。
対応領域・製品
- 精密光学計測・光電機器の代理販売およびシステムインテグレーション
- 共焦点ラマン顕微鏡の供給
- ラマン分光システムの供給
- 蛍光分光システムの供給
- ハイパースペクトルイメージングシステムの供給
- 半導体ウェハ検査システムの供給
- AOI検査装置の供給
- X-Ray検査・CT装置の供給
- レーザー出力・エネルギー測定装置の供給
- レーザー加工装置の供給
- AR/VR/MicroLed光学測定システムの供給
- 残留ガス分析計の供給
- フォトダイオード・検出器の供給
- 回折光学素子の供給
- 精密位置決めステージの供給
- 3D非接触光学測定装置の供給
- 光学膜厚測定・エリプソメータの供給
- 表面形状ガイド付き共焦点ラマンイメージング
- フォトルミネッセンス・ハイパースペクトルイメージングシステムの供給
- エレクトロルミネッセンス・ハイパースペクトルイメージングシステムの供給
- 真空紫外分光システムの供給
- 量子効率試験システムの供給
- THzテラヘルツ分光システムの供給
- UV材料分析システムの供給
- 磁気光学角度分解測定システムの供給
- 重水素/キセノン/タングステンハロゲン光源の供給
- 可変単色光源の供給
- 複合光源の供給
- LED光源の供給
- 分光器/モノクロメータの供給
- サンプル室の供給
- 単一点検出器の供給
- アレイ検出器の供給
- 小型分光器の供給
- 産業用カメラの供給
- 高速度撮影装置の供給
- 赤外線温度計の供給
- 赤外線サーモグラフィカメラの供給
- X-Rayカメラの供給
- 研究用カメラの供給
- 微弱光検出装置の供給
- ストリークカメラの供給
- 顕微鏡カメラの供給
- EMCCDカメラの供給
- 深冷却CCDカメラの供給
- sCMOSカメラの供給
- 高エネルギーX-Rayカメラの供給
- イメージインテンシファイアCCDカメラの供給
- イメージインテンシファイアsCMOSカメラの供給
- InGaAsカメラの供給
- MCTカメラの供給
- カメラレンズの供給
- 校正標準片の供給
- X-Ray光源の供給
- X-Rayセンサの供給
- X-Ray Windowの供給
- 偏光カメラの供給
- カメラ特性測定システムの供給
- 複屈折測定システムの供給
- レーザー出力検出ヘッドの供給
- レーザーエネルギー検出ヘッドの供給
- 出力/位置/サイズ検出器の供給
- レーザービームM2測定装置の供給
- レーザー波長計の供給
- パルスファイバーレーザーの供給
- グリーンファイバーレーザーの供給
- UVファイバーレーザーの供給
- QCW準連続ファイバーレーザーの供給
- 連続発振ファイバーレーザーの供給
- 気体レーザーの供給
- ヘリウムカドミウムレーザーの供給
- ヘリウムネオンレーザーの供給
- 窒素レーザーの供給
- エキシマレーザーの供給
- CO2レーザーの供給
- 固体レーザーの供給
- ナノ秒レーザーの供給
- 超高速レーザーの供給
- ダブルパルスレーザーの供給
- OPOレーザーの供給
- 高エネルギーパルスレーザーの供給
- 色素レーザーの供給
- 白色光レーザーの供給
- 近/中赤外レーザーの供給
- レーザー保護メガネの供給
- レーザー保護窓の供給
- レーザー保護カーテンの供給
- レーザー保護バリアの供給
- 溶接検査システムの供給
- 補償光学システムの供給
- 波面計の供給
- 可変形ミラーの供給
- レーザーガルバノスキャナの供給
- レーザー加工ヘッドの供給
- レーザー彫刻機の供給
- レーザー深彫り機の供給
- レーザー切断機の供給
- 非金属レーザー切断機の供給
- UVレーザー彫刻機の供給
- 超高速レーザー加工機の供給
- エキシマレーザー加工機の供給
- レーザー溶接機の供給
- レーザー剥線機の供給
- レーザークリーニング機の供給
- Beam Expandersの供給
- アッテネーターの供給
- スキャンレンズの供給
- 赤外光学レンズの供給
- 輝度/色度/照度計の供給
- 角度/視野角光学測定装置の供給
- 積分球測定システムの供給
- LED遠視野/近視野測定システムの供給
- 自動光学試験システムの供給
- 均一光源/校正光源の供給
- 反射/透過式ヘイズメータの供給
- ロックインアンプの供給
- プリアンプの供給
