先鋒科技股份有限公司

SEMICON Taiwan 2026 參展廠商 · 攤位 I2001

攤位 I2001國別 TW53 個產品主題
展會資訊

基本資料

攤位I2001
國別TW
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展商資料

公司簡介

先鋒科技股份有限公司創立於 1987 年,是從事精密光學量測與光電儀器代理及系統整合業務的綜合性服務公司,相關領域與科研、工業生產及製造環節密切相關。公司位於台北市南港軟體園區,代理超過 100 家國外光電儀器、設備與系統生產商。產品範圍涵蓋多種光學與光電領域,公司將這些代理產品描述為各自領域內的技術領先產品。

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展出產品

witec360 共軛焦拉曼顯微鏡以 Oxford Instruments 累積數十年的拉曼顯微鏡工程專業知識為基礎,面向學術研究、工業研發與品管及核心設施,作為高性能、研究級、模組化且可客製化的拉曼成像系統。witec360 的單一光譜採集時間可低於 1 毫秒,Hexalight 光譜儀則涵蓋從 UV 激發到 NIR 的 350 至 1100 nm,並採用專有透鏡式設計以實現寬頻運作。Hexalight 最多可安裝六個光柵並自動切換,採用 Olaf-Hollricher-Design 透鏡與電介質反射鏡以提升訊號強度與光譜形狀,並透過光纖耦合支援真正的共軛焦性、對比度、深度選擇性與空間解析度。系統可整合 PL、AFM、SHG、profilometry 與 SEM,Raman-AFM 整合則將拉曼化學資訊與形貌、黏附性及剛度等奈米尺度表面特性關聯。其共軛焦拉曼成像為無損、無標記且具分子特異性的分析工具,在使用 532 nm、100x 0.9 NA 物鏡時,可達到繞射極限,橫向解析度通常小於 300 奈米、軸向解析度小於 950 奈米。其深度解析度與共軛焦特性可在不破壞樣品的情況下揭示次表面結構,用於半導體、聚合物與塗層的多層分析;低頻拉曼模式可低至 10 cm⁻¹,用於石墨烯與 MoS₂ 等 2D 材料的層數識別。TrueSurface™ 利用整合在拉曼顯微鏡內的光學輪廓儀,對粗糙或彎曲樣品進行表面形貌引導的共軛焦拉曼成像;RISE 顯微鏡則在通用真空室中結合 SEM、EDS 與拉曼成像,進行表面結構與化學成分的關聯分析。軟體支援自動化工作流程、自動校準與使用者管理;ParticleScout™ 可自動尋找顆粒、取得拉曼光譜並依化學與物理屬性分類,TrueMatch™ 則用於管理拉曼光譜資料庫與辨識化合物。材料科學應用包括由拉曼峰位移進行高解析度應力與應變繪圖、晶體品質與材料轉變繪圖、熱塗層與材料失效分析、半導體計量學、多層分析,以及缺陷與內含物偵測。生命科學應用包括無損 2D 與 3D 化學成像、細胞器、脂質、蛋白質與核酸的無標記 3D 成像,以及神經退行性標記偵測、藥物輸送追蹤與惡性及健康細胞結構區分。製藥與品管應用包括對片劑、凝膠或乳液中的 API 分佈與均質性進行高解析度成像和地形分析,以及與劑型溶解度及生物利用度相關的拉曼多晶型物區分與分佈繪圖。更廣泛的光譜產品涵蓋拉曼、螢光、高光譜影像、光致螢光與電致發光高光譜影像、真空紫外光譜、量子效率測試、THz 光譜、UV 材料分析、半導體晶圓檢測、磁光角分辨量測、光源、光譜儀、樣品室、偵測器、微型光譜儀與相關配件。影像與檢測產品包括工業相機、AOI 檢測、USB 2.0 與 USB 3.0 相機、Gigabit Ethernet 與 HD-SDI 相機、高速攝影、紅外線測溫與熱影像、InGaAs 與 CMOS 影像、X-Ray 與科研相機、EMCCD、深致冷 CCD、sCMOS、影像增強 CCD 與 sCMOS、InGaAs 與 MCT 相機、X-Ray 檢測元件、CT、偏振相機、相機特性參數測定系統與雙折射量測。雷射與加工產品包括雷射功率與能量量測、光束分析與波長量測、IPG 光纖雷射、脈衝與連續光纖雷射、氣體與固態雷射、奈秒與超快雷射、OPO 與染料雷射、雷射安全防護產品、自適應光學、雷射振鏡與加工頭,以及雕刻、切割、焊接、剝線與清潔設備,並包括 Beam Expanders、衰減器、掃描鏡頭、紅外鏡片與雷射耗材。其他量測與科研產品包括輝度、色度、照度與輻射度量測、AR / VR / MicroLed 光學量測、積分球與 LED 遠場/近場系統、自動化光學測試、微弱訊號儀器、鎖相放大器與前置放大器、延遲產生器、光子計數器、多通道數據採集、真空與殘餘氣體儀器、製程監控、時間與頻率儀器、訊號產生器、FFT 與 LCR 儀器、電化學與分析儀器、低溫系統、磁性量測與生醫設備。光學元件與光子產品包括光電二極體與光接收器、矽、InGaAs、GaAs、鍺、InAs、PbS、PbSe、InSb 與 MCT 偵測器、光柵、介電質與金屬光學元件、Diffractive Optical Elements、光束整形與聚焦元件、透鏡、濾光片、WGP 線柵偏振片、奈米壓印模具、Microlens arrays、Photonic Band Gap 與 Meta structures、Microfluidics、石墨烯、鍍膜材料、奈米粒子、量子點螢光材料、LD 雷射二極體、LED、TEM GRIDS 與光學晶體。定位與計量產品包括電控與手動精密位移平台、直線、升降、旋轉、擺動、對位與多軸平台、光學桌與隔震平台、光學調整架、壓電與奈米定位平台、線性與微步進平台、花崗岩線性運動平台、POSITIONING HEXAPODS、MOTION HEXAPODS、顯微鏡平台與控制器、平面掃描顯微鏡、3D 量測、電容式位移量測、Laser Fizeau 干涉儀、非接觸式光學量測、磁場掃描顯微鏡、光學膜厚量測、橢偏儀、稜鏡耦合與干涉式膜厚量測。

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