基本資料
| 攤位 | I2001 |
| 國別 | TW |
| 產品分類 | PV: Modules · Cutting; Drilling; Laser ablation; Beveling Equipment · Welding Equipment · Film Thickness; Thickness; Uniformity Measurement; Ellipsometer · Microscopes: Confocal Scanning Microscope; 3-D Video Microscopes · Microscopes: Optical Microscopes · Spectrometers; Fourier Transform Infrared (FTIR); Attenuated Total Reflectance FTIR (ATR-FTIR); Auge |
| 網站 | www.teo.com.tw |
公司簡介
先鋒科技股份有限公司創立於1987年，至今已超過數十年，是專業從事光電產業相關領域內與科研、工業生產、製造等環節密切相關的精密光學量測光電儀器代理與系統整合業務的綜合性服務公司，公司座落於台北市南港軟體園區。 先鋒代理的國外光電儀器、設備及系統生產商超過100家，產品內容豐富，均為各自領域內的技術領先產品。
展出產品
witec360 是 Oxford Instruments 累積數十年拉曼顯微鏡工程專業知識的成果，為學術研究、工業研發與品管 (Industrial Research & QC) 以及核心設施 (Core facilities) 樹立了新標竿。它不僅是高性能的研究級拉曼成像系統，更是模組化、可客製化且面向未來的解決方案。 •無限的關聯潛力： 輕鬆整合多種技術，包括 PL (光致發光)、AFM (原子力顯微鏡)、SHG (二次諧波產生)、輪廓測量 (profilometry) 和 SEM (掃描電子顯微鏡)，提供最全面的樣品洞察。 • 卓越的空間解析度： 達到繞射極限 (diffraction-limited)，橫向解析度通常小於 300 奈米，軸向解析度小於 950 奈米 (使用 532 nm, 100x 0.9 NA 物鏡)。 • 深層洞察： 卓越的深度解析度和共軛焦特性，能夠在不破壞樣品的情況下揭示次表面結構，適用於半導體、聚合物和塗層的多層分析。 • 低頻拉曼分析： 支援低至 10 cm⁻¹ 的低頻拉曼模式，對於 2D 材料（如石墨烯或 MoS₂）的層數識別至關重要。 • TrueSurface™ 顯微鏡 (表面形貌引導成像)： 這項專利技術利用集成在拉曼顯微鏡內的先進光學輪廓儀，實現由表面形貌引導的共軛焦拉曼成像。這對於獲取粗糙或彎曲樣品（例如岩石、藥片）的清晰圖像至關重要。 • RISE 顯微鏡 (Raman Imaging and Scanning Electron)： 在通用真空室中結合了 SEM、EDS 和拉曼成像，為樣品提供超結構表面特性和化學成分的全面關聯分析。 A. 材料科學 (Materials Science) 關鍵字：應力分析, 缺陷偵測, 2D材料 • 應力/應變分析： 偵測細微的拉曼峰位移，用於應力場、晶體品質、材料轉變的高解析度繪圖，對熱塗層性能和材料失效分析至關重要。 • 半導體與塗層： 進行半導體計量學 (metrology)、多層分析以及缺陷與內含物偵測。 witec360 不僅是一台儀器，它是一個靈活的生態系統 (flexible ecosystem)，能夠適應您不斷變化的實驗需求，並確保您獲得最大的分析洞察。立即 聯絡我們 ，客製化您的下一代拉曼平台！
能力與產品項目
- 光電系統整合
- 用於工業生產的精密光學量測系統
- 精密光學量測儀器
- 電光儀器、設備與系統