- 遅延発生器の供給
- シャッター/光チョッパの供給
- ゲート積分器の供給
- フォトンカウンタの供給
- 多チャンネルデータ収集システムの供給
- 真空計/コントローラの供給
- 大気分析システムの供給
- プロセス監視システムの供給
- 周波数標準の供給
- 時間間隔/周波数カウンタの供給
- RF信号発生器の供給
- オーディオアナライザの供給
- 信号発生器の供給
- クロック発生器の供給
- FFTアナライザの供給
- LCRメータの供給
- 熱電対モニタの供給
- ポテンショスタットの供給
- 微量天秤の供給
- 融点測定器の供給
- 二成分ガス分析計の供給
- Cryostat低温クライオスタットの供給
- 低温プローブステーションの供給
- 露光装置の供給
- 磁気測定システムの供給
- プラー装置の供給
- NMR核磁気共鳴分析計の供給
- 粉末測定装置の供給
- フェムト秒パルスレーザーの供給
- ピコ秒パルスレーザーの供給
- パルスレーザーダイオードの供給
- EDFAアンプの供給
- YDFAアンプの供給
- EYDFAアンプの供給
- 光変調器の供給
- SOA・ラマンアンプの供給
- 光受信器の供給
- シリコンフォトダイオードの供給
- InGaAsフォトダイオードの供給
- GaAsフォトダイオードの供給
- ゲルマニウム検出器の供給
- InAs検出器の供給
- PbS検出器の供給
- PbSe検出器の供給
- InSb検出器の供給
- MCT検出器の供給
- 広帯域光検出器の供給
- PSD位置センサの供給
- 単一光子システムの供給
- 微弱光・X-Ray検出器の供給
- 光電子増倍管の供給
- 振動センサの供給
- 透過型回折格子の供給
- 誘電体光学部品の供給
- 金属光学部品の供給
- ビーム整形光学素子の供給
- ビームスプリッタの供給
- 集光光学素子の供給
- レンズの供給
- ファイバーエンドキャップの供給
- アキシコンの供給
- 光学フィルタの供給
- UVフィルタの供給
- WGPワイヤーグリッド偏光子の供給
- ナノインプリント金型の供給
- Microlens arraysの供給
- Blazed gratingsの供給
- Slanted Gratingsの供給
- Photonic Band Gap構造の供給
- Meta structuresの供給
- Microfluidics部品の供給
- 吸光フィルムの供給
- グラフェン材料の供給
- XRF厚さ標準片の供給
- コーティング材料の供給
- 高反射材料の供給
- ナノ粒子の供給
- ガス検出器の供給
- 中赤外部品の供給
- 色素/蛍光剤の供給
- 量子ドット蛍光材料の供給
- 小型固体光源の供給
- LDレーザーダイオードの供給
- LED発光ダイオードの供給
- ライトガイド光源装置の供給
- 特殊/レーザーガスの供給
- TEM GRIDSの供給
- 光学結晶の供給
- 電動精密位置決めステージの供給
- 電動リニアステージの供給
- 電動昇降ステージの供給
- 電動回転ステージの供給
- 電動揺動ステージの供給
- アライメントステージの供給
- 多軸位置決めシステムの供給
- コントローラ・ドライバの供給
- 手動精密位置決めステージの供給
- 光ファイバー用位置決めステージの供給
- 光学テーブル板の供給
- 減衰防振台の供給
- 空気浮上防振台の供給
- 卓上防振台の供給
- ミラー/ビームスプリッタマウントの供給
- レンズマウントの供給
- 偏光素子マウントの供給
- フィルタホルダの供給
- プリズム/円筒マウントの供給
- 空間フィルタ製品の供給
- ピエゾナノ位置決めステージの供給
- リニアレールステージの供給
- マイクロステッピングモーターステージの供給
- 花崗岩リニアモーションステージの供給
- スチュワート6軸プラットフォームの供給
- POSITIONING HEXAPODSの供給
- MOTION HEXAPODSの供給
- 顕微鏡ステージの供給
- 自動フィードバック制御システムの供給
- 平面走査顕微鏡・部品の供給
- 静電容量式変位計の供給
- Laser Fizeau干渉計の供給
- 非接触フーリエ走査顕微鏡の供給
- 磁場走査顕微鏡の供給
- エリプソメータの供給
- 反射式膜厚計の供給
- プリズムカップラの供給
- 干渉式膜厚計の供給