기본 정보
| 부스 | I2300 |
| 국가 | TW |
| 웹사이트 | www.sissca.com/en |
회사 소개
SISSCA Co., Ltd.는 2020년 3월 설립되었으며 PCB 테스트 장비의 연구개발을 전문으로 합니다. 대만을 기반으로 고급 PCB 전기 테스트 및 패키지 기판 검사 장비를 공급하는 기업으로 소개됩니다. 회사는 「precise testing and intelligent manufacturing」을 핵심 철학으로 삼고 HDI, 5G, Mini LED, 자동차 전자 분야의 고급 회로기판을 위한 테스트 솔루션을 제공합니다. SISSCA Co., Ltd.는 지능형 광학 이미지 분석 기술, 고정밀 위치 결정 시스템, AI 기반 통계 알고리즘을 결합해 높은 안정성과 효율을 갖춘 자동 전기 테스트 플랫폼을 구축합니다. 시스템은 표준 테스트 저항값을 자동으로 계산하고 이상 지점을 정확히 식별하며 장비 가동률을 높일 수 있습니다. 또한 테스트 프로브와 PCB 보드 손상 위험을 크게 줄이는 것으로 설명됩니다. 기술 범위에는 전자 시스템, 기구 설계, 광학 기술, 저잡음 4선식 전기 테스트도 포함됩니다. 솔루션은 AI server 보드, 고다층 HDI, CSP 기판, ABF 기판, BT 기판 등 요구 수준이 높은 PCB와 패키지 기판 응용을 대상으로 합니다. 회사는 혁신을 통한 기술적 돌파를 지속해 고객의 수율 향상과 생산 효율 최적화를 지원한다고 설명합니다. 연혁상 2022년 10월 SiGold Technology Co., Ltd.와 AutoVision Co., Ltd.를 인수했고 2022년 12월 Jiangsu Sissca Co., Ltd.에 투자했습니다. 2023년 6월에는 Hsinchu Science Park 입주가 공식 승인되었고, 2025년 12월 Jiangsu SISSCA는 Kunshan Haimei International Intelligent Robotics Industrial Park로 공식 이전했습니다. 회사는 Hsinchu Science Park의 Operation Center와 Jiangsu Province Kunshan City의 Sissca (Jiangsu)를 운영 거점으로 제시해 대만과 중국의 사업 위치를 보여 줍니다. 제품 내비게이션에는 HDI 4W AET, CSP 4W AET, Fixture Probe AOIM이 기재되어 4선식 전기 테스트와 검사 포트폴리오를 구성합니다.
전시 제품
HDI 4W AET는 미세 배선, micro via, 다층 적층 구조의 HDI 기판을 위해 설계되며 휴대전화, 태블릿, 웨어러블 기기 등 고속·고주파 응용에 적합합니다. HDI 테스트에는 FlashTM 3세대 시스템을 사용해 단일 지점 테스트를 매우 짧은 시간에 완료하고 전체 테스트 공정을 크게 단축합니다. CSP 4W AET는 Chip Scale Package (CSP)를 위해 특별히 설계되어 고밀도 핀과 초소형 패키지에 대한 전 공정 검증을 제공합니다. FlashTM 3세대 시스템은 최대 8개 테스트 라인을 동시에 측정해 테스트 효율을 높입니다. Fixture Probe AOIM 치구 프로브 검사기는 자동 광학 검사 시스템이며 AOI 정보를 도입한 전기 테스트 솔루션의 중요한 구성 요소로 제시됩니다. 이 장비는 정밀한 기구 설계와 첨단 광학 기술을 통합하고 엄격하게 관리되는 기준 아래 조립과 생산이 이루어집니다. 자동 광학 검사와 전기 테스트 흐름을 결합해 더 쉽고 빠르며 효과적인 전기 테스트를 지원하는 것이 목적입니다. 추가 공개 제품 설명에는 3세대 Flash 전기 측정 아키텍처, Breakdown voltage warning 기능, AOIn 광학 검사 관련 도구, 치구 pin-by-pin 검사, FAI first-article puncture inspection이 포함됩니다.
역량 및 제품
- PCB 전기 검사 장비 연구개발
- HDI 4선식 자동 전기 검사
- CSP 4선식 자동 전기 검사
- 지그 프로브 자동 광학 검사
- CSP 최대 8개 테스트 라인 동시 측정